NTD4808N與NVD4808N MOSFET的特性與應(yīng)用解析
在電子工程領(lǐng)域,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導(dǎo)體場(chǎng)效應(yīng)晶體管)是一種極為重要的功率器件,廣泛應(yīng)用于各類電路設(shè)計(jì)中。今天,我們將深入探討NTD4808N和NVD4808N這兩款N溝道單功率MOSFET的特性、參數(shù)以及應(yīng)用場(chǎng)景。
文件下載:NTD4808N-D.PDF
產(chǎn)品概述
NTD4808N和NVD4808N是ON Semiconductor推出的30V、63A的N溝道單功率MOSFET,采用DPAK/IPAK封裝。其中,NVD前綴的產(chǎn)品適用于汽車及其他有獨(dú)特場(chǎng)地和控制變更要求的應(yīng)用,并且通過了AEC - Q101認(rèn)證,具備生產(chǎn)件批準(zhǔn)程序(PPAP)能力。同時(shí),這兩款產(chǎn)品均為無鉛器件。
產(chǎn)品特性
低損耗特性
- 低導(dǎo)通電阻(RDS(on)):能夠有效降低導(dǎo)通損耗,提高電路效率。在實(shí)際應(yīng)用中,低導(dǎo)通電阻可以減少功率在MOSFET上的損耗,降低發(fā)熱,提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。
- 低電容:有助于降低驅(qū)動(dòng)損耗,減少驅(qū)動(dòng)電路的功耗。這對(duì)于高頻應(yīng)用尤為重要,能夠提高開關(guān)速度,降低開關(guān)損耗。
- 優(yōu)化的柵極電荷:可最小化開關(guān)損耗,提高開關(guān)效率。在高頻開關(guān)電路中,柵極電荷的大小直接影響開關(guān)速度和開關(guān)損耗,優(yōu)化的柵極電荷可以使MOSFET更快地開關(guān),減少能量損耗。
應(yīng)用場(chǎng)景
CPU電源供電
在CPU電源供電電路中,需要高效、穩(wěn)定的電源轉(zhuǎn)換。NTD4808N和NVD4808N的低導(dǎo)通電阻和低開關(guān)損耗特性,能夠滿足CPU對(duì)電源的高要求,確保CPU穩(wěn)定運(yùn)行。
DC - DC轉(zhuǎn)換器
DC - DC轉(zhuǎn)換器需要高效的功率轉(zhuǎn)換,這兩款MOSFET的低損耗特性可以提高轉(zhuǎn)換器的效率,減少能量損耗,提高系統(tǒng)的整體性能。
低端開關(guān)
在低端開關(guān)應(yīng)用中,NTD4808N和NVD4808N能夠快速、可靠地實(shí)現(xiàn)開關(guān)功能,滿足電路的控制需求。
關(guān)鍵參數(shù)
最大額定值
| 參數(shù) | 符號(hào) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | VDSS | 30 | V |
| 柵源電壓 | VGS | ±20 | V |
| 連續(xù)漏極電流(TA = 25°C) | ID | 13.8(RJA注1)、10(RJA注2)、63(RJC注1) | A |
| 功率耗散(TA = 25°C) | PD | 2.63(RJA注1)、1.4(RJA注2)、54.6(RJC注1) | W |
| 脈沖漏極電流(tp = 10s,TA = 25°C) | IDM | 126 | A |
| 工作結(jié)溫和儲(chǔ)存溫度 | TJ、TSTG | -55至 +175 | °C |
| 源極電流(體二極管) | IS | 45 | A |
| 漏源dV/dt | dV/dt | 6 | V/ns |
熱阻參數(shù)
| 參數(shù) | 符號(hào) | 值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 結(jié)到外殼(漏極)熱阻 | RJC | 2.75 | °C/W |
| 結(jié)到散熱片(漏極)熱阻 | RJC - TAB | 3.5 | °C/W |
| 結(jié)到環(huán)境穩(wěn)態(tài)熱阻(注1) | RJA | 57 | °C/W |
| 結(jié)到環(huán)境穩(wěn)態(tài)熱阻(注2) | RJA | 107 | °C/W |
電氣特性
- 關(guān)斷特性:包括漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)、零柵壓漏極電流(IDSS)和柵源泄漏電流(IGSS)等參數(shù)。這些參數(shù)反映了MOSFET在關(guān)斷狀態(tài)下的性能,對(duì)于確保電路的安全性和穩(wěn)定性至關(guān)重要。
- 導(dǎo)通特性:如柵極閾值電壓、漏源導(dǎo)通電阻(RDS(on))等。其中,漏源導(dǎo)通電阻是一個(gè)關(guān)鍵參數(shù),它直接影響MOSFET的導(dǎo)通損耗。
- 電荷和電容參數(shù):輸入電容(CISS)、輸出電容(COSS)和反向傳輸電容(CRSS)等,這些參數(shù)影響MOSFET的開關(guān)速度和驅(qū)動(dòng)要求。
典型性能曲線
文檔中給出了一系列典型性能曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、漏源泄漏電流與漏極電壓關(guān)系、電容變化、柵源和漏源電壓與總電荷關(guān)系、電阻性開關(guān)時(shí)間隨柵極電阻變化、二極管正向電壓與電流關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)、最大雪崩能量與起始結(jié)溫關(guān)系、雪崩特性和熱響應(yīng)等曲線。這些曲線直觀地展示了MOSFET在不同工作條件下的性能表現(xiàn),對(duì)于工程師進(jìn)行電路設(shè)計(jì)和優(yōu)化具有重要的參考價(jià)值。
訂購信息
| 器件 | 封裝 | 包裝方式 |
|---|---|---|
| NTD4808NT4G | DPAK(無鉛) | 2500 / 卷帶式包裝 |
| NTD4808N - 1G | IPAK(無鉛) | 75 / 導(dǎo)軌包裝 |
| NVD4808NT4G* | DPAK(無鉛) | 2500 / 卷帶式包裝 |
注:*NVD前綴適用于汽車及其他有獨(dú)特場(chǎng)地和控制變更要求的應(yīng)用,通過AEC - Q101認(rèn)證,具備PPAP能力。
機(jī)械尺寸
文檔還提供了DPAK封裝的機(jī)械尺寸信息,包括各尺寸的最小值、最大值,以及不同引腳樣式的定義。這些信息對(duì)于PCB設(shè)計(jì)和器件安裝非常重要,工程師需要根據(jù)這些尺寸來設(shè)計(jì)合適的PCB布局和安裝方式。
在實(shí)際的電子設(shè)計(jì)中,我們需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮NTD4808N和NVD4808N的各項(xiàng)參數(shù)和特性,合理選擇和使用這兩款MOSFET。同時(shí),要注意遵循器件的最大額定值和使用條件,以確保電路的安全和穩(wěn)定運(yùn)行。大家在使用過程中是否遇到過類似MOSFET的應(yīng)用問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。
-
MOSFET
+關(guān)注
關(guān)注
151文章
10279瀏覽量
234575
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
LM4808 LM4808 雙路 105 mW 耳機(jī)放大器
NTD4808N與NVD4808N MOSFET的特性與應(yīng)用解析
評(píng)論