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標(biāo)簽 > 測(cè)試

測(cè)試

測(cè)試

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測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì;由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語(yǔ)。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為,一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證,并最終得出特定的結(jié)果。

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測(cè)試技術(shù)

ETI碼流在DAB數(shù)字廣播系統(tǒng)中的應(yīng)用與測(cè)試方案

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數(shù)字音頻廣播DAB(Digital Audio Broadcasting)技術(shù)通過(guò)編碼正交頻分復(fù)用COFDM(Coded Orthogonal Freq...

2026-01-14 標(biāo)簽:測(cè)試音頻數(shù)字廣播 2.3k 0

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在電纜廠做出廠耐壓測(cè)試時(shí),是否常遇到同一批產(chǎn)品反復(fù)打耐壓卻結(jié)果不一?明明設(shè)備參數(shù)正常,但局部放電量忽高忽低,導(dǎo)致復(fù)測(cè)頻次增加、交付延期?這背后,很可能不...

2026-01-13 標(biāo)簽:變壓器測(cè)試 183 0

為太空探索注入“聲”命力——4大GRAS高精度傳聲器方案

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01為什么聲學(xué)測(cè)量至關(guān)重要每一顆衛(wèi)星的發(fā)射、每一架飛行器的測(cè)試,甚至每一處太空環(huán)境的模擬,都離不開高精度的聲學(xué)測(cè)量。無(wú)論是火箭發(fā)射時(shí)的震動(dòng)監(jiān)測(cè),還是航天...

2026-01-13 標(biāo)簽:測(cè)試傳聲器飛行器 144 0

基于高準(zhǔn)直光源:機(jī)動(dòng)車燈的光聚焦性能測(cè)試

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隨著機(jī)動(dòng)車燈具光學(xué)設(shè)計(jì)的日益復(fù)雜,尤其是透鏡組與厚壁件的廣泛使用,太陽(yáng)光聚焦帶來(lái)的局部高溫風(fēng)險(xiǎn)已成為影響燈具可靠性與行車安全的重要因素。為確保燈具在全天...

2026-01-12 標(biāo)簽:測(cè)試車燈光學(xué)設(shè)計(jì) 180 0

直擊硬件時(shí)鐘:802.1AS時(shí)間同步精度測(cè)試實(shí)戰(zhàn)

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目前主流的時(shí)間同步精度測(cè)試方法有兩種:Reverse Sync與1PPS脈沖對(duì)比法。二者各有適用場(chǎng)景,亦互為補(bǔ)充。

2026-01-12 標(biāo)簽:測(cè)試時(shí)間敏感網(wǎng)絡(luò)硬件時(shí)鐘 249 0

散熱設(shè)計(jì)不良為何會(huì)導(dǎo)致 MOSFET 過(guò)熱失效?

散熱設(shè)計(jì)不良為何會(huì)導(dǎo)致 MOSFET 過(guò)熱失效?

一、問(wèn)題背景在電源、BMS、車載電子、電機(jī)驅(qū)動(dòng)等應(yīng)用中,MDD辰達(dá)半導(dǎo)體的MOSFET常年工作在大電流、高頻、高環(huán)境溫度條件下。很多現(xiàn)場(chǎng)失效案例中,MO...

2026-01-12 標(biāo)簽:測(cè)試MOSFET散熱設(shè)計(jì) 182 0

怎樣使用PicoScope示波器來(lái)幫您進(jìn)行局部放電分析測(cè)試

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局部放電是指電荷在絕緣屏障的一部分之間跳躍。通常,這種放電發(fā)生在絕緣存在缺陷、局部介電強(qiáng)度降低的區(qū)域。這些缺陷在早期可能不會(huì)導(dǎo)致設(shè)備立即故障,但會(huì)逐漸劣...

2026-01-09 標(biāo)簽:測(cè)試示波器局部放電 180 0

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棉花秸稈作為重要的農(nóng)業(yè)廢棄物資源,其能源化利用潛力備受關(guān)注,而精準(zhǔn)的熱性能分析是實(shí)現(xiàn)高效轉(zhuǎn)化的關(guān)鍵。南京匯誠(chéng)儀器的TGA-601S熱重分析儀,依據(jù)ISO...

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安鵬精密實(shí)測(cè):NVH路測(cè)中,如何零開發(fā)搞定CAN信號(hào)同步?

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虹科PCAN方案助力NVH信號(hào)采集優(yōu)化面對(duì)NVH(噪聲、振動(dòng)與聲振粗糙度)測(cè)試中CAN信號(hào)采集的壁壘,是投入成本自主研發(fā),還是尋找現(xiàn)成解決方案?安鵬精密...

2026-01-07 標(biāo)簽:測(cè)試CAN信號(hào)同步 650 0

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隨著AI服務(wù)器朝著高功率、高密度與模塊化架構(gòu)快速發(fā)展,安規(guī)測(cè)試已不再只是例行的出廠檢驗(yàn),而是直接影響產(chǎn)品上市時(shí)間與國(guó)際市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。產(chǎn)品在進(jìn)行安...

2026-01-05 標(biāo)簽:測(cè)試服務(wù)器AI服務(wù)器 576 0

快速溫變箱選型核心考量因素:6 大維度,避免踩坑

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快速溫變箱選型需匹配測(cè)試需求,平衡性能與成本,重點(diǎn)考慮溫變速率、溫濕度范圍、均勻度、樣品尺寸及材質(zhì),確保符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)與性能要求。

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四探針電阻測(cè)試 | CuNiC 三元合金的導(dǎo)電性能研究

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如何高效構(gòu)建與測(cè)試非結(jié)構(gòu)化道路場(chǎng)景?

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在如今的智能手機(jī)時(shí)代,手機(jī)的防水性能愈發(fā)重要,而手機(jī)氣密性檢測(cè)儀器在確保手機(jī)防水性能方面扮演著關(guān)鍵角色。那么,它究竟是基于何種原理來(lái)保障檢測(cè)精準(zhǔn)的呢?手...

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從實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)線,宏展高低溫試驗(yàn)箱的兼容性,讓測(cè)試更省心

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宏展高低溫試驗(yàn)箱解決多行業(yè)測(cè)試兼容性、異形樣品適配、設(shè)備聯(lián)動(dòng)控制及特殊樣品防護(hù)問(wèn)題,提升測(cè)試效率與安全性。

2026-01-01 標(biāo)簽:測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱高低溫測(cè)試機(jī) 3.7k 0

HiCar認(rèn)證測(cè)試:構(gòu)建智慧互聯(lián)人-車-家全生態(tài)測(cè)試技術(shù)底座

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在“軟件定義汽車”的時(shí)代浪潮下,汽車的核心價(jià)值正從機(jī)械性能轉(zhuǎn)向數(shù)字化體驗(yàn)。HiCar作為華為推出的人-車-家全場(chǎng)景智慧互聯(lián)解決方案,致力于打破設(shè)備邊界,...

2025-12-30 標(biāo)簽:測(cè)試認(rèn)證測(cè)試 2.7k 0

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    特性阻抗又稱特征阻抗,它不是直流電阻,屬于長(zhǎng)線傳輸中的概念。特性阻抗是射頻傳輸線影響無(wú)線電波電壓、電流的幅值和相位變化的固有特性,等于各處的電壓與電流的比值,用V/I表示。在射頻電路中,電阻、電容、電感都會(huì)阻礙交變電流的流動(dòng),合稱阻抗。電阻是吸收電磁能量的,理想電容和電感不消耗電磁能量。
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瑞薩 沁恒股份 全志 國(guó)民技術(shù) 瑞芯微 兆易創(chuàng)新 芯??萍?/a> Altium
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安森美 DIODES Nidec Intel EPSON 樂(lè)鑫 Realtek ERNI電子
TE Connectivity Toshiba OMRON Sensirion Broadcom Semtech 旺宏 英飛凌
Nexperia Lattice KEMET 順絡(luò)電子 霍尼韋爾 pulse ISSI NXP
Xilinx 廣瀨電機(jī) 金升陽(yáng) 君耀電子 聚洵 Liteon 新潔能 Maxim
MPS 億光 Exar 菲尼克斯 CUI WIZnet Molex Yageo
Samsung 風(fēng)華高科 WINBOND 長(zhǎng)晶科技 晶導(dǎo)微電子 上海貝嶺 KOA Echelon
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模數(shù)轉(zhuǎn)換器 數(shù)模轉(zhuǎn)換器 數(shù)字電位器 觸摸屏控制器 AFE ADC DAC 電源管理
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振蕩器 諧振器 濾波器 電容器 電感器 電阻器 二極管 晶體管
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數(shù)字隔離器 ESD 保護(hù) 收發(fā)器 橋接器 多路復(fù)用器 氮化鎵 PFC 數(shù)字電源
開關(guān)電源 步進(jìn)電機(jī) 無(wú)線充電 LabVIEW EMC PLC OLED 單片機(jī)
5G m2m DSP MCU ASIC CPU ROM DRAM
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