隨著測(cè)試模式壓縮的落后，需要新的技術(shù)來(lái)控制測(cè)試時(shí)間。

自半導(dǎo)體器件僅包含少數(shù)門的早期以來(lái)，制造測(cè)試領(lǐng)域一直專注于如何在最短的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)出數(shù)量最多的潛在缺陷。多年來(lái)，這一基本目標(biāo)沒(méi)有改變，并在5nm及以后繼續(xù)存在。

然而，多年來(lái)發(fā)生巨大變化的是用于實(shí)現(xiàn)最大效率的各種技術(shù)。在早期，功能模式用于測(cè)試設(shè)備，并且對(duì)這些模式進(jìn)行故障分級(jí)以確定實(shí)現(xiàn)的覆蓋范圍。隨著設(shè)備尺寸的增長(zhǎng)，創(chuàng)建一組有效的功能模式以達(dá)到必要的質(zhì)量水平很快變得太困難了。隨著基于掃描的測(cè)試的發(fā)展，這導(dǎo)致了結(jié)構(gòu)測(cè)試的出現(xiàn)，多年來(lái)，它提供了必要的測(cè)試效率，直到指數(shù)級(jí)的設(shè)計(jì)尺寸增長(zhǎng)最終造成了損失。

通常情況下，需求推動(dòng)創(chuàng)新，測(cè)試模式壓縮的概念被開(kāi)發(fā)出來(lái)以應(yīng)對(duì)快速增長(zhǎng)的模式數(shù)量。在過(guò)去十五年左右的時(shí)間里，測(cè)試模式壓縮算法已經(jīng)發(fā)展到穩(wěn)步提高可實(shí)現(xiàn)的壓縮級(jí)別，如今已達(dá)到 1000 倍。算法壓縮現(xiàn)在正在失去動(dòng)力，需要新技術(shù)來(lái)控制測(cè)試時(shí)間。一種非常有前途的新方法是使用機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)來(lái)幫助指導(dǎo)模式生成過(guò)程。初步實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，測(cè)試模式數(shù)量顯著減少。

另一種使用量迅速增長(zhǎng)的方法從完全不同的角度解決了測(cè)試時(shí)間縮短問(wèn)題。與其試圖進(jìn)一步改進(jìn)壓縮算法，不如修改設(shè)計(jì)本身，使其本質(zhì)上更易于測(cè)試，從而需要更少的測(cè)試模式。這種方法涉及對(duì)網(wǎng)表進(jìn)行小的局部修改，稱為測(cè)試點(diǎn)，以提高特定內(nèi)部信號(hào)的可控性或可觀察性。通常，添加的測(cè)試點(diǎn)越多，測(cè)試模式的減少就越大。

然而，使用測(cè)試點(diǎn)的一個(gè)主要問(wèn)題是它們施加的額外區(qū)域。最終需要 3% 到 5% 的區(qū)域開(kāi)銷來(lái)實(shí)現(xiàn)所需的模式數(shù)量減少的情況并不少見(jiàn)?，F(xiàn)在，由于每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都由一個(gè)觸發(fā)器組成，該觸發(fā)器驅(qū)動(dòng)添加到功能網(wǎng)絡(luò)中的幾個(gè)門，因此可以通過(guò)在多個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間共享觸發(fā)器來(lái)大幅減少總區(qū)域開(kāi)銷。最多可減少十倍的面積開(kāi)銷。

但是，在物理上靠近的測(cè)試點(diǎn)之間共享翻牌至關(guān)重要。如果沒(méi)有身體意識(shí)，你最終會(huì)得到一堆無(wú)法布線的擁擠的電線。Synopsys 集成解決方案由用于測(cè)試點(diǎn)選擇的 SpyGlass DFT ADV 和用于物理感知測(cè)試點(diǎn)合成的 DFTMAX 組成，獨(dú)特地避免了這一巨大問(wèn)題。

測(cè)試挑戰(zhàn)曲線看不到盡頭。毫無(wú)疑問(wèn)，需要持續(xù)不斷的測(cè)試解決方案創(chuàng)新，以跟上不斷增長(zhǎng)的設(shè)計(jì)尺寸以及不斷發(fā)展的質(zhì)量和可靠性要求。

審核編輯：郭婷