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FICT探針卡,客戶問題的最佳解決方案

加賀富儀艾電子 ? 來源:加賀富儀艾電子 ? 作者:加賀富儀艾電子 ? 2022-07-15 10:45 ? 次閱讀
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探針卡,為半導(dǎo)體器件測試提供最佳解決方案。

探針卡是半導(dǎo)體晶圓測試過程中需要使用的重要零部件,相當(dāng)于測試機(jī)臺的“手”。對于一個成熟的產(chǎn)品來說,當(dāng)產(chǎn)量增長時,測試需求也會增加,而對探針卡的消耗量也將成倍增長。因此,近年來在半導(dǎo)體測試市場快速發(fā)展的帶動下,全球探針卡行業(yè)也得到了快速的發(fā)展。

加賀富儀艾電子代理的品牌FICT一直致力于提供世界領(lǐng)先的互連技術(shù)和服務(wù),該公司利用最先進(jìn)的技術(shù)提供創(chuàng)新的有機(jī) PCB,最適合具有超過 10000 個網(wǎng)絡(luò)的巨大布線容量的探針卡應(yīng)用,實現(xiàn)高質(zhì)量的信號完整性。

FICT探針卡,客戶問題的最佳解決方案

基于半個多世紀(jì)積累的專業(yè)知識和技術(shù),F(xiàn)ICT可為最先進(jìn)的半導(dǎo)體器件測試提供最佳解決方案。

01

布線容量最大化

任何層 IVH 結(jié)構(gòu)都為零件放置設(shè)計提供了巨大的布線容量和靈活性。FICT使用的 F-ALCS 技術(shù)使布線容量超過 35,000 根,是傳統(tǒng) PCB 的兩倍。

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02

更短的交貨時間

通過一次性層壓實現(xiàn) PCB 制造并縮短制造交付周期。FICT的創(chuàng)新技術(shù) F-ALCS 減少了 50% 的流程步驟并縮短了交貨時間。

* 具有一次性層壓的新型任意層 IVH 制造技術(shù)

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* F-ALCS技術(shù)的橫截面(任意層IVH)

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F-ALCS技術(shù)不僅可以實現(xiàn)巨大的布線容量,還可以縮短制造周期。

03

超過500mm尺寸PCB的IVH結(jié)構(gòu)

通過將IVH技術(shù)應(yīng)用于大尺寸基板(> 500 mm),消除了在正面和背面安裝部件的限制以及PTH通孔對布線容納密度的限制。

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應(yīng)用領(lǐng)域與結(jié)構(gòu)

隨著晶圓尺寸的增大和同時測量 DUT 的增加,對具有巨大布線能力的大型探針卡 PCB 的需求也在增長。FICT為最先進(jìn)的設(shè)備的晶圓測試提供各種無存根 VIA 結(jié)構(gòu)和高速傳輸技術(shù)。

01

技術(shù)應(yīng)用

FICT針對升級要求提供優(yōu)化的探針卡 PCB 技術(shù),解決同時測量 DUT 增加和細(xì)間距探測。

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(注) DUT: Device Under TEST

02

PCB結(jié)構(gòu)及其優(yōu)勢

FICT提出了多種 PCB 結(jié)構(gòu)來升級探針卡的規(guī)格要求。每種 PCB 結(jié)構(gòu)的特性如下所示。

057df322-03e8-11ed-ba43-dac502259ad0.png


與FICT的產(chǎn)品相比,每種結(jié)構(gòu)的優(yōu)勢

03

最適合被測設(shè)備的結(jié)構(gòu)

FICT針對半導(dǎo)體器件的探針卡要求提出優(yōu)化的 PCB 結(jié)構(gòu),解決高速操作、窄間距探測和同時測量 DUT 增加的問題。

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適用于每種類型 DUT 的結(jié)構(gòu)

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PCB規(guī)格概要

探針卡的有機(jī) PCB 應(yīng)用及其 PCB 規(guī)格。

01

閃存有機(jī)探針卡

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02

DRAM內(nèi)存有機(jī)探針卡

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03

邏輯 LSI 用有機(jī)探針卡

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0615b0ae-03e8-11ed-ba43-dac502259ad0.png

04

最適合被測設(shè)備的結(jié)構(gòu)

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關(guān)于F-ALCS技術(shù)的更多詳細(xì),我們后續(xù)將為大家作介紹。

關(guān)于FICTFICT一直致力于提供世界領(lǐng)先的互連技術(shù)和服務(wù),為實現(xiàn)富裕生活做出貢獻(xiàn)。FICT提供用于超級計算機(jī)、AI 服務(wù)器、5G 通信設(shè)備、半導(dǎo)體測試設(shè)備、車載設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備等的“半導(dǎo)體封裝基板”和“印刷電路板”,這些設(shè)備對于構(gòu)建先進(jìn)的網(wǎng)絡(luò)社會至關(guān)重要。不斷發(fā)展的物聯(lián)網(wǎng)。更多詳情請訪問:https://www.fict-g.com/en/。

關(guān)于加賀富儀艾電子(上海)有限公司

加賀富儀艾電子(上海)有限公司原為富士通電子,其業(yè)務(wù)自2020年12月并入加賀集團(tuán),旨在為客戶提供更好的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品和服務(wù)。在深圳、大連等地均設(shè)有分公司,負(fù)責(zé)統(tǒng)籌加賀富儀艾電子在中國的銷售業(yè)務(wù)。加賀富儀艾電子(上海)有限公司的主要銷售產(chǎn)品包括Custom SoCs (ASICs), 代工服務(wù),專用標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品(ASSPs),鐵電隨機(jī)存儲器,繼電器,GaN(氮化鎵),MCU電源功率器件,它們是以獨立產(chǎn)品及配套解決方案的形式提供給客戶,并廣泛應(yīng)用于高性能光通信網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、手持移動終端、影像設(shè)備、汽車、工業(yè)控制、家電、穿戴式設(shè)備、醫(yī)療電子、電力電表、安防等領(lǐng)域。更多詳情請訪問:https://www.kagafei.com/cn。

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:半導(dǎo)體晶圓測試過程中不可或缺的“手”

文章出處:【微信號:Fujitsu_Semi,微信公眾號:加賀富儀艾電子】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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