上行測試需要使用單向的1*8環(huán)境，支持SCME、IMTA信道模型，基站設置為交叉極化，終端設置為垂直極化，天線具有方向性。

　　在每種信道模型下，通過調整信噪比獲得不同的吞吐量。

　　可方便的遍歷終端速度、信噪比設置等。

　　上行解調測試可用SR5500M或VR5，下圖是SR5500M的例子：

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　　圖7 上行解調測試連接

　　信道模型為實時的SCME或IMTA M.2135模型：

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　　圖8 SCME信道模型實時配置

　　3.3.2雙向8*2測試

　　雙向測試需要使用雙向的8*2環(huán)境，支持SCME、IMTA信道模型，基站設置為交叉極化，終端設置為垂直極化，天線具有方向性。

　　雙向測試必須保證上下行信道的互易性。所以開始測試前，需要執(zhí)行相位校準。并保證相位校準的精度。相位校準的間隔應該盡量長。VR5-HD的校準精度在20M的帶寬里達到5°，請校準周期可達到1周。大大提高了測試效率。

　　VR5內置雙工器，無需添加然后外部器件即可完成雙向測試：

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　　圖9 雙向8*2連接

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　　圖10 雙向8*2配置

　　小結

　　TD-LTE因為更多的天線，以及因為beamforming而必須同時進行上下行的雙向測試，給實驗室的信道模擬帶來了較大的挑戰(zhàn)。同時TD-LTE需要全新的業(yè)界最前沿的基于幾何地理的信道模型，給信道模擬器的模擬帶來了新的課題。