高速誤碼率測量 集成、校準的應力生成 -正弦抖動至80 MHz -隨機抖動 -有界、不相關的抖動 -正弦干擾 XFP/XFI、OIF/CEI、光纖通道、串行ATA IO的電應力眼測試 針對10 GbE、1、2、4和(將來)8x光纖通道、1 GbE的光學壓力眼測試 具有誤碼率相關性的集成眼圖分析 物理層測試套件，包括屏蔽測試、抖動峰值、BER輪廓和Q因子分析 按照最新標準(包括XFP/XFI和OIF-CE)的要求，按照BER 10-12進行掩模性能評估的符合性輪廓測試 雙分析器誤差分析 -模式敏感度分析 -用于周期性抖動識別的無誤差區(qū)間分析
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- 臺 1
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