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標(biāo)簽 > 自動(dòng)化測(cè)試
一般是指軟件測(cè)試的自動(dòng)化，軟件測(cè)試就是在預(yù)設(shè)條件下運(yùn)行系統(tǒng)或應(yīng)用程序，評(píng)估運(yùn)行結(jié)果，預(yù)先條件應(yīng)包括正常條件和異常條件。
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淺談 | 高低溫環(huán)境下的車載屏幕功能耐久與觸屏精度自動(dòng)化測(cè)試
隨著汽車科技的發(fā)展，汽車電子產(chǎn)品的智能化程度在不斷提升，車載屏幕等交互終端的應(yīng)用性能越來(lái)越受用戶關(guān)注。由于汽車常年所處的環(huán)境多變，惡劣氣候會(huì)影響汽車電子...
2022-12-09 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試汽車車載屏幕 2.2k 0
ZNrun-K411—適用于IEEE 802.3ck高速以太網(wǎng)電纜組件的自動(dòng)化測(cè)試方案
“羅德與施瓦茨（以下簡(jiǎn)稱“R&S公司”）針對(duì)IEEE 802.3高速以太網(wǎng)電纜組件的一致性自動(dòng)化測(cè)試解決方案R&SZNrun- K411...
2023-03-29 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試以太網(wǎng)羅德與施瓦茨 2.2k 0
全面提升自動(dòng)化測(cè)試，NI TestStand 2012新模塊化框架
NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架，能夠簡(jiǎn)化自動(dòng)化測(cè)試的開(kāi)發(fā)和報(bào)告生成。
2012-11-06 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試ni公司測(cè)量公司 2.2k 0
NI公司以領(lǐng)先的通道密度擴(kuò)充SMU系列產(chǎn)品
NI推出新的PXI SMU系列產(chǎn)品，適用于自動(dòng)化半導(dǎo)體測(cè)試。全新的NI PXIe-4143 SMU每秒取樣率為600，000，具有4個(gè)通道，堪稱通道密度...
2012-09-14 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試SMU半導(dǎo)體測(cè)試 2.2k 0
DC-DC電源測(cè)試系統(tǒng)軟件之負(fù)載調(diào)整率自動(dòng)化測(cè)試
電源模塊的負(fù)載調(diào)整率測(cè)試是屬于功能測(cè)試中的一種，它是電源模塊中非常重要的一項(xiàng)指標(biāo)，可以直觀的反應(yīng)當(dāng)負(fù)載電流變化時(shí)，電源模塊的輸出電壓的變化情況。而電源模...
2023-09-20 標(biāo)簽：電源自動(dòng)化測(cè)試DC-DC 2.1k 0
泰克助力實(shí)現(xiàn)400G PAM4電接口自動(dòng)化測(cè)試
全球領(lǐng)先的測(cè)量解決方案提供商——泰克科技公司日前擴(kuò)大了其PAM4測(cè)試解決方案產(chǎn)品線，為OIF-CEI-56G VSR/MR/LR PAM4標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范提供全...
2017-07-26 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試泰克 2.1k 0
如何進(jìn)行輻射抗擾度磁場(chǎng)測(cè)試？
一、為什么要進(jìn)行閉環(huán)磁場(chǎng)測(cè)試？ 輻射抗擾度測(cè)試中進(jìn)行閉環(huán)磁場(chǎng)測(cè)試是為了評(píng)估設(shè)備在外部磁場(chǎng)影響下的性能表現(xiàn)。外部磁場(chǎng)可能來(lái)自各種源頭，例如電力線、電動(dòng)機(jī)、...
2024-06-03 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試磁場(chǎng)測(cè)試 2.1k 0
機(jī)電控制器是航空機(jī)電系統(tǒng)的重要裝置，對(duì)其技術(shù)特性有著嚴(yán)格的要求，適應(yīng)空中飛機(jī)環(huán)境、安全可靠性高、地面保障快捷高效、體積小、重量輕、經(jīng)濟(jì)性能好等特點(diǎn)。機(jī)電...
2020-04-27 標(biāo)簽：控制器自動(dòng)化測(cè)試labview 2k 0
淺談 | 高低溫環(huán)境下的車載屏幕功能耐久與觸屏精度自動(dòng)化測(cè)試
隨著汽車科技的發(fā)展，汽車電子產(chǎn)品的智能化程度在不斷提升，車載屏幕等交互終端的應(yīng)用性能越來(lái)越受用戶關(guān)注。由于汽車常年所處的環(huán)境多變，惡劣氣候會(huì)影響汽車電子...
2022-12-02 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試智能座艙 2k 0
智能系統(tǒng)（OS）軟件自動(dòng)化測(cè)試方案
隨著各個(gè)行業(yè)智能化水平的不斷提升，智能操作系統(tǒng)逐漸走入用戶的使用日常。智能手機(jī)、智能座艙、智慧屏幕、智能穿戴等消費(fèi)電子產(chǎn)品市場(chǎng)占比急劇擴(kuò)大，智能系統(tǒng)（O...
2022-12-09 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試智能座艙 2k 0
愛(ài)德萬(wàn)力拼2014年自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)市占超過(guò)50%目標(biāo)
愛(ài)德萬(wàn)（Advantest）力拼2014年市占超過(guò)50%的目標(biāo)。自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備（ATE）龍頭愛(ài)德萬(wàn)在完成收購(gòu)惠瑞捷（Verigy）的作業(yè)后，正全力展開(kāi)新...
2012-05-21 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試半導(dǎo)體測(cè)試愛(ài)德萬(wàn) 2k 0
泰克MP5000系列模塊化精密測(cè)試系統(tǒng)， 重新定義自動(dòng)化測(cè)試
這款首創(chuàng)系統(tǒng)為驗(yàn)證與生產(chǎn)環(huán)境帶來(lái)無(wú)可比擬的靈活性、通道密度及自動(dòng)化水平 _____ 在2025年9月份，泰克公司正式發(fā)布 MP5000 系列模塊化精密測(cè)...
2025-10-27 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試泰克 2k 0
在當(dāng)今智能化、高效化的工業(yè)4.0時(shí)代，串口屏作為人機(jī)交互的關(guān)鍵組件，在自動(dòng)化設(shè)備、物聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用、智能制造等領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。為了確保這些界面不僅美...
2024-12-27 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試串口屏 2k 0
Averna收購(gòu)及擴(kuò)大其在亞洲和北美地區(qū)的市場(chǎng)業(yè)務(wù)板塊
全球知名的測(cè)試與質(zhì)量解決方案領(lǐng)軍企業(yè)Averna近日宣布，已成功完成對(duì)Kimball Electronics， Inc.（納斯達(dá)克股票代碼：KE）旗下G...
2024-08-05 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試測(cè)量 1.9k 0
如今，伴隨著測(cè)試需求的多樣化和復(fù)雜化，軟件定義的儀器系統(tǒng)成為測(cè)試測(cè)量行業(yè)最重要的發(fā)展趨勢(shì)和主流技術(shù)。軟件定義的模塊化系統(tǒng)不僅可以幫助用戶在提高效率的同時(shí)降低
2010-07-14 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試模塊化 1.9k 0
“斗罷艱險(xiǎn)又出發(fā)”——OTA測(cè)試回顧與展望
在關(guān)稅博弈與行業(yè)劇變雙重背景下，國(guó)內(nèi)汽車OTA測(cè)試技術(shù)經(jīng)歷了從拓荒到精進(jìn)的蛻變。本文通過(guò)北匯信息兩代測(cè)試方案的演進(jìn)，剖析了從場(chǎng)景覆蓋到效率革命的轉(zhuǎn)型邏輯...
2025-05-28 標(biāo)簽：測(cè)試自動(dòng)化測(cè)試OTA 1.9k 0
自動(dòng)化、智能化測(cè)試企業(yè)燕麥科技發(fā)布2022第一季度報(bào)告
自動(dòng)化、智能化測(cè)試企業(yè)深圳市燕麥科技股份有限公司發(fā)布2022第一季度報(bào)告，具體內(nèi)容如下。 一、 主要財(cái)務(wù)數(shù)據(jù) （一）主要會(huì)計(jì)數(shù)據(jù)和財(cái)務(wù)指標(biāo) 單位：元 幣...
2022-06-01 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試智能化 1.9k 0
為什么要做自動(dòng)化測(cè)試？測(cè)試工程師存在的必然性
軟件測(cè)試這個(gè)過(guò)程的實(shí)施主體就是測(cè)試工程師。那么多少個(gè)測(cè)試工程師比較合適呢，或者換句話說(shuō)如上的事情必須要測(cè)試工程師完成嗎？
2024-01-16 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試軟件測(cè)試測(cè)試工程師 1.8k 0
電源管理芯片自動(dòng)化測(cè)試：測(cè)試流程與測(cè)試項(xiàng)目
可通過(guò)檢測(cè)以下指標(biāo)參數(shù)來(lái)評(píng)估電源芯片的性能：輸入/出電壓范圍、輸出紋波、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、反饋端電壓、欠壓關(guān)斷及欠壓恢復(fù)滯后、輸入偏置電流、輸出電...
2024-05-06 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試電源管理芯片 1.8k 0
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