ATE核心配置提供了構(gòu)建更智能的自動化測試系統(tǒng)所需的儀器

ATE核心配置提供了構(gòu)建更智能的自動化測試系統(tǒng)所需的儀器，機械，安全和電源基礎(chǔ)架構(gòu)

2020-07-27 標(biāo)簽：測試系統(tǒng)儀器ATE 1.4k 0

工程師需要知道關(guān)于ICT測試針床的這些

ICT測試針床產(chǎn)品類別：ICT單面針床、ICT雙面針床 產(chǎn)品特點：采用QA、ingun測試針、日本電針等進口測試針和板材，高精度CNC鉆孔。適用于MSD...

2020-04-14 標(biāo)簽：pcbICTATE 3.3k 0

無矢量測試：高速I/O的最佳選擇

無矢量測試：高速I/O的最佳選擇 大批量制造商必須解決如何經(jīng)濟高效地測試多個多線高速I的難題/O接口 - 例如PCI Express，HyperTran...

2023-11-10 標(biāo)簽：測試矢量ATE 2.3k 0

開放式架構(gòu)ATE解決了測試困境

開放式架構(gòu)ATE解決測試困境 片上系統(tǒng)（SoC）測試提出了無與倫比的挑戰(zhàn)，需要對IC制造商和測試人員的思維方式進行根本改變。千兆赫數(shù)字邏輯的運行速度以及...

2023-11-10 標(biāo)簽：測試socATE 1.8k 0

zpwsmile調(diào)整您的電路板測試ATE以進行高速測量

隨著PCB速度的增加，您可能會發(fā)現(xiàn)您的在線電路板測試ATE失去了動力。當(dāng)速度超過標(biāo)準釘床固定裝置的7至10 MHz限制時，您可以找到在線測試的替代方案，...

2020-02-12 標(biāo)簽：pcbATE華強pcb線路板打樣 3.1k 0

NI使用ATE核心組件配置，幫助降低測試系統(tǒng)設(shè)計和部署成本

新聞發(fā)布– 2017年5月23日 – NIWeek – NI（美國國家儀器，National Instruments，簡稱NI）作為致力于為工程師和科學(xué)...

2017-05-24 標(biāo)簽：自動化測試niate 1.6k 0

基于PXI架構(gòu)打造低成本半導(dǎo)體測試系統(tǒng)

在摩爾定律的發(fā)展極限之下，產(chǎn)生更多裝置連結(jié)與資料分析的需求。也由于物聯(lián)網(wǎng)與智慧手機的發(fā)展，使得類比與RF訊號更顯得重要。未來的訊號，將不再以純類比訊號為...

2014-09-05 標(biāo)簽：PXIATESTS 1.7k 0

MAX19005低功耗ATE引腳電子IC

MAX19005四個通道，超低功耗，引腳電子IC包括兩個層次的引腳驅(qū)動器，一個窗口比較器，一個被動的負載，力和感的Kelvin交換參數(shù)測量單元(PMU)...

2012-01-13 標(biāo)簽：ATEMAX19005 3.4k 0