電子元器件的外觀缺陷檢測(cè)是一個(gè)非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié)。由于此類產(chǎn)品一般體積較小，質(zhì)量要求較高，很難通過(guò)人工批量檢測(cè)。外觀缺陷的自動(dòng)檢測(cè)需要使用電子元件外觀檢測(cè)設(shè)備。. 由于體積小、精度高，芯片的外觀檢測(cè)一直是行業(yè)痛點(diǎn)，仍需大量人工檢測(cè)。針對(duì)以上問(wèn)題，國(guó)辰機(jī)器人基于深度學(xué)習(xí)的光隔離組件外觀檢測(cè)解決方案。

【檢測(cè)的問(wèn)題】

需要檢測(cè)的缺陷包括劃痕、臟污、破損、鼓包、漏液、露白、凸底、尺寸異常等

【檢測(cè)原理】

捕獲的目標(biāo)由CCD工業(yè)相機(jī)轉(zhuǎn)換成圖像信號(hào)，送入專用的圖像處理系統(tǒng)，根據(jù)像素分布和亮度信息轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào);圖像系統(tǒng)對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行各種操作，提取目標(biāo)的特征，然后根據(jù)判別結(jié)果控制現(xiàn)場(chǎng)設(shè)備操作。該設(shè)備實(shí)現(xiàn)了元器件尺寸測(cè)量和外觀缺陷檢測(cè)、自動(dòng)上料、自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)分揀、自動(dòng)卸料、不良品自動(dòng)剔除的自動(dòng)化流程。

機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)應(yīng)用領(lǐng)域領(lǐng)域廣泛，如連接器外觀檢測(cè)，電容器外觀檢測(cè)，電感器外觀檢測(cè)，電阻器外觀檢測(cè)，PIN針外觀檢測(cè)，變壓器外觀檢測(cè)，晶圓尺寸及外觀缺陷檢測(cè)等。

審核編輯：符乾江