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深入解析 onsemi NVMFS5C612NL 功率 MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-09 14:15 ? 次閱讀
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深入解析 onsemi NVMFS5C612NL 功率 MOSFET

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,功率 MOSFET 是至關(guān)重要的元件,廣泛應(yīng)用于各種電源管理、電機(jī)驅(qū)動(dòng)等電路中。今天我們就來(lái)深入了解一下 onsemi 推出的 NVMFS5C612NL 單通道 N 溝道功率 MOSFET。

文件下載:NVMFS5C612NL-D.PDF

一、產(chǎn)品概述

NVMFS5C612NL 是 onsemi 生產(chǎn)的一款 60V、250A 的單通道 N 溝道功率 MOSFET,以其出色的性能和緊湊的設(shè)計(jì),在眾多應(yīng)用場(chǎng)景中表現(xiàn)出色。該產(chǎn)品具有小尺寸封裝、低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷和電容等特點(diǎn),能夠有效降低導(dǎo)通損耗和驅(qū)動(dòng)損耗。

二、產(chǎn)品特性

1. 緊湊設(shè)計(jì)

采用 5x6mm 的小尺寸封裝,非常適合對(duì)空間要求較高的緊湊型設(shè)計(jì),能夠幫助工程師在有限的電路板空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)更多功能。

2. 低導(dǎo)通損耗

具備低 $R{DS(on)}$,在 10V 時(shí)最大 $R{DS(on)}$ 為 1.36mΩ,在 4.5V 時(shí)為 2.3mΩ,能夠有效減少導(dǎo)通時(shí)的功率損耗,提高電路效率。

3. 低驅(qū)動(dòng)損耗

低 $Q_{G}$ 和電容特性,可降低驅(qū)動(dòng)損耗,減少驅(qū)動(dòng)電路的功耗,提高整個(gè)系統(tǒng)的能效。

4. 可焊?jìng)?cè)翼選項(xiàng)

NVMFS5C612NLWF 提供可焊?jìng)?cè)翼選項(xiàng),有助于增強(qiáng)光學(xué)檢測(cè)效果,提高生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制。

5. 汽車(chē)級(jí)認(rèn)證

通過(guò) AEC - Q101 認(rèn)證并具備 PPAP 能力,適用于汽車(chē)電子等對(duì)可靠性要求較高的應(yīng)用場(chǎng)景。

6. 環(huán)保合規(guī)

產(chǎn)品為無(wú)鉛設(shè)計(jì),符合 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。

三、關(guān)鍵參數(shù)

1. 最大額定值

參數(shù) 數(shù)值
$V_{(BR)DSS}$(漏源擊穿電壓) 60V
$R_{DS(on)}$(漏源導(dǎo)通電阻) 1.36mΩ @ 10V;2.3mΩ @ 4.5V
$I_{D MAX}$(最大漏極電流 250A
$P_{D}$(功率損耗) $T{C}=100^{circ}C$ 時(shí)為 167W;$T{A}=25^{circ}C$ 時(shí)為 38W;$T_{A}=100^{circ}C$ 時(shí)為 3.8W
$I_{DM}$(最大脈沖漏極電流) 900A
$T{J}, T{stg}$(結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍) -55 至 175°C
$E_{AS}$(單脈沖漏源雪崩能量) 未給出具體數(shù)值(單位 mJ)

2. 電氣特性

關(guān)斷特性

  • $V{(BR)DSS}$(漏源擊穿電壓):在 $V{GS}=0V$,$I{D}=250A$,$T{J}=25^{circ}C$ 時(shí)為 60V,溫度系數(shù)為 12.7mV/°C。
  • $I{DSS}$(零柵壓漏極電流):在 $V{GS}=0V$,$V_{DS}=60V$ 時(shí)的數(shù)值未給出。
  • $I{GSS}$(柵源泄漏電流):在 $V{DS}=0V$,$V_{GS}=±16V$ 時(shí)為 ±100nA。

導(dǎo)通特性

  • $V{GS(TH)}$(柵極閾值電壓):在 $V{GS}=V{DS}$,$I{D}=250A$ 時(shí),最小值為 1.2V,最大值為 2.0V。
  • $V_{GS(TH)TJ}$(閾值溫度系數(shù)):-5.76mV/°C。
  • $R{DS(on)}$(漏源導(dǎo)通電阻):在 $V{GS}=10V$,$I{D}=50A$ 時(shí),典型值為 1.13mΩ,最大值為 1.36mΩ;在 $V{GS}=4.5V$,$I_{D}=50A$ 時(shí),典型值為 1.65mΩ,最大值為 2.3mΩ。
  • $g{fs}$(正向跨導(dǎo)):在 $V{DS}=15V$,$I_{D}=50A$ 時(shí)為 151S。

電荷、電容和柵極電阻

  • $C{ISS}$(輸入電容):在 $V{GS}=0V$,$f = 1MHz$,$V_{DS}=25V$ 時(shí)為 6660pF。
  • $C_{OSS}$(輸出電容):2953pF。
  • $C_{RSS}$(反向傳輸電容):45pF。
  • $Q{G(TOT)}$(總柵極電荷):在 $V{GS}=4.5V$,$V{DS}=30V$,$I{D}=50A$ 時(shí)為 41nC;在 $V{GS}=10V$,$V{DS}=30V$,$I_{D}=50A$ 時(shí)為 91nC。
  • $Q{G(TH)}$(閾值柵極電荷):在 $V{GS}=4.5V$,$V{DS}=30V$,$I{D}=50A$ 時(shí)為 5nC。
  • $Q_{GS}$(柵源電荷):17.1nC。
  • $Q_{GD}$(柵漏電荷):10.9nC。
  • $V_{GP}$(平臺(tái)電壓):$2.9V$。

開(kāi)關(guān)特性

  • $t_{d(ON)}$(開(kāi)啟延遲時(shí)間):$51ns$。
  • $t_{r}$(上升時(shí)間):未給出具體數(shù)值。
  • $t_{d(OFF)}$(關(guān)斷延遲時(shí)間):$47ns$。
  • $t_{f}$(下降時(shí)間):$18ns$。

漏源二極管特性

  • $V{SD}$(正向二極管電壓):在 $V{GS}=0V$,$I_{S}=50A$,$T = 25^{circ}C$ 時(shí),最小值為 0.78V,最大值為 1.2V;在 $T = 125^{circ}C$ 時(shí)為 0.66V。
  • $t_{RR}$(反向恢復(fù)時(shí)間):$78ns$。
  • $t_{a}$(充電時(shí)間):$36ns$。
  • $t_{o}$(放電時(shí)間):$42ns$。
  • $Q_{RR}$(反向恢復(fù)電荷):$105nC$。

四、典型特性曲線

1. 導(dǎo)通區(qū)域特性

從圖 1 可以看出,不同柵源電壓下,漏極電流隨漏源電壓的變化情況。工程師可以根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的柵源電壓,以獲得所需的漏極電流。

2. 傳輸特性

圖 2 展示了不同結(jié)溫下,漏極電流隨柵源電壓的變化關(guān)系。了解這些特性有助于工程師在不同溫度環(huán)境下合理設(shè)計(jì)電路。

3. 導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系

圖 3 顯示了導(dǎo)通電阻隨柵源電壓的變化情況。在設(shè)計(jì)電路時(shí),工程師可以根據(jù)柵源電壓來(lái)預(yù)估導(dǎo)通電阻,從而計(jì)算功率損耗。

4. 導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系

圖 4 呈現(xiàn)了導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系。這對(duì)于評(píng)估不同工作電流和柵極電壓下的導(dǎo)通損耗非常有幫助。

5. 導(dǎo)通電阻隨溫度變化

圖 5 展示了導(dǎo)通電阻隨結(jié)溫的變化情況。在高溫環(huán)境下,導(dǎo)通電阻會(huì)發(fā)生變化,工程師需要考慮這種變化對(duì)電路性能的影響。

6. 漏源泄漏電流與電壓關(guān)系

圖 6 顯示了漏源泄漏電流隨漏源電壓的變化。在設(shè)計(jì)電路時(shí),需要關(guān)注泄漏電流對(duì)電路功耗和穩(wěn)定性的影響。

7. 電容變化特性

圖 7 展示了輸入電容、輸出電容和反向傳輸電容隨漏源電壓的變化情況。這些電容特性會(huì)影響 MOSFET 的開(kāi)關(guān)速度和驅(qū)動(dòng)要求。

8. 柵源和漏源電壓與總電荷關(guān)系

圖 8 呈現(xiàn)了柵源和漏源電壓與總柵極電荷的關(guān)系。了解這些關(guān)系有助于優(yōu)化驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì)。

9. 電阻性開(kāi)關(guān)時(shí)間與柵極電阻關(guān)系

圖 9 顯示了開(kāi)關(guān)時(shí)間隨柵極電阻的變化情況。工程師可以根據(jù)需要選擇合適的柵極電阻,以優(yōu)化開(kāi)關(guān)性能。

10. 二極管正向電壓與電流關(guān)系

圖 10 展示了二極管正向電壓隨電流的變化。在使用 MOSFET 的體二極管時(shí),需要考慮這些特性。

11. 安全工作區(qū)

圖 11 給出了 MOSFET 的安全工作區(qū),包括不同脈沖時(shí)間下的電流和電壓限制。工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí),必須確保 MOSFET 的工作點(diǎn)在安全工作區(qū)內(nèi),以避免器件損壞。

12. 峰值電流與雪崩時(shí)間關(guān)系

圖 12 顯示了峰值電流與雪崩時(shí)間的關(guān)系。在可能發(fā)生雪崩的應(yīng)用場(chǎng)景中,需要關(guān)注這些特性,以確保 MOSFET 的可靠性。

13. 熱特性

圖 13 展示了不同占空比和脈沖時(shí)間下的熱阻特性。了解熱特性對(duì)于散熱設(shè)計(jì)非常重要,以保證 MOSFET 在正常工作溫度范圍內(nèi)。

五、訂購(gòu)信息

器件型號(hào) 標(biāo)記 封裝 包裝
NVMFS5C612NLT1G 5C612L DFN5 (Pb - Free) 1500 / Tape & Reel
NVMFS5C612NLET1G 5C612L DFN5 (Pb - Free) 1500 / Tape & Reel
NVMFS5C612NLAFT1G 5C612L DFN5 (Pb - Free) 1500 / Tape & Reel
NVMFS5C612NLWFAFT1G 612LWF DFN5 (Pb - Free, Wettable Flanks) 1500 / Tape & Reel

同時(shí),部分器件已停產(chǎn),如 NVMFS5C612NLT3G、NVMFS5C612NLWFT3G 和 NVMFS5C612NLWFT1G,在設(shè)計(jì)新電路時(shí)需注意。

六、機(jī)械尺寸

文檔中提供了 DFN5 和 DFNW5 兩種封裝的機(jī)械尺寸圖和詳細(xì)尺寸參數(shù),工程師在進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)時(shí),需要根據(jù)這些尺寸信息合理布局 MOSFET 的位置和引腳連接。

七、總結(jié)

onsemi 的 NVMFS5C612NL 功率 MOSFET 以其緊湊的設(shè)計(jì)、低損耗特性和良好的可靠性,在電子設(shè)計(jì)中具有很大的應(yīng)用潛力。電子工程師在選擇和使用該器件時(shí),需要深入了解其各項(xiàng)參數(shù)和特性,結(jié)合實(shí)際應(yīng)用需求進(jìn)行合理設(shè)計(jì),以充分發(fā)揮其性能優(yōu)勢(shì)。同時(shí),要注意器件的停產(chǎn)信息,避免在新設(shè)計(jì)中使用已停產(chǎn)的型號(hào)。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過(guò)類似 MOSFET 的選型和設(shè)計(jì)問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

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