--- 產(chǎn)品詳情 ---
Keithley 4200-SCS 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 詳細(xì)說明
它被業(yè)界廣泛認(rèn)為是實(shí)驗(yàn)室級(jí)半導(dǎo)體參數(shù)測試的“黃金標(biāo)準(zhǔn)”,尤其適用于研發(fā)和高級(jí)故障分析。
1. 核心系統(tǒng)架構(gòu)
主框架: 一個(gè)集成機(jī)箱,包含電源、控制器和插槽。
模塊化設(shè)計(jì): 核心在于其可配置的源測量單元(SMU)插卡。用戶可以根據(jù)測試需求,選擇不同精度、電流/電壓量程的SMU卡插入機(jī)箱。
常見SMU卡: 4200-SMU(中等功率)、4210-SMU(高電流)、4211-SMU(高電壓)、4225-PMU(超快脈沖測量單元)等。
控制與軟件:
Clarius軟件: 圖形化測試開發(fā)與執(zhí)行環(huán)境,是系統(tǒng)的靈魂。用戶可以通過圖形界面或腳本創(chuàng)建復(fù)雜的測試序列。
KTE(Keithley Test Environment): 更底層的腳本環(huán)境,用于高度定制化的自動(dòng)化測試。
典型應(yīng)用場景
4200-SCS是半導(dǎo)體研發(fā)實(shí)驗(yàn)室、晶圓廠工藝集成部門、高校微電子研究組的核心設(shè)備:
先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)開發(fā): 對(duì)7nm、5nm及以下節(jié)點(diǎn)的原型器件進(jìn)行電學(xué)驗(yàn)證。
新型器件研究: 測試 FinFET, GAA納米片晶體管, 存儲(chǔ)器(RRAM, MRAM), 傳感器等。
工藝監(jiān)控與故障分析: 定位制造缺陷,分析工藝波動(dòng)對(duì)電性的影響。
材料科學(xué)研究: 評(píng)估石墨烯、二硫化鉬等新興材料的電子傳輸特性。
器件建模與仿真支持: 為EDA工具提供高質(zhì)量的實(shí)測數(shù)據(jù)。
深圳市寶安區(qū)新橋街道承恒通訊設(shè)備商行是集電子儀器銷售、測試方案提供、售前服務(wù)、儀器設(shè)備維修、儀器租賃、回收、計(jì)量等業(yè)務(wù)為一體公司。
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