晶圓鍵合技術正得到越來越多的關注。
先進封裝大概可以分為兩大類趨勢:一個是小芯片(chiplet)。
小芯片將傳統(tǒng)上較大型的集成電路分拆成許多較小的功能模組,先個別予以優(yōu)化,再使用這些已優(yōu)化的小芯片組織新的次系統(tǒng)。這樣可以重復使用IP,大幅加速產(chǎn)品設計的速度以及降低設計成本。
至于各個小芯片之間的連接,依靠底下中介層(interposer)內(nèi)的金屬連線。此連線的密度當然遠高于傳統(tǒng)的線路板或封裝I/O所能支援的密度,大幅增加線路運作頻寬(bandwidth)、增大平行運算的操作空間。
另一個方向自然是異構集成(heterogeneous integration)。
將不同制程或不同材料的芯片堆疊在一起,以整合方式提升、擴充組裝元件的功能。除了已經(jīng)商業(yè)化的方法外,基本上有芯片-晶圓(Chip-on-Wafer;CoW)及晶圓-晶圓(Wafer-on-Wafer;WoW)等兩種鍵合形態(tài)。二者在鍵合后都需要再切割晶粒,但是也有例外。CoW程序較復雜,所以WoW可能早些普及。
晶圓間鍵合的技術又有很多種,現(xiàn)在已經(jīng)進入商業(yè)化的技術之一是“銅-銅混合鍵合”(Cu-Cu hybrid bonding),這也是本文討論的主題。
銅-銅混合鍵合技術是將兩片欲鍵合在一起的晶圓,各自完成制程最后一步的金屬連線層,此層上只有兩種材質(zhì):銅及介電質(zhì)。介電質(zhì)可以是氧化硅或高分子材料,二者各有優(yōu)缺點,使用何種物質(zhì)依制程需要而定。由于晶圓鍵合時牽涉到銅及介電質(zhì)兩種材料介面,所以稱之為混合鍵合。
兩片晶圓面對面鍵合時是銅金屬對銅金屬、介電值對介電質(zhì),兩邊鍵合介面的形狀、位置完全相同,晶粒大小形狀也必須一樣。所以使用混合鍵合先進封裝技術的次系統(tǒng)產(chǎn)品各成分元件必須從產(chǎn)品設計、線路設計時就開始共同協(xié)作。
混合鍵合制造約略如下:兩邊晶圓在完成最上層的金屬制造后,經(jīng)化學機械研磨(Chemical-Mechanical Polishing;CMP)及清洗后,兩片晶圓面對面對齊(alignment)。介電質(zhì)先經(jīng)離子活化(ion activation),兩邊介電質(zhì)接觸后產(chǎn)生共價鍵。兩邊銅的表面原先較介電質(zhì)稍低,在退火(annealing)時因膨脹系數(shù)較介電質(zhì)為大而增高接合,兩邊銅離子因相互擴散(diffusion)進入對方而形成密切的永久性接合。
晶圓平坦化(planarization)不足、殘留粒子、對齊誤差及金屬介面孔隙(void)等均有可能影響元件特性或失效。
目前混合鍵合機臺已有多家設備廠商投入量產(chǎn)。如EVG、SUSS MicroTech、TEL、AML等,典型機臺如EVG的Gimini系列。由于現(xiàn)代設備廠商在銷售機臺時多附有機臺相關之基礎制程,混合鍵合制程的開發(fā)通常不算是嚴峻的挑戰(zhàn)。
目前銅混合鍵合的封裝制程良率已經(jīng)可以到達一般后段封裝的典型良率99%以上。一部分原因是于此技術的累積發(fā)展與已經(jīng)商業(yè)化的機臺設備同步,但是更重要的原因是兩邊芯片的設計團隊期前的設計溝通,在重復單元區(qū)留下適度的冗余(redundancy),當鍵合時發(fā)生缺陷時,有足夠的空間來使用。
混合鍵合的最大特色是芯片對外連接金屬墊(metal pad)的尺度是“半導體制程級”的。相較于之前用于中介板的微凸塊(microbump)間距40um,混合鍵合的鍵合間距可以小達1~2um,限制尺寸的原因主要來自于對齊的精確程度,還有進一步改善的空間。
這樣的鍵合間距代表每平方公分芯片面積可以承擔百萬個連接,這比任何既存的封裝方式都有幾個數(shù)量級的提升。
連線鍵合數(shù)目愈多意味著兩個芯片之間容許更高頻寬的溝通,有利于平行運算,也容許較高電流。功能模組之間的連線也較尋常方式更短,所以速度快、噪音低、功耗也較小。另外混合鍵合本來就是異構集成、3D堆疊先進封裝中的一種方法,所以二者的優(yōu)點也自然都有。
商業(yè)應用混合鍵合的半導體產(chǎn)品,首先是Sony的CIS。CIS有幾個組成部分:畫素陣列(pixel array)、類比數(shù)位轉換器(Analog-to-Digital Converter;ADC)、影像訊號處理器(Image Signal Processor;ISP)。畫素陣列基本上是1層多晶硅(polysilicon)與5層金屬的制造;ADC與ISP則是1層多晶硅與10層金屬的制程,二者的制程差距甚遠,符合“異質(zhì)”特征,應該分別制造。二者的3D芯片堆疊還能縮小鏡頭尺寸,所以Sony早在2016年就將分別制造的畫素陣列晶圓與ADC+ISP晶圓混合鍵合,替代原來在同一芯片的設計制造。
由于混合鍵合大幅增加金屬連線密度,使得ADC可以平行處理畫素,大幅提升畫面處理的能力,譬如全域快門(global shutter)、影片的每秒幀數(shù)(frame per second)等。目前的設計趨勢是向每個畫素都有獨立的ADC方向邁進。
進一步的工作是將DRAM也加入CIS的3D堆疊,做為畫素處理的緩沖存儲器(buffer memory)。Sony和三星電子(Samsung Electronics)都有此設計,只是DRAM堆疊位置不一。影像在車輛的應用,譬如用來偵測前方物體距離的時差測距(Time of Flight;ToF)的單光子雪崩探測器(Single Photon Avalanche Detector;SPAD);或在工業(yè)的應用,譬如機器視覺(machine vision),都可能需要再加入能執(zhí)行邊緣計算(edge computing)芯片。CIS啟動混合鍵合的商業(yè)應用,歷史較長,較長遠的應用規(guī)劃也漸入視野。
另外一個也進入商業(yè)量產(chǎn)的應用是3D NAND。平面NAND的存儲器細胞陣列(memory cell array)與其他邏輯線路-包括微控制器(microcontroller)、位址寄存器(address register)等,是放在同一芯片上的。
3D NAND 的存儲器細胞陣列持續(xù)往3D方向堆疊,但是邏輯線路上方卻空無一物,嚴重浪費珍貴的芯片內(nèi)部空間(real estate)。
所以長江儲存首先以XtackingTM技術將邏輯線路部分以混合金鍵合方式置于存儲器細胞陣列之下,大幅提高芯片內(nèi)部面積使用效率。其他公司后來也采取類似方法。不過在此例中,金屬墊的密度不需要特別地高。
混合鍵合技術的新應用中,最引人注目的當屬高效能計算(High Performance Computing;HPC)。HPC在晶圓代工的產(chǎn)能中占據(jù)最顯著的分量。
HPC架構主體主要含處理器和存儲器。處理器通常以最先進的邏輯制程制造,但是存儲器(DRAM)的制程進展較邏輯制程緩慢,這個就產(chǎn)生落差。
兩者之間溝通落差限制整體表現(xiàn),而且制程也截然不同,屬于“異質(zhì)”。
解決兩者之間效能落差的方法之一是利用平行處理?,F(xiàn)在的處理器通常具有多個數(shù)量的內(nèi)核(cores),每個內(nèi)核需要支援其運作的個別存儲器。數(shù)量如此多的內(nèi)核-存儲器之間的連線需要多個I/O節(jié)點以及高頻寬,這就是十年前開始出現(xiàn)高頻寬存儲器(High Bandwidth Memory;HBM)需求的驅(qū)動原因。
HBM是用2.5D封裝技術將CPU與超過8個DRAM堆疊封裝,其處理器與存儲器之間的連接是透過芯片的微鍵(microbond)連接底下中介層的金屬線至另外的芯片,如此一來I/O與連線的密度都可以大幅增加。
對于常用于AI常用的GPU芯片,其內(nèi)核的功能比較專一,所以每個內(nèi)核的面積較小,一個芯片里內(nèi)核的數(shù)目動輒上千。每個內(nèi)核所需要對應存儲器容量不需要很大,但是因為內(nèi)核與存儲器的數(shù)目有數(shù)量級的提升,連線及I/O的數(shù)目要求更高,此時銅混合鍵合就能提供其所需要的效能。
這個應用也是目前多家代工廠、DRAM廠的技術及業(yè)務能力擴展方向。
2022年3月Graphcore發(fā)布于臺積電造的Bow IPU號稱是世界第一個3D WoW處理器,利用到的是混合鍵合的另一種優(yōu)勢。兩片晶圓一邊是AI處理器及其協(xié)作的存儲器,主要包括1,47兩個IPU(Intelligent Processor Unit,Graphcore為其處理器的命名)以及與各IPU協(xié)作的獨立900MB的分散式SRAM;另一個芯片負責提供電源。如此結構設計,Graphcore宣稱可以提升效能40%以及節(jié)省功耗16%。
AMD最近的Ryzen系列也因為不同的原因采取混合鍵合技術,雖然使用的是CoW的技術,而非WoW。AMD將CPU中面積較大的L3 cache單獨拿出并擴增容量、單獨生產(chǎn),在不增加CPU系統(tǒng)面積的情況下,增加可用的SRAM容量,減少一般數(shù)據(jù)處理必須傳送到DRAM的需求,因而提升速度、減少功耗。
其他混合鍵合的應用現(xiàn)在可預見的還包括無線通信、AIoT、PMIC等。在混合鍵合的制造成本下降后,應用領域還有可能延拓得更廣泛。從芯片異質(zhì)整合、效能提升、減少功耗、縮小面積等的幾個優(yōu)點考量,只要混合鍵合的成本下降至各優(yōu)點的價值臨界點后,技術的采用將會一一浮現(xiàn)。學習已經(jīng)商業(yè)化的、正在醞釀中的應用并且分析其得失,是尋找新應用的必要學習過程。
晶圓鍵合是近十幾年快速發(fā)展起來的新興半導體加工技術,在MEMS,CIS和存儲芯片等領域有著重要的應用,得到越來越多的關注。
審核編輯 :李倩
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原文標題:銅混合鍵合的發(fā)展與應用
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