在本系列的第 1 部分中，我們介紹了數(shù)據(jù)表中的嵌入式模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC) 性能可能無法代表您的應(yīng)用的原因。這些原因包括在芯片系統(tǒng) (SoC) 的其余部分處于安靜狀態(tài)時(shí)對(duì) ADC 進(jìn)行表征，考慮整個(gè)信號(hào)鏈，而不僅僅是孤立的 ADC（因?yàn)?a target="_blank">運(yùn)算放大器會(huì)降低信號(hào)，減少轉(zhuǎn)換后的 ADC 輸出），以及一些影響性能的配置主題。在本期中，我們將分享更多詳細(xì)信息，以幫助您為應(yīng)用程序選擇正確的時(shí)鐘和正確的參考。

時(shí)鐘選擇

時(shí)鐘抖動(dòng)會(huì)影響 ADC 對(duì)于非 DC 信號(hào)的信噪比 (SNR)。更高的 SNR 意味著有更多的信號(hào)和更少的噪音（導(dǎo)致更好的性能）。時(shí)鐘抖動(dòng)會(huì)導(dǎo)致采樣時(shí)間出現(xiàn)偏差。如果與采樣率相比，該偏差很小，那么它不會(huì)對(duì)性能產(chǎn)生太大影響。但輸入信號(hào)頻率越高，SNR 降低的抖動(dòng)就越多。公式 1 顯示了計(jì)算所需 ADC 性能 (SNR) 的最大抖動(dòng)的關(guān)系：

圖 1 以圖形方式顯示了這種影響，并附有一些示例數(shù)字。

理想情況下，數(shù)據(jù)手冊(cè)會(huì)列出每個(gè)時(shí)鐘源的抖動(dòng)，但這種情況很少發(fā)生——或者數(shù)據(jù)手冊(cè)沒有提供計(jì)算所需抖動(dòng)所需的所有信息。外部晶振始終具有最低的抖動(dòng)性能，但如果系統(tǒng)的其他部分不需要晶振，則成本會(huì)增加。外部晶振還需要額外的功率和更長的啟動(dòng)時(shí)間（這會(huì)降低通過循環(huán) ADC 及其貢獻(xiàn)的 IP 所節(jié)省的功率，其中可能包括時(shí)鐘和參考）。表 1 總結(jié)了典型的時(shí)鐘源選項(xiàng)以及與每個(gè)選項(xiàng)相關(guān)的收益和成本。如需更深入地了解時(shí)鐘抖動(dòng)，請(qǐng)參閱參考文獻(xiàn) [1] 和 [2]。

表 1：時(shí)鐘源選項(xiàng)

電壓參考

影響 ADC 性能的參考電壓主要有兩個(gè)部分：精度和電壓。我們?cè)诒鞠盗械牡?1 部分中討論了參考電壓的影響。在這一部分中，我們還將關(guān)注準(zhǔn)確性。

準(zhǔn)確性取決于您使用的參考。對(duì)于集成在 MCU 上的 ADC，參考選項(xiàng)可能包括（按精度遞增的順序）：電源、內(nèi)部參考或外部參考（單獨(dú)的芯片）。

作為參考的電源是最低電流選項(xiàng)，但通常噪聲更大，因?yàn)樗鼮?a href="http://m.makelele.cn/v/tag/8791/" target="_blank">數(shù)字電路（具有開關(guān)噪聲）供電。減輕或保護(hù)模擬電源免受數(shù)字開關(guān)噪聲影響的一種常用技術(shù)是，如果有單獨(dú)的引腳，則在模擬和數(shù)字電源之間使用濾波器。同樣，為了將電源上的噪聲與基準(zhǔn)隔離，您可以使用鐵氧體磁珠（一種無源電子元件）和去耦濾波器將外部電源連接到 ADC 的外部基準(zhǔn)引腳以降低噪聲，如圖 1 所示。鐵氧體磁珠是隔離噪聲的常用做法，尤其是在模擬和嘈雜的開關(guān)數(shù)字 MCU 電源引腳之間。

參考文獻(xiàn) [3] 提供了使用鐵氧體磁珠的詳細(xì)信息，雖然它是圍繞鎖相環(huán) (PLL) 編寫的，但它也適用于 ADC。此外，用于 ADC 參考的電源通常不能直接連接到電池，因?yàn)殡妷簳?huì)在電池的使用壽命內(nèi)衰減。您必須知道 ADC 參考電壓才能計(jì)算 ADC 的轉(zhuǎn)換電壓。

內(nèi)部基準(zhǔn)通常以增加電流消耗為代價(jià)提供比電源更低的噪聲。即使如上所述，電源已被過濾并應(yīng)用于外部參考路徑，內(nèi)部參考通常也是一種低噪聲選項(xiàng)。

ADC 的轉(zhuǎn)換結(jié)果有意義，因?yàn)闇y(cè)量是從參考的角度進(jìn)行的。如果參考的精度很差，那么轉(zhuǎn)換結(jié)果的精度就會(huì)很差。不僅要提供準(zhǔn)確的參考，而且要在寬溫度范圍內(nèi)提供準(zhǔn)確的參考，這在嵌入式工藝中是很難做到的，這也是考慮使用外部參考的好理由。

外部參考具有更好的精度和更低的溫度系數(shù)/漂移，這通常是選擇參考的兩個(gè)主要決定因素。外部參考電壓的溫度系數(shù)為每攝氏度百萬分之個(gè)位數(shù)，而集成的 MCU 參考電壓范圍為 25 ppm/°C 至 50 ppm/°C。

表 2 概述了內(nèi)部（集成）和外部參考之間的收益和成本。參考文獻(xiàn) [4] 詳細(xì)介紹了如何選擇參考電壓以及示例誤差和精度計(jì)算。

表 2：ADC 參考選擇選項(xiàng)

通常，您將使用滿足性能需求的最便宜或功耗最低的參考選項(xiàng)。要查看所需的性能，請(qǐng)考慮以下四個(gè)主要參考誤差因素：

準(zhǔn)確度——電壓變化。

溫度系數(shù)——電壓隨溫度漂移的程度。對(duì)于溫度范圍，請(qǐng)使用您產(chǎn)品的溫度規(guī)格。

電源抑制比 (PSRR) – 參考電壓在您的應(yīng)用使用的器件電源范圍內(nèi)變化多少。如果您的應(yīng)用程序向 MCU 施加穩(wěn)壓電壓，則該值很?。娫醇y波）。

負(fù)載調(diào)節(jié)——如果參考僅進(jìn)入 ADC，您可以忽略負(fù)載調(diào)節(jié)。如果不是，則使用來自用于 ADC 參考的電壓源的總負(fù)載。

您可以使用表 3 中的計(jì)算示例來幫助您計(jì)算所需的值。

表 3：計(jì)算示例

使用外部基準(zhǔn)來提高整個(gè)溫度范圍內(nèi)的直流基準(zhǔn)精度有兩種選擇：

校準(zhǔn)。校準(zhǔn)是一個(gè)多步驟過程，需要在生產(chǎn)環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。在生產(chǎn)中，創(chuàng)建一個(gè)查找表（如果溫度范圍很小，則為單個(gè)點(diǎn)）以確定實(shí)際的參考電壓（一些設(shè)備制造商實(shí)際上在設(shè)備生產(chǎn)過程中測(cè)量并存儲(chǔ)在芯片上）并使用軟件中的參考電壓來確定糾正原始 ADC 代碼或針對(duì)不準(zhǔn)確的參考電壓調(diào)整 ADC 結(jié)果。方程2是校正方程：

其中 VREF 是理想的 ADC 參考電壓，measured_VREF 是測(cè)得的 ADC 參考電壓。

如果要在整個(gè)溫度范圍內(nèi)進(jìn)行校正，則需要在 ADC 測(cè)量時(shí)進(jìn)行溫度測(cè)量，以了解要在查找表中使用哪個(gè)測(cè)量電壓參考值。表 3 顯示了一些不同的參考參數(shù)以及可用于改進(jìn)參數(shù)的校準(zhǔn)選項(xiàng)，特別是針對(duì)精度和溫度漂移。

比例測(cè)量。在用于激勵(lì)傳感器的電壓與用作 ADC 的參考電壓相同的應(yīng)用中，該測(cè)量稱為比率測(cè)量。通過使用相同的電壓來激勵(lì)傳感器并提供 ADC 參考電壓，電壓中的任何誤差都會(huì)被抵消。對(duì)于比率測(cè)量，您可以使用外部參考或在設(shè)備外部提供內(nèi)部參考。當(dāng)電流源用于激勵(lì)傳感器時(shí)，您還可以進(jìn)行比率測(cè)量，并且在正負(fù) ADC 參考引腳之間放置一個(gè)電阻器以及通過該電阻器的激勵(lì)電流。參考文獻(xiàn) [5] 討論了使用電阻溫度檢測(cè)器 (RTD) 進(jìn)行比率測(cè)量的示例。

結(jié)論

時(shí)鐘和參考是影響 ADC 性能的兩個(gè)關(guān)鍵組件。在評(píng)估數(shù)據(jù)表性能并與實(shí)際設(shè)計(jì)進(jìn)行比較時(shí)，重要的是要了解您選擇的參考和時(shí)鐘源的差異。

前兩期集中討論了數(shù)據(jù)表與實(shí)際設(shè)計(jì)之間存在差異的原因，強(qiáng)調(diào)了測(cè)試條件和配置的重要性。接下來的兩部分將著眼于如何構(gòu)建一個(gè)解決方案（印刷電路板），該解決方案將與更好地理解數(shù)據(jù)表所帶來的新期望保持一致。