動(dòng)態(tài)
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發(fā)布了文章 2026-03-03 10:57
【產(chǎn)品選型】從研發(fā)到預(yù)認(rèn)證，EMI測(cè)試設(shè)備該怎么選？
NO.1在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的賽道上，最令人崩潰的瞬間莫過(guò)于：樣機(jī)已經(jīng)定型，卻在最后的EMC認(rèn)證環(huán)節(jié)遭遇“紅燈”。那一刻，意味著高昂的整改費(fèi)用和錯(cuò)失的市場(chǎng)窗口。越早在研發(fā)階段引入EMI測(cè)試，修復(fù)問(wèn)題的成本就越低。但面對(duì)市面上琳瑯滿目的頻譜儀、示波器和接收機(jī)，工程師到底該如何根據(jù)自己的產(chǎn)品特性，挑選一把最趁手的“排雷”利器？EMI預(yù)認(rèn)證解決方案指南選擇最適合的EMI調(diào)試16瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2026-02-28 11:51
碳化硅MOS管測(cè)試技術(shù)及儀器應(yīng)用（上）
碳化硅（SiC）MOS管作為寬禁帶半導(dǎo)體的核心器件，憑借高耐壓、高頻化、低損耗及耐高溫特性，在新能源汽車、光伏逆變、工業(yè)電源等領(lǐng)域逐步替代傳統(tǒng)硅基IGBT器件。精準(zhǔn)的測(cè)試技術(shù)是挖掘其性能潛力、保障系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵，而示波器作為信號(hào)捕獲與分析的核心儀器，在動(dòng)態(tài)特性表征中發(fā)揮著不可替代的作用。本文將系統(tǒng)闡述碳化硅MOS管的核心測(cè)試項(xiàng)目、技術(shù)要點(diǎn)，重點(diǎn)解析示波器及65瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2026-02-11 11:22
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發(fā)布了文章 2026-02-05 17:19
當(dāng)電子測(cè)試測(cè)量遇上電磁干擾：儀器觸控“罷工”與波形“跳脫”的真相
無(wú)處不在的電磁干擾在工業(yè)生產(chǎn)線、射頻實(shí)驗(yàn)室、電力檢測(cè)現(xiàn)場(chǎng)等復(fù)雜場(chǎng)景中，數(shù)字示波器作為“信號(hào)偵察兵”的角色至關(guān)重要。但不少工程師遇到過(guò)棘手的狀況：屏幕觸控響應(yīng)遲滯、頻繁誤觸，精心調(diào)試的波形出現(xiàn)無(wú)規(guī)律抖動(dòng)，高頻毛刺疊加或基線漂移，嚴(yán)重時(shí)測(cè)量數(shù)據(jù)完全失真，給故障排查與產(chǎn)品研發(fā)帶來(lái)巨大阻礙。這些問(wèn)題的罪魁禍?zhǔn)祝菬o(wú)處不在的電磁干擾(EMI)。電磁干擾對(duì)示波器的影響 -
發(fā)布了文章 2026-02-02 14:37
“隱身”電機(jī)的轉(zhuǎn)速測(cè)量，用這招“聽(tīng)”見(jiàn)答案
親愛(ài)的品質(zhì)工程師、研發(fā)同仁，您是否也常為這些轉(zhuǎn)速問(wèn)題所困擾？為了測(cè)量轉(zhuǎn)速，耗費(fèi)時(shí)間在安裝檢測(cè)齒輪或者貼反光片等準(zhǔn)備工作；為一個(gè)轉(zhuǎn)速數(shù)據(jù)，不得不破壞樣品，耗時(shí)耗力，卻無(wú)法用于批量質(zhì)檢；生產(chǎn)線上，想檢測(cè)電吹風(fēng)、電動(dòng)牙刷、剃須刀等“隱身”電機(jī)的轉(zhuǎn)速，卻苦于電機(jī)完全封裝，旋轉(zhuǎn)軸不外露，無(wú)法安裝傳感器；01小野測(cè)器FT-2500高級(jí)轉(zhuǎn)速表小野測(cè)器FT-2500高級(jí)轉(zhuǎn)速142瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2026-01-21 09:22
紋波測(cè)量 | 下篇：自動(dòng)化、高精度、快速度，頻選測(cè)量法的技術(shù)內(nèi)核與價(jià)值實(shí)現(xiàn)
在上篇中，我們討論了無(wú)效紋波測(cè)量的原因，揭示了寬帶測(cè)量法在紋波測(cè)試中的缺陷——無(wú)法區(qū)分“固有紋波”與“注入紋波”，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失真。而頻選（窄帶）測(cè)量方法只鎖定目標(biāo)頻率的信號(hào)，因此可以從根本上解決這一難題。本篇中，我們將深入頻選測(cè)量的技術(shù)內(nèi)核，探討其性能權(quán)衡，并了解像RippleNX這樣的自動(dòng)化解決方案，是如何通過(guò)硬件與固件的協(xié)同優(yōu)化，兼顧濾波精度與測(cè)試速度 -
發(fā)布了文章 2026-01-19 10:25
AI服務(wù)器量產(chǎn)關(guān)鍵：高效安規(guī)測(cè)試方案解決多點(diǎn)測(cè)試挑戰(zhàn)
全球AI應(yīng)用浪潮正推動(dòng)服務(wù)器架構(gòu)演進(jìn)，其高功耗與高密度的特點(diǎn)對(duì)電氣安全與生產(chǎn)效率提出了更嚴(yán)苛的要求。而當(dāng)產(chǎn)品進(jìn)入量產(chǎn)階段，安規(guī)測(cè)試不僅是合規(guī)必需，更直接關(guān)系到產(chǎn)線效率與交付周期。隨著AI服務(wù)器技術(shù)持續(xù)升級(jí)，制造商普遍面臨以下三大安規(guī)測(cè)試痛點(diǎn)：1.多點(diǎn)測(cè)試流程復(fù)雜2.人工操作依賴度高，易產(chǎn)生誤差與風(fēng)險(xiǎn)3.測(cè)試數(shù)據(jù)管理困難那么，制造商如何在全球市場(chǎng)量產(chǎn)壓力下，兼262瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2026-01-14 09:02
【解讀NTN④】從測(cè)試角度透視相控陣天線測(cè)試（上）
PART-01前言相控陣天線已廣泛應(yīng)用于移動(dòng)通信和衛(wèi)星通信，在OTA暗室中使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)、無(wú)源和有源測(cè)試已經(jīng)較為成熟。但對(duì)于內(nèi)置本振的相控陣由于輸入輸出頻率不一致且本振無(wú)法接入，常規(guī)測(cè)試方法無(wú)法進(jìn)行穩(wěn)定的幅相測(cè)試。本期將介紹一種新穎的測(cè)試方法，該方法巧妙使用R&SZNA矢網(wǎng)輸出雙音信號(hào)對(duì)內(nèi)置本振的相控陣天線進(jìn)行近場(chǎng)測(cè)試。相控天線陣面的集成度越來(lái)越 -
發(fā)布了文章 2026-01-13 11:38
普通服務(wù)器電源與AI服務(wù)器電源的區(qū)別（下）
負(fù)載調(diào)整率方面的區(qū)別負(fù)載調(diào)整率反映了電源在負(fù)載變化時(shí)輸出電壓的穩(wěn)定能力。普通服務(wù)器在實(shí)際運(yùn)行過(guò)程中，負(fù)載會(huì)隨著工作任務(wù)的變化而有所改變，但變化幅度相對(duì)較為平穩(wěn)。良好的負(fù)載調(diào)整率能夠確保電源在不同負(fù)載下都能提供穩(wěn)定的電壓輸出，一般要求普通服務(wù)器電源的負(fù)載調(diào)整率不超過(guò)±0.5%。例如，當(dāng)電源從最小負(fù)載切換到最大負(fù)載時(shí)，輸出電壓的變化不應(yīng)超過(guò)額定電壓的0.5%。A -
發(fā)布了文章 2026-01-12 09:31
普通服務(wù)器電源與AI服務(wù)器電源的區(qū)別（上）
引言服務(wù)器是數(shù)據(jù)中心的核心設(shè)備，其穩(wěn)定運(yùn)行依賴可靠的電源供應(yīng)。隨著AI技術(shù)的飛速發(fā)展，AI服務(wù)器大量涌現(xiàn)，與普通服務(wù)器在應(yīng)用場(chǎng)景等方面存在顯著差異，這也使得兩者的電源存在諸多不同。本研究報(bào)告旨在探討普通服務(wù)器電源與AI服務(wù)器電源的區(qū)別，為相關(guān)測(cè)試及應(yīng)用工作提供參考。輸出電壓精度方面的區(qū)別輸出電壓精度是服務(wù)器電源的關(guān)鍵指標(biāo)之一。普通服務(wù)器內(nèi)的各種電子元件對(duì)電壓
