Agilent 4156C、Keysight 4156C、HP 4156C半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
Keysight / Agilent 4156C 精密半導(dǎo)體參數(shù)分析儀為高級(jí)器件表征提供了高精度的實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式參數(shù)分析儀。Keysight/Agilent 4156C 分析儀卓越的低電流和低電壓分辨率以及內(nèi)置的準(zhǔn)靜態(tài) CV 測量功能為未來擴(kuò)展其他測量儀器奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
Keysight / Agilent 4156C 分析儀的特性和技術(shù)指標(biāo)包括：
內(nèi)置四個(gè)高分辨率源/監(jiān)視器單元，2個(gè)電壓源單元；2電壓監(jiān)控單元
開發(fā)新的工藝技術(shù)并通過測量到 1 fA 和 0.2 uV 來評(píng)估材料
全開爾文；每個(gè) HRSMU 的強(qiáng)制、感應(yīng)和保護(hù)端子
執(zhí)行準(zhǔn)靜態(tài)電容測量與電壓測量
自動(dòng)提取工藝參數(shù)，無需手動(dòng)操作屏幕標(biāo)記
使用超低泄漏 SMU 測量泄漏特性
使用集成脈沖發(fā)生器和選擇器開關(guān)自動(dòng)進(jìn)行設(shè)備表征
使用內(nèi)置應(yīng)力模式執(zhí)行晶圓上可靠性測試
使用圖形用戶界面執(zhí)行點(diǎn)擊式測量
在 Windows 環(huán)境下提供圖形數(shù)據(jù)分析功能
旋鈕掃描功能驗(yàn)證每個(gè)探頭是否接觸
待機(jī)模式無需外部電源
觸發(fā)模式允許同步 AC/DC 測量
允許繪制和分析所有數(shù)據(jù)的 IBASIC 用戶函數(shù)
其他半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
是德科技/安捷倫 4156A
是德科技/安捷倫 4156B
是德科技/安捷倫 4155A
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是德科技/安捷倫 4200-scs
