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ERS:專注晶圓溫度針測和扇出型先進封裝,繼續(xù)深耕中國市場

Felix分析 ? 來源:電子發(fā)燒友網(wǎng) ? 作者:吳子鵬 ? 2023-07-10 07:11 ? 次閱讀
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電子發(fā)燒友網(wǎng)報道(文/吳子鵬)溫度控制在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域的應(yīng)用非常廣泛。比如,在單晶爐中,溫度變化會影響到晶體的生長;在芯片測試系統(tǒng)里,溫度在一定范圍的變化,可以看到芯片在工作溫度范圍里,在內(nèi)部熱應(yīng)力、漏電電流電氣性能等關(guān)鍵性能方面的變化;在封裝環(huán)節(jié),出色的溫度控制能夠應(yīng)對晶圓和PCB板的翹曲問題。這樣的案例不勝枚舉。


近日,在ERS媒體見面會上,該公司分享了他們?yōu)?a target="_blank">半導(dǎo)體行業(yè)提供的創(chuàng)新的溫度測試解決方案,包括用于晶圓測試的溫度卡盤、熱拆鍵合/翹曲矯正一體機,以及獨立的翹曲矯正設(shè)備等。

用于晶圓測試的溫度卡盤

探針臺作為晶圓測試的關(guān)鍵設(shè)備,將測試機輸出激勵信號進行互通與信號反饋,最終完成測試數(shù)據(jù)的獲取采集。在晶圓測試的探針臺里,溫度卡盤的作用是提供測試所需要的溫度環(huán)境,比如晶圓測試可能會需要300℃的溫度環(huán)境,或者500℃的溫度環(huán)境。

在極端的溫度下,如果溫度卡盤本身的質(zhì)量不過關(guān),那么就可能導(dǎo)致出現(xiàn)嚴重的熱漂移問題,影響探針和Pad點的對準。ERS自1970年開始涉足晶圓針測溫度控制技術(shù)研究,深知溫度對設(shè)備的測試結(jié)果有著重大影響,致力于推出溫度卡盤系統(tǒng),以滿足市場對溫度測試的需要。公司副總裁兼ERS中國總經(jīng)理周翔指出,“隨著科技的發(fā)展,終端電子產(chǎn)品的種類越來越豐富,對芯片測試的需求也就越多,其中最重要的參數(shù)便是溫度,比如廣泛應(yīng)用在汽車內(nèi)的芯片,就必須要保證在極寒天氣正常運作?!?br />
媒體會上,ERS向參會媒體展示了該公司旗艦溫度卡盤系統(tǒng)——AC3 Fusion。

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AC3 Fusion,圖源:ERS


AC3 Fusion是AC3系列升級迭代的產(chǎn)品,不僅系統(tǒng)本身精進了能耗控制技術(shù),也能夠更好地賦能芯片產(chǎn)業(yè)以及下游終端產(chǎn)業(yè)響應(yīng)全球主要國家和地區(qū)推行的“碳中和”目標。AC3 Fusion主要有以下幾點優(yōu)勢:
? 溫度范圍廣:-60℃- +400℃
? 使用CDA空氣作為制冷劑
? 無與倫比的可靠性和極長的使用壽命
? 近乎于零的維護要求
? 升溫速度極快
? -40℃ - +150℃范圍內(nèi)均勻性穩(wěn)定在±0.5℃
? fA級的超低噪聲指標性能
? 適用于各類手動、半自動、全自動探針臺

除了上述性能有優(yōu)勢以外,AC3 Fusion還提供了三種工作模式,包括AC3模式、Turbo模式和ECO模式。其中,AC3模式沿用傳統(tǒng)AC3溫度卡盤系統(tǒng);Turbo模式與AC3相比,轉(zhuǎn)換時間提高40%,特別適用于零下40度及以下的低溫測試環(huán)境;ECO模式節(jié)約能耗最高可達65%,是理想的室溫或高溫晶圓針測解決方案。

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圖源:ERS electronic


除了主打產(chǎn)品溫度卡盤,ERS也提供很多定制卡盤,比如高壓大電流卡盤、溫度高均勻性卡盤、強真空卡盤、超低噪聲卡盤等,以滿足市場上的差異化需求。

ERS賦能先進封裝發(fā)展

在半導(dǎo)體領(lǐng)域,目前先進封裝概念大熱,主要應(yīng)用面向高性能計算、高端服務(wù)器等領(lǐng)域,擁有倒裝芯片(FlipChip,F(xiàn)C)結(jié)構(gòu)封裝、晶圓級封裝(WaferLevelPackage,WLP)、2.5D封裝、3D封裝等多種形式。知名半導(dǎo)體分析機構(gòu)Yole預(yù)計,到2025年先進封裝的市場規(guī)模將占到整個封裝市場的49.4%,成為后續(xù)封裝市場的主要增長引擎。

面向先進封裝領(lǐng)域,本次媒體會上,ERS介紹了該公司的扇出型晶圓級/面板級熱拆鍵合/翹曲矯正機。

周翔稱,晶粒偏移(Die Shift)和翹曲(Warpage)是目前扇出型封裝面臨的主要問題。ERS公司提供的全自動熱拆鍵合/翹曲矯正一體機ADM330,全自動翹曲矯正機WAT330,以及全自動面板級熱拆鍵合機APDM650等設(shè)備,能夠幫助行業(yè)更好地應(yīng)對這些難題。

ADM330的主要性能優(yōu)勢有:
? 支持300/330mm晶圓
? 集成晶圓翹曲控制系統(tǒng)
? 翹曲測量和激光標記流程化
? 處理過程中對晶圓僅施加極小的壓力
? 溫度范圍:20℃ - 240℃
? 獨特的溫度卡盤設(shè)計使其兼具強真空性能
? 符合GEM300標準,適用于工業(yè)4.0

WAT330的主要性能優(yōu)勢有:
? 可處理化合物晶圓規(guī)格:300mm
? 搭載ERS三溫滑動專利技術(shù)
? 矯正晶圓翹曲能力:±5mm
? 輸出翹曲典型值:<1mm
? 全程檢測并矯正翹曲

APDM650的主要性能優(yōu)勢有:
? 最大可處理的面板規(guī)格:650x650mm
? 溫度均勻性可穩(wěn)定在 ±3℃ @200℃
? 自動脫粘
? 搭載三溫滑動專利技術(shù)
? 根據(jù)不同的EFEM配置實現(xiàn)定制化
? 全程安全操作

另外,慕尼黑當?shù)貢r間5月31日,ERS宣布開發(fā)了一種史無前例的晶圓翹曲測量和分析設(shè)備——Wave3000。得益于其先進的光學(xué)掃描測量方法,Wave3000可以準確地測量晶圓在特定處理位置的變形,并提供全面精準的翹曲分析,這對于確保先進封裝設(shè)備的質(zhì)量至關(guān)重要。

持續(xù)看好中國市場

根據(jù)周翔的介紹,ERS自2018年進入中國市場,發(fā)展非常迅速。2022年,該公司中國區(qū)營收已經(jīng)占到總營收的40%,有著驚人的增速。并且,后續(xù)ERS將加大對中國市場的投入。

慕尼黑當?shù)貢r間6月29日,ERS宣布,公司與上海晶毅電子科技有限公司聯(lián)手在上海成立ERS中國實驗室。這一合作建立的實驗室將為雙方提供一個為客戶展示產(chǎn)品demo、提供現(xiàn)場產(chǎn)品測試的平臺。通過技術(shù)交流和資源共享,更準確地了解客戶的需求,精準定位,從而加速產(chǎn)品開發(fā)和市場推廣速度。

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圖源:ERS


周翔表示,“共同建立實驗室,是與晶毅合作以來一個重要的里程碑。通過共享技術(shù)和資源,我們將能夠更敏銳地了解市場動態(tài)以及客戶需求,從而為客戶提供更及時更優(yōu)質(zhì)的解決方案?!?/p>

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