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Onsemi NVMFS5C670N N溝道MOSFET:緊湊設(shè)計(jì)下的高性能之選

lhl545545 ? 2026-04-03 17:25 ? 次閱讀
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Onsemi NVMFS5C670N N溝道MOSFET:緊湊設(shè)計(jì)下的高性能之選

電子工程師的日常設(shè)計(jì)中,選擇一款合適的MOSFET至關(guān)重要,它直接影響著整個(gè)電路的性能和穩(wěn)定性。今天我們就來深入了解一下Onsemi的NVMFS5C670N N溝道MOSFET,看看它有哪些獨(dú)特的特性和優(yōu)勢(shì)。

文件下載:NVMFS5C670N-D.PDF

一、產(chǎn)品概述

Onsemi的NVMFS5C670N是一款N溝道MOSFET,具備60V耐壓、7.0 mΩ導(dǎo)通電阻和71A的連續(xù)漏極電流能力。它采用了小尺寸封裝(5x6 mm),非常適合緊湊型設(shè)計(jì),同時(shí)在降低導(dǎo)通損耗和驅(qū)動(dòng)損耗方面表現(xiàn)出色。

二、產(chǎn)品特性

  1. 緊湊設(shè)計(jì):5x6 mm的小尺寸封裝,為空間受限的設(shè)計(jì)提供了便利,使工程師能夠在有限的空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)更多的功能。這對(duì)于一些對(duì)體積要求較高的應(yīng)用,如便攜式設(shè)備、小型電源模塊等,具有很大的吸引力。
  2. 低導(dǎo)通損耗:低 (R_{DS(on)}) 值能夠有效降低導(dǎo)通損耗,提高電路的效率。在實(shí)際應(yīng)用中,這意味著更少的能量損耗和更低的發(fā)熱,有助于延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命。
  3. 低驅(qū)動(dòng)損耗:低 (Q_{G}) 和電容值,減少了驅(qū)動(dòng)損耗,降低了對(duì)驅(qū)動(dòng)電路的要求。這使得MOSFET能夠更高效地開關(guān),提高了整個(gè)系統(tǒng)的性能。
  4. 可焊?jìng)?cè)翼選項(xiàng):NVMFS5C670NWF提供了可焊?jìng)?cè)翼選項(xiàng),增強(qiáng)了光學(xué)檢查的效果,提高了焊接的可靠性。
  5. 汽車級(jí)認(rèn)證:該產(chǎn)品通過了AEC - Q101認(rèn)證,并且具備PPAP能力,適用于汽車電子等對(duì)可靠性要求較高的應(yīng)用場(chǎng)景。
  6. 環(huán)保合規(guī):產(chǎn)品為無鉛設(shè)計(jì),符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。

三、最大額定值

參數(shù) 符號(hào) 單位
漏源電壓 (V_{DSS}) 60 V
柵源電壓 (V_{GS}) ±20 V
連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) (I_{D}) 71 A
連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) (I_{D}) 50 A
功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) (P_{D}) 61 W
功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) (P_{D}) 31 W
脈沖漏極電流((T{A}=25^{circ}C),(t{p}=10 mu s)) (I_{DM}) 440 A
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 (T{J}),(T{stg}) - 55 至 + 175 (^{circ}C)
源極電流(體二極管 (I_{S}) 68 A
單脈沖漏源雪崩能量((I_{L(pk)} = 3.6 A)) (E_{AS}) 166 mJ
焊接用引腳溫度(距外殼1/8英寸,10 s) (T_{L}) 260 (^{circ}C)

從這些額定值可以看出,NVMFS5C670N在不同的溫度條件下都能保持較好的性能,能夠適應(yīng)較為惡劣的工作環(huán)境。但在實(shí)際應(yīng)用中,我們需要根據(jù)具體的工作條件和要求,合理選擇工作參數(shù),避免超過最大額定值,以免損壞器件。

四、電氣特性

  1. 截止特性
    • 漏源擊穿電壓:(V{(BR)DSS}) 在 (V{GS}= 0V),(I_{D}= 250 mu A) 時(shí)為60V。
    • 漏源擊穿電壓溫度系數(shù):26.2 mV/°C。
    • 零柵壓漏極電流:在 (V{GS}=0V),(V{DS}=60V),(T_{J}=25^{circ}C) 時(shí)最大為10 μA,(T = 125^{circ}C) 時(shí)最大為250 μA。
    • 柵源泄漏電流:在 (V{DS} = 0V),(V{GS} = 20V) 時(shí)最大為100 nA。
  2. 導(dǎo)通特性
    • 閾值電壓:(V{GS(TH)}) 在 (V{GS}=V_{DS}),(I = 53 mu A) 時(shí),最小值為2.0V,最大值為4.0V。
    • 閾值溫度系數(shù): - 7.8 mV/°C。
    • 漏源導(dǎo)通電阻:在 (I{D}=11A),(V{GS}=10V) 時(shí),典型值為5.6 mΩ,最大值為7.0 mΩ。
    • 正向跨導(dǎo):在 (V{DS} = 15V),(I{D} = 35 A) 時(shí),典型值為82 S。
    • 柵極電阻:在 (T_{A}=25^{circ}C) 時(shí),典型值為1.2 Ω。
  3. 電荷和電容特性
    • 輸入電容:(C{Iss}) 在 (V{GS} =0V),(f = 1 MHz),(V_{DS} = 30 V) 時(shí),典型值為1035 pF。
    • 輸出電容:(C_{oss}) 典型值為680 pF。
    • 反向傳輸電容:(C_{RSS}) 典型值為8.5 pF。
    • 總柵極電荷:(Q{G(TOT)}) 在 (V{GS}= 10V),(V{DS} = 48 V),(I{D} =11 A) 時(shí),典型值為14.4 nC。
    • 閾值柵極電荷:(Q_{G(TH)}) 典型值為3.2 nC。
    • 柵源電荷:(Q_{GS}) 典型值為5.3 nC。
    • 柵漏電荷:(Q_{GD}) 典型值為1.5 nC。
    • 平臺(tái)電壓:(V_{GP}) 典型值為4.6 V。
  4. 開關(guān)特性
    • 導(dǎo)通延遲時(shí)間:(t{d(ON)}) 在 (V{GS} = 10V),(V{DS} = 48 V),(I{D} = 11 A),(R_{G}=2.5 Ω) 時(shí),典型值為10 ns。
    • 上升時(shí)間:典型值為2.7 ns。
    • 關(guān)斷延遲時(shí)間:典型值為16 ns。
    • 下降時(shí)間:典型值為3.3 ns。
  5. 漏源二極管特性
    • 正向二極管電壓:在 (T =25^{circ}C),(V{GS} =0V),(I{S}=11A) 時(shí),典型值為0.81V;(T =125^{circ}C) 時(shí),典型值為0.67V。
    • 反向恢復(fù)時(shí)間:(t{RR}) 在 (V{GS} = 0 V),(dI{S}/dt = 100 A/mu s),(I{S}=5A) 時(shí),典型值為40 ns。
    • 充電時(shí)間:典型值為20 ns。
    • 放電時(shí)間:典型值為20 ns。
    • 反向恢復(fù)電荷:(Q_{RR}) 典型值為31 nC。

這些電氣特性為我們?cè)谠O(shè)計(jì)電路時(shí)提供了重要的參考依據(jù)。例如,低導(dǎo)通電阻和快速的開關(guān)特性使得NVMFS5C670N非常適合用于開關(guān)電源電機(jī)驅(qū)動(dòng)等應(yīng)用中。但在實(shí)際應(yīng)用中,我們還需要考慮到溫度、負(fù)載等因素對(duì)這些特性的影響。

五、典型特性曲線

文檔中給出了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、漏源泄漏電流與電壓關(guān)系、電容變化、柵源和漏源電壓與總電荷關(guān)系、電阻性開關(guān)時(shí)間隨柵極電阻變化、二極管正向電壓與電流關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)、最大漏極電流與雪崩時(shí)間關(guān)系以及熱特性等。這些曲線能夠幫助我們更直觀地了解NVMFS5C670N在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。例如,通過導(dǎo)通電阻隨溫度變化曲線,我們可以預(yù)測(cè)在不同溫度下MOSFET的導(dǎo)通損耗,從而合理設(shè)計(jì)散熱系統(tǒng)。

六、封裝信息

該產(chǎn)品提供了兩種封裝形式:DFN5(SO - 8FL)CASE 488AA和DFNW5(FULL - CUT SO8FL WF)CASE 507BA STYLE 1。文檔中詳細(xì)給出了這兩種封裝的尺寸信息,包括各個(gè)引腳的尺寸、間距等。同時(shí),還提供了推薦的焊接腳印和通用標(biāo)記圖。在進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí),我們需要嚴(yán)格按照這些封裝尺寸和焊接要求進(jìn)行布局,以確保MOSFET能夠正確安裝和正常工作。

七、總結(jié)

Onsemi的NVMFS5C670N N溝道MOSFET以其緊湊的設(shè)計(jì)、低導(dǎo)通損耗、低驅(qū)動(dòng)損耗等優(yōu)點(diǎn),為電子工程師在設(shè)計(jì)高性能電路時(shí)提供了一個(gè)優(yōu)秀的選擇。無論是在便攜式設(shè)備、汽車電子還是其他領(lǐng)域,它都能夠發(fā)揮出良好的性能。但在實(shí)際應(yīng)用中,我們需要根據(jù)具體的需求和工作條件,合理選擇參數(shù)和封裝形式,同時(shí)注意避免超過最大額定值,以確保器件的可靠性和穩(wěn)定性。

你在使用NVMFS5C670N或者其他MOSFET時(shí),有沒有遇到過什么特別的問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。

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