動態(tài)
-
發(fā)布了文章 2026-01-19 17:07
知識分享:產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)構(gòu)架與EMC
知識分享:產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)構(gòu)架與EMC結(jié)構(gòu)是產(chǎn)品的重要組成部分,結(jié)構(gòu)不能單獨成為EMC問題的來源,但卻是解決EMC問題的重要途徑。電磁場屏蔽、良好的接地系統(tǒng)以及耦合的避免都要借助于良好的結(jié)構(gòu)設(shè)計。對于EMC來說,結(jié)構(gòu)設(shè)計包含著一個系統(tǒng)層面設(shè)計的概念,也包含結(jié)構(gòu)形態(tài)設(shè)計的概念。在一個產(chǎn)品的EMC設(shè)計中,屏蔽設(shè)計、接地設(shè)計、濾波設(shè)計等都不能獨立存在。信號輸入/輸出接口 -
發(fā)布了文章 2026-01-18 10:04
-
發(fā)布了文章 2026-01-17 10:03
-
發(fā)布了文章 2026-01-15 15:42
北京3月20-21日《電路可靠性設(shè)計與工程計算》公開課,助您提升專業(yè)能力!
課程名稱:《電路可靠性設(shè)計與工程計算》(可到企業(yè)內(nèi)部培訓(xùn))講師:武老師時間地點:北京3月20-21日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色數(shù)學(xué)工程計算方法:通過數(shù)學(xué)和工程計算的手段,學(xué)員可以深入理解并計算出器件的各種參數(shù)。這些參數(shù)的精準確定有助于識別設(shè)備或系統(tǒng)中的潛在隱患,進而采取必要的措施進行優(yōu)化和調(diào)整。案例教學(xué):通過具體案例的分析和討論,學(xué)員能夠更好地理解實際應(yīng)用中103瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2026-01-12 17:55
-
發(fā)布了文章 2026-01-07 16:42
-
發(fā)布了文章 2026-01-05 15:03
2026年度《產(chǎn)品EMC設(shè)計分析與風險評估技術(shù)》高級研修班,報名火熱進行中!
課程名稱:《產(chǎn)品EMC設(shè)計分析與風險評估技術(shù)》講師:鄭老師時間地點:上海5月15日-16日主辦單位:賽盛技術(shù)課程背景本課程主要是基于國家標準GB/T38659.1-2020EMC風險評估第1部分:電子電氣設(shè)備全面解讀并傳授“EMC設(shè)計分析方法和風險評估技術(shù)”,EMC風險評估技術(shù)號稱EMC設(shè)計的武林秘籍。這種技術(shù)方法在產(chǎn)品開發(fā)流程融合在一起,通過培訓(xùn)并掌該技術(shù)224瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2026-01-02 09:02
2026年度《硬件電路可靠性設(shè)計、測試及案例分析》首場公開課即將開始!
課程名稱:《硬件電路可靠性設(shè)計、測試及案例分析》講師:王老師時間地點:上海3月19-21日、北京5月21-23日、深圳11月19-21日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色1、案例多,案例均來自于電路設(shè)計缺陷導(dǎo)致的實際產(chǎn)品可靠性問題2、課程內(nèi)容圍繞電路可靠性設(shè)計所涉及的主要環(huán)節(jié),針對電路研發(fā)過程中可能遇到可靠性問題,針對電路設(shè)計、元器件應(yīng)用中潛在的缺陷,基于大量工程設(shè)521瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-12-30 15:02
2026年度《EMC設(shè)計整改與仿真應(yīng)用》公開課安排來襲!
課程名稱:《EMC設(shè)計整改與仿真應(yīng)用》講師:石老師、樊老師時間地點:上海3月26-28日、北京5月21-23日、深圳9月17-19日、成都11月26-28日主辦單位:賽盛技術(shù)課程特色系統(tǒng)化知識圖譜:從電磁兼容基礎(chǔ)、三要素到接地、寄生參數(shù)等核心原理,構(gòu)建清晰完整的EMC理論框架,為設(shè)計實踐奠定堅實基礎(chǔ)。設(shè)計導(dǎo)向,防患于未然:課程核心聚焦“正向設(shè)計”,深入講解如595瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2025-12-28 10:03
2026年度《嵌入式系統(tǒng)軟硬件可靠性設(shè)計》公開課,助您提升專業(yè)能力!
課程名稱:《嵌入式系統(tǒng)軟硬件可靠性設(shè)計》講師:武老師時間地點:深圳4月24-25日主辦單位:賽盛技術(shù)課程背景隨著嵌入式系統(tǒng)在工業(yè)控制、汽車電子、航空航天、醫(yī)療設(shè)備及消費電子等關(guān)鍵領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,其可靠性已成為產(chǎn)品核心競爭力的決定性因素。然而,在實際研發(fā)中,工程師們常常面臨諸多挑戰(zhàn):硬件上,因環(huán)境應(yīng)力、器件選型不當、電路設(shè)計缺陷及電磁兼容等問題導(dǎo)致的系統(tǒng)失效屢936瀏覽量