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led芯片失效原理

工程師 ? 來源:網(wǎng)絡整理 ? 作者:h1654155205.5246 ? 2019-03-27 16:54 ? 次閱讀
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LED芯片失效原理

由于環(huán)境中存在不同程度的靜電,通過靜電感應或直接轉移等形式LED芯片的PN結兩端會積聚一定數(shù)量的極性相反的靜電電荷,形成不同程度的靜電電壓。當靜電電壓超過LED的承受值時,靜電電荷將以極短的時間(納秒)在LED芯片的兩個電極間放電,從而產(chǎn)生熱量。在LED芯片內(nèi)部的導電層、PN結發(fā)光層形成1400℃以上的高溫,高溫導致局部熔融成小孔,從而造成LED漏電、變暗、死燈,短路等現(xiàn)象。

被靜電擊損后的LED,嚴重的往往會造成死燈、漏電。輕微的靜電損傷,LED一般沒有什么異常,但此時,該LED已經(jīng)有一定的隱患,當它受到二次靜電損傷時,那就會出現(xiàn)暗亮、死燈、漏電的機率增大。通過案例分析總結,當LED芯片受到輕微的、未被覺察的靜電損傷,這時候需要掃描電鏡放大到一萬倍以上進一步確診,以防更高機率的失效事故發(fā)生。

led芯片失效原因

1、芯片抗靜電能力差

LED燈珠的抗靜電指標高低取決于LED發(fā)光芯片本身,與封裝材料預計封裝工藝基本無關,或者說影響因素很小,很細微;LED燈更容易遭受靜電損傷,這與兩個引腳間距有關系,LED芯片裸晶的兩個電極間距非常小,一般是一百微米以內(nèi)吧,而LED引腳則是兩毫米左右,當靜電電荷要轉移時,間距越大,越容易形成大的電位差,也就是高的電壓。所以,封成LED燈后往往更容易出現(xiàn)靜電損傷事故。

2、芯片外延缺陷

LED外延片在高溫長晶過程中,襯底、MOCVD反應腔內(nèi)殘留的沉積物、外圍氣體和Mo源都會引入雜質,這些雜質會滲入磊晶層,阻止氮化鎵晶體成核,形成各種各樣的外延缺陷,最終在外延層表面形成微小坑洞,這些也會嚴重影響外延片薄膜材料的晶體質量和性能。

3、芯片化學物殘余

電極加工是制作LED芯片的關鍵工序,包括清洗、蒸鍍、黃光、化學蝕刻、熔合、研磨,會接觸到很多化學清洗劑,如果芯片清洗不夠干凈,會使有害化學物殘余。這些有害化學物會在LED通電時,與電極發(fā)生電化學反應,導致死燈、光衰、暗亮、發(fā)黑等現(xiàn)象出現(xiàn)。因此,芯片化學物殘留引發(fā)后期高溫導致的焊點開路性死燈通常封裝廠很難發(fā)現(xiàn),芯片廠一般會一筆帶過而封裝廠只能提升焊線工藝,因此判斷芯片表面的化學物殘留對LED封裝廠來說至關重要。

4、芯片的受損

LED芯片的受損會直接導致LED失效,因此提高LED芯片的可靠性至關重要。蒸鍍過程中有時需用彈簧夾固定芯片,因此會產(chǎn)生夾痕。黃光作業(yè)若顯影不完全及光罩有破洞會使發(fā)光區(qū)有殘余多出的金屬。晶粒在前段制程中,各項制程如清洗、蒸鍍、黃光、化學蝕刻、熔合、研磨等作業(yè)都必須使用鑷子及花籃、載具等,因此會有晶粒電極刮傷的情況發(fā)生。

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