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標(biāo)簽 > 芯片
芯片,又稱微電路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成電路(英語(yǔ):integrated circuit, IC)。是指內(nèi)含集成電路的硅片,體積很小,常常是計(jì)算機(jī)或其他電子設(shè)備的一部分。
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采用電力線載波方式實(shí)現(xiàn)電能網(wǎng)絡(luò)管理系統(tǒng)的應(yīng)用方案
傳統(tǒng)的電能表由于不能自動(dòng)抄收、控制用戶用電量而導(dǎo)致的諸如抄表收費(fèi)困難,電費(fèi)回收滯后、竊電等一系列管理問(wèn)題。磁卡或IC卡電表是以卡上攜帶的電量為基準(zhǔn),實(shí)施...
基于TMS320F2812實(shí)現(xiàn)數(shù)字逆變電源的設(shè)計(jì)
稀土超磁致伸縮換能器是利用超磁致伸縮材料將電磁能轉(zhuǎn)換為機(jī)械振動(dòng)的器件,與目前廣泛使用的壓電陶瓷換能器相比,具有工作范圍廣、轉(zhuǎn)換效率高、響應(yīng)速度快等優(yōu)點(diǎn),...
CMOS工藝中方塊電阻的主要類(lèi)型和測(cè)試方法
電阻的測(cè)試分為方塊電阻和接觸電阻,方塊電阻是電路設(shè)計(jì)的重要組成部分,其阻值準(zhǔn)確性嚴(yán)重影響電路的性能,F(xiàn)ab廠通過(guò)WAT參數(shù)方塊電阻Rs監(jiān)測(cè)它們。
基于ARM芯片LPC2214和μC/OS-II實(shí)現(xiàn)數(shù)字微波監(jiān)控系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
隨著嵌入式系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的普及和深入,在更加復(fù)雜的應(yīng)用中傳統(tǒng)軟件開(kāi)發(fā)手段難以滿足需求,嵌入式操作系統(tǒng)在開(kāi)發(fā)中扮演著越來(lái)越重要的角色,已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于手機(jī)、移動(dòng)...
基于LabVIEW軟件和PCl-5640R數(shù)據(jù)卡實(shí)現(xiàn)和雷達(dá)回波模擬器的設(shè)計(jì)
現(xiàn)如今,為雷達(dá)檢測(cè)提供回波模擬信號(hào)的雷達(dá)回波模擬器層出不窮,而絕大多數(shù)模擬器采用微型計(jì)計(jì)算機(jī)+數(shù)字信號(hào)處理器件(DSP)+數(shù)模轉(zhuǎn)換(D/A) 的方式。這...
先進(jìn)封裝 Chiplet 技術(shù)與 AI 芯片發(fā)展
共讀好書(shū) 張志偉 田果 王世權(quán) 摘要: AI芯片是被專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于加速人工智能計(jì)算任務(wù)的集成電路。在過(guò)去幾十年里,AI芯片經(jīng)歷了持續(xù)的演進(jìn)和突破,促進(jìn)著人...
采用單片機(jī)AT89C2051和AD7416芯片實(shí)現(xiàn)多路溫濕度循環(huán)檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
用單片機(jī)AT89C2051來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)AD7416的信號(hào)采集和輸出控制,硬件設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單可靠,系統(tǒng)溫度節(jié)點(diǎn)可擴(kuò)展性強(qiáng)。為確保系統(tǒng)不受電源波動(dòng)的干擾,采用電源電壓...
2020-04-12 標(biāo)簽:芯片單片機(jī)檢測(cè)系統(tǒng) 2.4k 0
遠(yuǎn)場(chǎng)圖 (FFP:Far Field Pattern) 輻射到離芯片端面足夠遠(yuǎn)的地方的光的強(qiáng)度分布稱為遠(yuǎn)場(chǎng)圖。 半導(dǎo)體激光器發(fā)出的光并不都是直線光,因衍...
以EDA開(kāi)發(fā)系統(tǒng)為核心的電子搶答器設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
在初始狀態(tài)時(shí)。主持人可以設(shè)置答題時(shí)間的初時(shí)值。在主持人對(duì)搶答組別進(jìn)行確認(rèn),并給出倒計(jì)時(shí)計(jì)數(shù)開(kāi)始信號(hào)以后,搶答者便可開(kāi)始回答問(wèn)題。此時(shí),顯示器從初始值開(kāi)始...
提供了一系列三維堆疊設(shè)計(jì)流程,通過(guò)將二維芯片網(wǎng)表分解成雙層的三維堆疊結(jié)構(gòu),用戶可以探索三維堆疊裸片系統(tǒng)相對(duì)于傳統(tǒng)二維設(shè)計(jì)的性能優(yōu)勢(shì),改善內(nèi)存延遲,實(shí)現(xiàn)性能突破。
可靠性試驗(yàn)的定義與重要性可靠性試驗(yàn)是一種系統(tǒng)化的測(cè)試流程,通過(guò)模擬芯片在實(shí)際應(yīng)用中可能遇到的各種環(huán)境條件和工作狀態(tài),對(duì)芯片的性能、穩(wěn)定性和壽命進(jìn)行全面評(píng)...
2025-02-21 標(biāo)簽:芯片測(cè)試可靠性試驗(yàn) 2.4k 0
放線電壓Bleed Voltage 控制在整個(gè)線弧成型過(guò)程當(dāng)中,金 線在進(jìn)行釋放動(dòng)作時(shí)的超音波輸出能量.放線電壓在焊線頭完成 反向位移后開(kāi)始進(jìn)行線弧...
2023-07-03 標(biāo)簽:芯片半導(dǎo)體芯片壓焊工藝 2.4k 0
基于PID控制策略和3C2410芯片實(shí)現(xiàn)中央空調(diào)末端裝置遠(yuǎn)程控制設(shè)計(jì)
中央空調(diào)末端控制器是中央空調(diào)系統(tǒng)中最重要的裝置之一,對(duì)于中央空調(diào)的節(jié)能有著重要意義。現(xiàn)有的中央空調(diào)末端風(fēng)閥啟/??刂朴惺謩?dòng)開(kāi)閉控制和固定時(shí)間調(diào)度的風(fēng)量控...
推動(dòng)AI高性能計(jì)算的先進(jìn)封裝解決方案
在半導(dǎo)體前段制程微縮日趨減緩后,異質(zhì)整合先進(jìn)封裝技術(shù)已然成為另一個(gè)實(shí)現(xiàn)功能整合與元件尺寸微縮的重要技術(shù)發(fā)展潮流。伴隨著人工智能物聯(lián)網(wǎng) (AI-centr...
2023-12-19 標(biāo)簽:芯片半導(dǎo)體封裝設(shè)計(jì) 2.4k 0
Chiplet關(guān)鍵技術(shù)與挑戰(zhàn)
半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)正在進(jìn)入后摩爾時(shí)代,Chiplet應(yīng)運(yùn)而生。介紹了Chiplet技術(shù)現(xiàn)狀與接口標(biāo)準(zhǔn),闡述了應(yīng)用于Chiplet的先進(jìn)封裝種類(lèi):多芯片模塊(MC...
ASIC(Application Specific Integrated Circuit)是專(zhuān)用集成電路的縮寫(xiě),是一種用于特定應(yīng)用的定制芯片。ASIC芯...
2024-04-19 標(biāo)簽:芯片asic電路設(shè)計(jì) 2.4k 0
使用高速PCIe或USB接口提高測(cè)試性能并允許在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試
長(zhǎng)期以來(lái),IC測(cè)試的基本挑戰(zhàn)一直保持不變。所有測(cè)試策略的核心是可控性和可觀察性。首先,使用已知的測(cè)試向量控制芯片的狀態(tài),然后觀察芯片以確定其行為是良好還...
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