簡介：

高低溫試驗(yàn)是一種環(huán)境試驗(yàn)，主要用于確定產(chǎn)品在高溫和低溫環(huán)境下的適應(yīng)性和性能。這種試驗(yàn)通過模擬自然環(huán)境中的溫度變化，來測試產(chǎn)品的耐熱、耐寒和耐干等性能。高低溫試驗(yàn)通常包括高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)和溫濕度變化試驗(yàn)等。

高溫試驗(yàn)的目的是考核試驗(yàn)樣品在高溫條件下貯存或使用的適應(yīng)性，試驗(yàn)設(shè)備通常為高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱，試驗(yàn)條件一般選定一恒定的溫度應(yīng)力和保持時(shí)間。常用的試驗(yàn)溫度有200℃、175℃、155℃、125℃、100℃、85℃、70℃、55℃等，常用的試驗(yàn)時(shí)間有2小時(shí)、16小時(shí)、72小時(shí)、96小時(shí)等。

低溫試驗(yàn)的目的是考核試驗(yàn)樣品在低溫條件下貯存或使用的適應(yīng)性，試驗(yàn)設(shè)備同樣為高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱，試驗(yàn)條件一般選定一恒定的溫度應(yīng)力和保持時(shí)間。常用的試驗(yàn)溫度有-70℃、-55℃、-40℃、-25℃、-15℃、-10℃、-5℃等，常用的試驗(yàn)時(shí)間有2小時(shí)、16小時(shí)、72小時(shí)、96小時(shí)等。

高低溫試驗(yàn)有助于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品或材料在極端溫度下的潛在問題，如材料的不穩(wěn)定性、部件的失效、電路的性能下降等，從而確保其在各種條件下都能正常、穩(wěn)定、安全地運(yùn)行或工作。這種試驗(yàn)在產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制、壽命評估等方面具有重要意義。

測試項(xiàng): 

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 、電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

測試服務(wù)介紹：

容積：≤3000mm×2000mm×3000mm；

溫度范圍：（常溫～-70）℃，（常溫～300）℃