各向同性電場(chǎng)探頭通常有 3 個(gè)天線，分別位于 X、Y 和 Z 軸方向。如下列公式，探頭測(cè)量的有效場(chǎng)強(qiáng)是 3 個(gè)軸測(cè)量值之和的均方根。

一些探頭在內(nèi)部的測(cè)量電路測(cè)量振幅之前，確實(shí)是通過(guò)接收到的 X、Y 和 Z 軸的振幅來(lái)確定各向同性值。但這些探頭不能分別顯示每個(gè)場(chǎng)方向的場(chǎng)強(qiáng)，只能測(cè)量各向同性場(chǎng)強(qiáng)。這種方法的缺點(diǎn)是不能將校正值應(yīng)用到獨(dú)立軸上，因此導(dǎo)致測(cè)量不確定度較高。更精確的做法是使用獨(dú)立測(cè)量3軸的探頭上把3個(gè)軸的測(cè)量值結(jié)合起來(lái)。這種探頭能夠分別顯示 X、Y 和 Z 方向的場(chǎng)強(qiáng)及各向同性值。因此可以單獨(dú)測(cè)量校正因子并將其應(yīng)用于每個(gè)軸，從而達(dá)到盡可能高的精度。

探頭校準(zhǔn)

校準(zhǔn)場(chǎng)探頭時(shí)，會(huì)在一個(gè)場(chǎng)方向（例如垂直方向）上產(chǎn)生一個(gè)已知的場(chǎng)強(qiáng)。探頭 (EUT) 被放置在該已知場(chǎng)中時(shí)，其中一個(gè)軸會(huì)平行于生成場(chǎng)。將探頭的 X、Y 和 Z 軸分別平行于場(chǎng)，重復(fù)此校準(zhǔn)過(guò)程。

對(duì)于每個(gè)軸（以及每個(gè)校準(zhǔn)頻率）來(lái)說(shuō)，校正因子的線性表示和計(jì)算公式為：

校正因子也可以用對(duì)數(shù)(dB)表示，計(jì)算方法如下:

3 個(gè)軸校正因子的差異是由天線和探測(cè)器二極管在每個(gè)軸上的微小差異以及探針的形狀造成的。

校正因子的應(yīng)用

可以使用不同的方法將校正因子應(yīng)用于探頭測(cè)得的場(chǎng)強(qiáng)。將校正因子獨(dú)立應(yīng)用于所有軸最準(zhǔn)確的方法是分別測(cè)量 X、Y 和 Z 軸的場(chǎng)強(qiáng)，再用各軸的校正因子進(jìn)行校正：

將校正因子應(yīng)用于每個(gè)軸后，各向同性場(chǎng)強(qiáng)計(jì)算公式如下：

雖然上述方法是最準(zhǔn)確有效的，但是很多EMC軟件包不支持軸的單獨(dú)校正，只允許對(duì)各向同性場(chǎng)強(qiáng)使用整體校正因子進(jìn)行校正。在這種情況下，可以選擇以下兩種方法：

1

?僅對(duì)主軸應(yīng)用校正因子

當(dāng)生成場(chǎng)的方向已知時(shí)，例如在電波暗室中進(jìn)行 EMC 測(cè)試的情況，可以使用以下方法：

場(chǎng)探頭放置在一個(gè)與生成場(chǎng)平行的軸上（例如 X 軸）。在 EMC 軟件中，該軸的校正因子被用于測(cè)量各向同性場(chǎng)強(qiáng)。當(dāng)電波暗室中的主磁場(chǎng)方向與軟件中校正的軸平行時(shí)，可以得到實(shí)際各項(xiàng)同性的近似值。

每次進(jìn)行測(cè)試時(shí)，必須小心地將探頭放置在電波暗室中，使正確的軸平行于場(chǎng)。在電波暗室從水平極化變?yōu)榇怪睒O化時(shí)，必須重新定位探頭，或者在水平和垂直檢測(cè)中使用不同的校正因子（例如，X 軸用于水平測(cè)試，應(yīng)用 X 軸校正因子；Y 軸用于垂直測(cè)試，應(yīng)用 Y 軸校正因子）。

2

?應(yīng)用各項(xiàng)同性校正因子

當(dāng)生成場(chǎng)的方向未知時(shí)，計(jì)算平均校正因子將產(chǎn)生最準(zhǔn)確的結(jié)果。在這種情況下使用以下方法：

從 3 個(gè)軸的校正因子（在校準(zhǔn)報(bào)告中可以找到），可以計(jì)算出現(xiàn)場(chǎng)探頭的各向同性校正因子。計(jì)算公式如下：

各向同性校正因子必須應(yīng)用于使用探頭測(cè)量的各向同性場(chǎng)。也可以單獨(dú)讀取 3 軸，計(jì)算各向同性值，再應(yīng)用各向同性校正因子。

虹科測(cè)試測(cè)量團(tuán)隊(duì)

虹科是在各細(xì)分專(zhuān)業(yè)技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的資源整合及技術(shù)服務(wù)落地供應(yīng)商。在測(cè)試測(cè)量行業(yè)經(jīng)驗(yàn)超過(guò)17年的高科技公司，虹科與世界知名的測(cè)量行業(yè)巨頭公司Marvin Test、Pickering Interface, Spectrum, Raditeq等公司合作多年，提供領(lǐng)域內(nèi)頂尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平臺(tái)的多種功能模塊，以及自動(dòng)化測(cè)試軟件平臺(tái)和測(cè)試系統(tǒng)，通用臺(tái)式信號(hào)源設(shè)備，高速數(shù)字化儀，EMC和射頻測(cè)試方案等。事業(yè)部目前已經(jīng)提供覆蓋半導(dǎo)體、3C、汽車(chē)行業(yè)的超過(guò)25個(gè)大型和超大型自研系統(tǒng)項(xiàng)目。我們的解決方案已在汽車(chē)電子、半導(dǎo)體、通信、航空航天、軍工等多個(gè)行業(yè)得到驗(yàn)證。此外，我們積極參與半導(dǎo)體、汽車(chē)測(cè)試等行業(yè)協(xié)會(huì)的工作，為推廣先進(jìn)技術(shù)的普及做出了重要貢獻(xiàn)。至今，虹科已經(jīng)先后為全國(guó)用戶提供了100+不同的解決方案和項(xiàng)目，并且獲得了行業(yè)內(nèi)用戶極好口碑。