安捷倫發(fā)表LPDDR3相容性測試應(yīng)用軟件

　　安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）為採用低功率雙倍資料速率3記憶體（LPDDR3）的系統(tǒng)，推出業(yè)界最完整的相容性測試應(yīng)...

2012-04-06 標(biāo)簽：測試安捷倫Agilent 3.3k 0

基于MCU+CPLD變壓器測試系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn)

BX型信號變壓器，BG型軌道變壓器和ZG型硅整流器作為鐵路信號電器設(shè)備的前端，其工作的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性直接關(guān)系到行車安全，變壓器的可靠檢測是嚴(yán)抓質(zhì)量的第一...

2012-03-19 標(biāo)簽：變壓器MCU測試 1.7k 0

一種測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源的設(shè)計方案

通過對所需求電源的分析，結(jié)合嵌入式控制技術(shù)，提出了一種基于S3C2440的測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源解決方案，以及實現(xiàn)該方案所采用的方法。

2012-03-15 標(biāo)簽：測試穩(wěn)壓電源數(shù)字穩(wěn)壓電源 1.9k 0

測試、測量和儀表的“綠色” 之路

如果功率消耗得較少，那么噪聲（精確測量的大敵）實際上增加了。隨著新的低壓工藝出現(xiàn)，信噪比（SNR）變得更差了，這是可以理解的，因為信號幅度減小了。那么，...

2012-03-06 標(biāo)簽：測試儀表測量 1.2k 0

USB3.0認(rèn)證的新測試要求和應(yīng)對方案詳解

隨著主流市場即將演進(jìn)到SuperSpeed USB，許多設(shè)計團(tuán)隊正力圖加快設(shè)計認(rèn)證。本文將為您提供專家建議參考，幫助您輕松完成這一過程。

2012-02-23 標(biāo)簽：測試USB3.0USB 1.9萬 0

探針卡簡化測試和替換流程

過去的幾年里，測試探針卡的發(fā)展允許平行測試更多的器件——同時可測的待測器件(DUT)數(shù)量從32到64到128不斷上升——減少了測試平臺的數(shù)目。這樣，通過...

2011-11-10 標(biāo)簽：測試探針卡 5.9k 0

鋰電池充電器測試小方案

鋰離子(Li+)電池比其它化學(xué)類型的電池更脆弱，對于違規(guī)操作具有非常小的容限。因此，鋰電池充電電路比較復(fù)雜，要求高精度電流、電壓設(shè)置。如果無法滿足這些精度要求

2011-11-01 標(biāo)簽：鋰電池測試充電器 5.2k 0

電子護(hù)照安全機(jī)制及測試

本文結(jié)合電子護(hù)照的多種安全機(jī)制，分析其優(yōu)缺點，給出了系統(tǒng)安全測試驗證解決方案，為電子護(hù)照產(chǎn)品的測試驗收、逐代推出和升級改造提供參考依據(jù)。

2011-09-29 標(biāo)簽：測試電子護(hù)照安全機(jī)制 4.8k 1

實現(xiàn)可靠SSL的關(guān)鍵因素 熱設(shè)計與測試

與向外輻射熱量的白熾燈不同，LED產(chǎn)生的熱量必須以傳導(dǎo)的方式從這些半導(dǎo)體器件散播出去。如果沒有合適的熱管理，LED光能輸出會減少，主波長和峰值波長則會增...

2011-09-08 標(biāo)簽：測試SSL熱設(shè)計 1.2k 0

LTE網(wǎng)絡(luò)容量空中接口測試

LTE的發(fā)展對容量測試提出許多新的挑戰(zhàn)，需要采用不同于3G網(wǎng)絡(luò)的測試方法和技術(shù)。LTE的系統(tǒng)架構(gòu)比UMTS更加扁平，這意味著容量測試傳統(tǒng)上使用的基帶網(wǎng)絡(luò)...

2011-09-01 標(biāo)簽：測試LTE空中接口 2.1k 0

基于GPIB和計算機(jī)并行口的SoC自動化測試方案

GPIB(通用接口總線)是國際通用的標(biāo)準(zhǔn)儀器接口。測試儀器供應(yīng)商一般都提供豐富的GPIB指令集，用戶可以直接調(diào)用通訊命令，從而大大縮減底層搭建的工作量。

2011-08-26 標(biāo)簽：測試SoC計算機(jī) 2.3k 0