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TD-LTE研發(fā)技術(shù)試驗 - 如何快速準(zhǔn)確的仿真多天線環(huán)境

2011年08月14日 09:54 C114中國通信網(wǎng) 作者:秩名 用戶評論(0
 TD-LTE研發(fā)技術(shù)試驗的要求

  研發(fā)技術(shù)試驗包括兩類測試。一類是上行解調(diào)測試,主要是驗證基站在指定的信道環(huán)境下接收機的解調(diào)性能,要求得到在不同吞吐量下的信噪比,對接收機性能做出評估和比對。

  

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  圖2 上行解調(diào)測試結(jié)構(gòu)圖-SR5500M

  另一類是雙向測試,主要驗證MIMO,MIMO加beamforming的在不同信道環(huán)境下雙向測試,要求畫出吞吐量與信噪比的曲線,對整體性能做出評估和比對。

  

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  圖3 雙向8*2測試結(jié)構(gòu)圖-VR5-HD

  從以上測試要求可以看到,信道衰落環(huán)境仿真起著至關(guān)重要的作用,要求信道模型真實,噪聲電平、輸出功率等精確易控,設(shè)備可靠,同時因為環(huán)境復(fù)雜,要求信道模擬器連接盡量簡單,操作方便,測試效率高等。

  2.1 硬件基本要求

  在上行解調(diào)的測試中,要求單向8通道的測試能力,無需外部設(shè)備或衰減器。

  在雙向測試中,要求雙向8通道的測試能力,無需外部設(shè)備或衰減器,相位校準(zhǔn)方便、精度高、校準(zhǔn)周期盡量長等。

  輸入輸出應(yīng)具備實時功率計,并支持實時的脈沖模式測量以滿足TD-LTE的要求,實時觀察各端口功率。

  儀表具有良好的可靠性,各端口具備過載功率保護措施,不易損壞。

  儀表的維修和校準(zhǔn)應(yīng)該在本地,在出現(xiàn)異常情況能快速處理并恢復(fù)。

  功能要求

  支持所有信道模型:支持基于幾何地理的SCME模型和IMT-A M.2135規(guī)定的信道模型。

  信道模型必須是基于幾何地理方法的,不能用基于相關(guān)矩陣的信道模型來近似。

  支持天線極化和天線方向性的設(shè)置。

  儀表的功率精確,保證輸出的信噪比精確,對測試結(jié)果的評估至關(guān)重要。

  儀表具備較高的動態(tài)范圍,測試要求的信噪比及噪聲功率需要覆蓋非常寬的范圍,要求儀表的動態(tài)范圍盡可能大,這樣保證可以滿足最低和最高的功率要求,找到設(shè)備的臨界點。

  思博倫先進信道模擬解決方案

  

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( 發(fā)表人:葉子 )

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