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標(biāo)簽 > 顯微鏡
在17世紀(jì),人們發(fā)現(xiàn)把兩塊凸透鏡組合起來(lái),能明顯的提高放大能力,這種裝置就是顯微鏡的前身。第一架真正的顯微鏡,是用一片凸透鏡和一片凹透鏡重疊起來(lái)組合而成,又稱(chēng)為復(fù)式顯微鏡
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掃描電子顯微鏡(SEM)原理電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)聚光鏡和物鏡聚焦后,形成極細(xì)的電子束在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描。電子束與樣品表面相互作用,激發(fā)出二次電子、背...
鋅金屬負(fù)極的介質(zhì)—金屬雙梯度組合設(shè)計(jì)
水性鋅離子電池具有安全性高、成本低等優(yōu)點(diǎn),在大規(guī)模儲(chǔ)能領(lǐng)域具有經(jīng)濟(jì)競(jìng)爭(zhēng)力。作為AZIBs的重要組成部分,Zn金屬負(fù)極具有較高的比容量(820 mAh g...
透射電子顯微鏡(TEM)概述透射電子顯微鏡(TEM)是材料科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域中不可或缺的研究工具。對(duì)于新接觸TEM的科研人員而言,理解其基礎(chǔ)原理和操作...
細(xì)胞的穩(wěn)態(tài)離不開(kāi)內(nèi)部多種亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)的精確分工和協(xié)同合作,洞悉細(xì)胞內(nèi)細(xì)胞器/蛋白分子的精密運(yùn)轉(zhuǎn)是一項(xiàng)重要的生命科學(xué)研究需求,為揭示發(fā)育、疾病等浩瀚生命現(xiàn)象...
2022-03-24 標(biāo)簽:顯微鏡深度學(xué)習(xí) 3k 0
共聚焦顯微鏡如何檢測(cè)半導(dǎo)體增材膜形貌與缺陷
在微電子、光電子等高端領(lǐng)域,半導(dǎo)體增材膜的性能與其三維形貌及內(nèi)部缺陷高度關(guān)聯(lián),表面粗糙度影響器件電學(xué)接觸穩(wěn)定性,孔隙、裂紋等缺陷則直接決定薄膜的機(jī)械強(qiáng)度...
銅引線(xiàn)鍵合由于在價(jià)格、電導(dǎo)率和熱導(dǎo)率等方面的優(yōu)勢(shì)有望取代傳統(tǒng)的金引線(xiàn)鍵合, 然而 Cu/Al 引線(xiàn)鍵合界面的金屬間化合物 (intermetallic ...
一種基于深度學(xué)習(xí)的無(wú)透鏡全息顯微鏡裝置
電子煙在最近幾年得到了廣泛使用,從不吸煙的青少年和年輕人成為主要的消費(fèi)群體。這些小型手持設(shè)備通常會(huì)蒸發(fā)電子煙液(e-liquids),其中含有溶解在丙二...
電子能量損失譜(EELS)是一種通過(guò)分析高能入射電子與材料原子發(fā)生非彈性碰撞后能量損失特征的先進(jìn)表征技術(shù),可用于獲取材料的成分、化學(xué)態(tài)及電子結(jié)構(gòu)信息。其...
小結(jié):NG孔進(jìn)行斷面金相觀察,發(fā)現(xiàn)5個(gè)孔中有3個(gè)出現(xiàn)孔無(wú)銅現(xiàn)象,位置均在孔內(nèi),鎳層始終包住鍍銅,銅層消失位置平滑無(wú)尖銳角,未發(fā)現(xiàn)腐蝕現(xiàn)象。
新型橢圓偏振法SHEL在納米尺度面積表面測(cè)量的應(yīng)用
納米技術(shù)的發(fā)展催生了從超光滑表面到復(fù)雜納米結(jié)構(gòu)表面的制備需求,這些表面的精確測(cè)量對(duì)質(zhì)量控制至關(guān)重要。然而,當(dāng)前納米尺度表面測(cè)量技術(shù)面臨顯著挑戰(zhàn):原子力顯...
電池技術(shù):?jiǎn)尉т\的超平無(wú)枝晶電鍍負(fù)極實(shí)現(xiàn)
為了確定單晶鋅電極的性能極限,該工作在高容量和高電流密度下進(jìn)行電鍍。當(dāng)將電流密度從2 mA cm-2提高到10 mA cm-2,電鍍?nèi)萘繌? mAh c...
運(yùn)放741采用金屬罐裝,用鋼鋸可以打開(kāi)。然后使用金相顯微鏡,它通過(guò)鏡頭從上方發(fā)出光線(xiàn),在高放大倍率下可以獲得較清晰的照片,這樣就可以觀察元器件的細(xì)節(jié)。下...
測(cè)量表面粗糙度:白光共聚焦顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)
表面粗糙度作為衡量表面質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo)之一,其測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性直接影響到產(chǎn)品的性能和質(zhì)量。在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時(shí)代,隨著半導(dǎo)體制造、3C電子、光學(xué)加工...
2024-10-12 標(biāo)簽:顯微鏡測(cè)量?jī)x器光學(xué)顯微技術(shù) 2.6k 0
從對(duì)經(jīng)典的反射和折射光學(xué)定律的修訂開(kāi)始,人們就設(shè)想了超表面和超透鏡,以及如何利用這些器件創(chuàng)建納米級(jí)的平面透鏡,從而有可能徹底改變很多光學(xué)應(yīng)用。
在電子封裝、材料科學(xué)以及芯片制造等前沿領(lǐng)域,超聲波掃描顯微鏡(Scanning Acoustic Microscopy,簡(jiǎn)稱(chēng) SAM)作為一種基于超聲波...
掃描電子顯微鏡(SEM)以其在納米級(jí)別解析樣品的能力而聞名,它通過(guò)電子束與樣品的交互來(lái)收集信息。除了常見(jiàn)的背散射電子(BSE)和二次電子(SE)信號(hào)外,...
掃描電子顯微鏡(SEM)掃描電子顯微鏡(SEM)是現(xiàn)代科學(xué)探索微觀世界的一把關(guān)鍵鑰匙。它通過(guò)高分辨率的電子成像技術(shù),使我們能夠洞察物質(zhì)的微觀構(gòu)造,從而在...
基于PIC16C65單片機(jī)的掃描隧道顯微鏡的電子學(xué)系統(tǒng)
掃描隧道顯微鏡的基本構(gòu)成可以分為3個(gè)部分:頭部系統(tǒng)、電子學(xué)系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)。頭部系統(tǒng)中的掃描器是一個(gè)很關(guān)鍵的部件,掃描器的質(zhì)量決定了針尖和樣品間距的控制...
2018-03-26 標(biāo)簽:顯微鏡 2.4k 0
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