理工雷科的毫米波射頻測試專利，通過小型化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，讓待測物不但拆裝方便，還使待測物的輻射口面幾何中心與旋轉(zhuǎn)中心接近重合。不但減小了射頻測試平臺的占用空間，實(shí)現(xiàn)小型化，而且提高了效率和精度，測試更加靈活。

北京理工雷科電子信息技術(shù)有限公司（理工雷科）憑借其在雷達(dá)上優(yōu)異的表現(xiàn)，在18年就正式加入了百度Apollo硬件開發(fā)平臺。但是為了切合雷達(dá)整機(jī)的測試，理工雷科也在毫米波射頻領(lǐng)域不斷深入。

隨著雷達(dá)技術(shù)的發(fā)展和進(jìn)步，毫米波雷達(dá)開始應(yīng)用于汽車電子、無人機(jī)、智能交通、人體安全檢測等多個(gè)民用行業(yè)中。而毫米波測試技術(shù)則是毫米波雷達(dá)產(chǎn)品化、批量化的關(guān)鍵因素，但在測試中，射頻天線和信號處理機(jī)的測試內(nèi)容不同，分系統(tǒng)和整機(jī)的測試內(nèi)容也會有較大區(qū)別，以上特點(diǎn)導(dǎo)致一套雷達(dá)的測試效率過低。雷達(dá)一旦開始批量生產(chǎn)，特別是進(jìn)入到消費(fèi)電子行業(yè)，測試技術(shù)的優(yōu)化成為一個(gè)亟待解決的難題。

現(xiàn)有技術(shù)中，射頻天線的測試設(shè)計(jì)在微波暗室，然而暗室里緊縮場和近場掃描設(shè)備的效率不高但成本極高，不適合批量測試。雷達(dá)整機(jī)的測試設(shè)計(jì)在微波暗室的遠(yuǎn)場條件，不但占用暗室較大空間，而且難以滿足待測物姿態(tài)的高頻次調(diào)整的要求。

為此，理工雷科在2018年6月21日申請了一項(xiàng)名為“一種小型化毫米波射頻測試平臺”的發(fā)明專利（申請?zhí)枺?01810645203.4），申請人為北京理工雷科電子信息技術(shù)有限公司。

圖1 毫米波射頻測試平臺整體結(jié)構(gòu)示意圖

圖1是該專利提出的一種小型化毫米波射頻測試平臺，主要包括桌面暗箱3以及安裝在桌面暗箱3內(nèi)部的近端平臺1、遠(yuǎn)端平臺2、待測物4、射頻工裝5及射頻收發(fā)模塊6。

近端平臺1和遠(yuǎn)端平臺2分別安裝在桌面暗箱3兩端內(nèi)底面上，射頻工裝5安裝在近端平臺1上，待測物4安裝在射頻工裝5上，射頻收發(fā)模塊6安裝在遠(yuǎn)端平臺2上，射頻收發(fā)模塊6與待測物4相對，射頻收發(fā)模塊6面向待測物4發(fā)射或接收毫米波。通過近端平臺1、遠(yuǎn)端平臺2把待測物4和射頻收發(fā)模塊6設(shè)置在半空中，形成較好的無反射電磁環(huán)境。而桌面暗箱3由絕緣外框7和吸波材料組成，可以形成無反射的電磁環(huán)境。

圖2 射頻工裝安裝示意圖

射頻工裝安裝示意圖如圖2所示，從整體來看，射頻工裝5從上到下依次是支架11、橫向平移臺10、方位轉(zhuǎn)向臺9以及近端平臺1。

其中，支架11可以為利用自身底板安裝的待測物4提供正交安裝位，實(shí)現(xiàn)利用平板安裝的待測物4測試時(shí)所需的正交姿態(tài)。橫向平移臺10可以通過橫向長圓孔13內(nèi)的螺釘與方位轉(zhuǎn)向臺9固定連接，如此以來，支架11和橫向平移臺10可以共同沿橫向長圓孔13實(shí)現(xiàn)橫向移動，直至待測物4的輻射口面幾何中心與方位轉(zhuǎn)向臺9旋轉(zhuǎn)中心重合。而方位轉(zhuǎn)向臺9受到電機(jī)控制，可以在水平面按照指令任意旋轉(zhuǎn)，保證待測物4與射頻收發(fā)模塊6相對。

因此，射頻工裝可以實(shí)現(xiàn)待測物在固定區(qū)域內(nèi)移動，讓待測物不但拆裝方便，還使待測物的輻射口面幾何中心與旋轉(zhuǎn)中心接近重合。不但減小了射頻測試平臺的占用空間，實(shí)現(xiàn)小型化，而且提高了效率和精度，測試更加靈活。

理工雷科作為一家院士與高校強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合的企業(yè)之一，堅(jiān)持創(chuàng)新引領(lǐng)、融合發(fā)展，不斷地為用戶提供高質(zhì)量的產(chǎn)品和服務(wù)，同時(shí)也為毫米波雷達(dá)的發(fā)展保駕護(hù)航。

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