--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 服務(wù)區(qū)域 全國
- 發(fā)票 可提供
- 報告類型 中英文電子/紙質(zhì)報告
- 服務(wù)資質(zhì) CNAS
--- 產(chǎn)品詳情 ---
服務(wù)范圍
半導體集成電路:時基電路、總線收發(fā)器、緩沖器、驅(qū)動器、電平轉(zhuǎn)換器、 門器件、觸發(fā)器、LVDS線收發(fā)器、運算放大器、電壓調(diào)整器、電壓?較器、 電源類芯片(穩(wěn)壓器、開關(guān)電源轉(zhuǎn)換器、電源監(jiān)控器、電源管理等)、數(shù)模轉(zhuǎn)換器(A/D、D/A、SRD)、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、 控制器等;
半導體分立器件:二極管、三極管、場效應(yīng)管、達林頓陣列、半導體光電子器件等;
電阻器;電容器;磁珠;電感器;變壓器;晶體振蕩器;晶體諧振器;繼電器;電連接器;開關(guān)及?板元件;濾波器;電源模塊等。
檢測標準
●GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法
●GJB360A-1996電子及電氣元件試驗方法
●GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序
●QJ10003—2008進口元器件篩選指南
●MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
●MIL-STD-883G微電子器件試驗方法和程序
檢測項目
●外觀檢查;
●電性能測試:常溫測試/高溫測試/低溫測試;
●環(huán)境/機械應(yīng)力檢測:振動、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒定加速度或跌落、密封(粗檢漏、細檢漏 )、粒子碰撞噪聲檢測(PIND);
●高溫動態(tài)老煉、高溫反偏老煉、功率老煉、恒流老煉、間歇壽命老煉;
●芯片超聲檢測;
●X射線照相。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
電子元器件是裝備的關(guān)鍵原材料,元器件篩選是提升電子裝備可靠性的關(guān)鍵手段,嚴格執(zhí)行型號的三級篩選管理規(guī)定,從源頭上保證裝備的可靠性和質(zhì)量一致性是電子裝備批產(chǎn)的關(guān)鍵。
我們的優(yōu)勢
廣電計量可滿足各等級元器件篩選方案設(shè)計和檢測需求,提供電子元器件測試、評估、質(zhì)量保證的成套方案,幫助企業(yè)及時發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件,提高電子元器件的使用可靠性,保障和支撐電子裝備可靠性提升。
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