晶體測(cè)試儀電路圖詳解
這種晶體測(cè)試儀電路的想法源于測(cè)試大量未使用的振蕩器晶體的需要。在沒有適當(dāng)設(shè)備的情況下逐個(gè)測(cè)試晶體將非常緩慢且耗時(shí)。然而，商用晶體測(cè)試儀非常昂貴，這就是這種簡(jiǎn)單的電子晶體測(cè)試儀誕生的原因。
晶體管T1和待測(cè)試晶體一起構(gòu)成一個(gè)完整的晶體振蕩器。電容器C1和C2用作連接到晶體管T1的電容分壓器。如果被測(cè)晶體完好無(wú)損，則電路振蕩。正弦波振蕩電壓饋送到整流電路（d1、D2），并由電容C4濾波。對(duì)于完整的晶體，晶體管T2底部的直流電壓足以使晶體管導(dǎo)通。LED亮起，表示晶體良好。
電子電路用于測(cè)試頻率從100kHz到30MHz的晶體。電流消耗很低：約25mA。
晶體測(cè)試儀電路圖
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晶體測(cè)試儀
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