隨著AI技術(shù)應(yīng)用越來(lái)越廣，算力需求激增，光通信系統(tǒng)正加速向小型化、高密度、多通道方向演進(jìn)。硅光芯片、高速光模塊等核心器件內(nèi)部的光纖通道數(shù)量成倍增加，波導(dǎo)結(jié)構(gòu)愈發(fā)精細(xì)，傳統(tǒng)檢測(cè)手段因分辨率不足、效率低下，難以精準(zhǔn)定位微米級(jí)損傷或耦合失效點(diǎn)，成為制約產(chǎn)品良率和性能的瓶頸。相比于傳統(tǒng)光纖鏈路測(cè)量方法（如功率計(jì)、插回?fù)p儀、紅光筆、光譜儀等），昊衡科技自主研發(fā)的OLI光纖微裂紋檢測(cè)儀可分布式測(cè)量光鏈路中所有位置的回波損耗，實(shí)現(xiàn)一鍵掃描，內(nèi)部結(jié)構(gòu)反射強(qiáng)度的可視化測(cè)量。

OLI的核心技術(shù)：光學(xué)低相干檢測(cè)

OLI即Optical Low coherence Interrogator，其基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)（Optical Coherence Detection），通過(guò)白光（寬譜光）的低相干性原理，實(shí)現(xiàn)了對(duì)光纖鏈路和光學(xué)器件的亞毫米級(jí)空間分辨率探測(cè)，靈敏度高達(dá)-100dB，可精準(zhǔn)捕捉微裂紋、斷點(diǎn)、耦合異常等缺陷。其技術(shù)亮點(diǎn)包括：

高精度定位

采樣分辨率達(dá)1μm，事件點(diǎn)精度達(dá)百μm，可清晰呈現(xiàn)光鏈路中每個(gè)事件節(jié)點(diǎn)（如連接器端面、芯片波導(dǎo)接口）的回波損耗分布，快速鎖定故障位置。

分布式測(cè)量

OLI區(qū)別于傳統(tǒng)的功率指標(biāo)測(cè)量，其最大特點(diǎn)即是可在某一長(zhǎng)度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)分布式強(qiáng)度信號(hào)測(cè)量，一鍵掃描，可查看最長(zhǎng)90cm范圍內(nèi)每個(gè)位置點(diǎn)的反射信號(hào)強(qiáng)度，協(xié)助客戶判斷待測(cè)品中各種精細(xì)結(jié)構(gòu)端面異常情況，耦合好壞，微彎損耗，微裂紋點(diǎn)等。

快速自動(dòng)化檢測(cè)

升級(jí)后的OLI支持多通道測(cè)試，并且添加了精準(zhǔn)掃描功能，客戶可根據(jù)實(shí)際需要測(cè)量的范圍精準(zhǔn)設(shè)置掃描位置，2cm長(zhǎng)度掃描范圍僅需1.5秒，適配產(chǎn)線高速測(cè)量需求，效率提升超80%。同時(shí)，設(shè)備還開(kāi)發(fā)了遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)傳輸功能，可實(shí)時(shí)傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)到客戶自己的云端數(shù)據(jù)庫(kù)，方便出貨調(diào)用或后期失效查閱。

可對(duì)硅光芯片、高速光模塊、光纖連接器、復(fù)雜的光路耦合系統(tǒng)等場(chǎng)景進(jìn)行測(cè)量，并可支持FC、LC、SC、MPO、MT、PC或APC等多種接頭類(lèi)型及端面類(lèi)型測(cè)試。

OLI的優(yōu)勢(shì)：從失效分析到工藝優(yōu)化

1. 硅光芯片的“全鏈路透視”

硅光芯片作為5G、AI算力的核心載體，其內(nèi)部光波導(dǎo)與外部光纖的耦合質(zhì)量直接影響信號(hào)傳輸效率。OLI可精準(zhǔn)檢測(cè)耦合面質(zhì)量、FA內(nèi)部裂紋、FA帶纖裂紋及損傷等缺陷，助力優(yōu)化設(shè)計(jì)并提升制造良率。

2. 高速光模塊的產(chǎn)線級(jí)質(zhì)控

面對(duì)400G/800G光模塊的多通道波分復(fù)用架構(gòu)，OLI可快速掃描模塊內(nèi)部光纖鏈路，定位微損傷或連接異常。單次點(diǎn)擊測(cè)量，同時(shí)出所有通道測(cè)量結(jié)果，方便數(shù)據(jù)對(duì)比和分析。

3. 光纖連接器的精密檢測(cè)

隨著光模塊的速率越來(lái)越高、光纖鏈路的越來(lái)越復(fù)雜，光纖連接器早已不再只是傳統(tǒng)的單模單芯了。AI的火熱，使得MPO/MT類(lèi)光纖連接器出貨量激增，相應(yīng)的光纖FA轉(zhuǎn)MPO/MT類(lèi)跳線也是訂單明顯增加。隨著器件模塊的訂單價(jià)值越來(lái)越高，客戶對(duì)此類(lèi)連接頭及帶纖的質(zhì)量要求也越來(lái)越高。分布式回?fù)p檢測(cè)儀（光纖微裂紋檢測(cè)儀）的市場(chǎng)將會(huì)越來(lái)越大。

總結(jié)：以精密丈量，鑄就光纖安全

OLI是一款可以有效幫助研發(fā)工程師解決設(shè)計(jì)問(wèn)題，改進(jìn)生產(chǎn)以及幫助產(chǎn)線解決自動(dòng)化測(cè)試，提高產(chǎn)線效率的高精度測(cè)量設(shè)備。隨著光通信市場(chǎng)的不斷擴(kuò)大，OLI將持續(xù)迭代，以更高精度、更大測(cè)量范圍應(yīng)對(duì)復(fù)雜光器件的檢測(cè)需求。昊衡科技始終致力為客戶提供從研發(fā)到量產(chǎn)的全生命周期質(zhì)量保障，助力客戶構(gòu)建智能化檢測(cè)體系。