光纖微裂紋檢測(cè)儀使G-lens長(zhǎng)度測(cè)量更精確
昊衡科技推出的光纖微裂紋檢測(cè)儀，可用于光器件、光模塊、硅光芯片等器件的高精度長(zhǎng)度測(cè)量，分辨率可達(dá)1微米，是國(guó)產(chǎn)裂紋檢測(cè)儀中的佼佼者。
光纖微裂紋檢測(cè)儀G-lens是自聚焦透鏡，一種折射率分布沿徑向漸變的柱狀光學(xué)透鏡。自聚焦透鏡的分布沿徑向逐漸減小，能夠使沿軸向傳輸?shù)墓猱a(chǎn)生連續(xù)折射，從而實(shí)現(xiàn)出射光線平滑且連續(xù)的匯聚到一點(diǎn)，下面是用OLI對(duì)G-lens長(zhǎng)度的測(cè)量。
單波長(zhǎng)漸變折射率透鏡(G-lens)與插芯耦合示意圖端面為斜8°的單波長(zhǎng)漸變折射率透鏡（G-lens）與帶光纖的插芯耦合在一起，測(cè)量G-lens長(zhǎng)度。
G-lens實(shí)際示意圖測(cè)試結(jié)果如圖4所示，第一個(gè)峰值為插芯與G-lens耦合面反射峰，第二個(gè)峰值為G-lens尾端反射峰，測(cè)試結(jié)果中dx=2.9mm為G-lens光程長(zhǎng)度，是在折射率為n1=1.467（設(shè)備默認(rèn)折射率）下測(cè)得，而G-lens的實(shí)際折射率為n2=1.6，則G-lens的實(shí)際長(zhǎng)度為L(zhǎng)=dx*n1/n2=2.66mm。
OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀測(cè)量結(jié)果OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀可以精確定位整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，實(shí)現(xiàn)微米級(jí)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。
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