有人使用STM32H7系列芯片對(duì)某正弦信號(hào)進(jìn)行ADC采樣轉(zhuǎn)換，可發(fā)現(xiàn)最后測(cè)量出來的結(jié)果有點(diǎn)怪怪的，采樣還原的圖形上看感覺被截取了一段，呈現(xiàn)斷層的樣子，如下圖所示：

他還補(bǔ)充說，使用H7系列不同型號(hào)以及不同ADC模塊，都有類似問題，頗為奇怪！

對(duì)于這個(gè)結(jié)果，我之前未曾碰到過。于是找來STM32H7系列開發(fā)板做驗(yàn)證性測(cè)試，以圖復(fù)現(xiàn)問題。

我先利用TIMER加DAC輸出一路正弦波，并將輸出連接到任一ADC通道?？墒遣还芪胰绾螠y(cè)試，怎么也沒發(fā)現(xiàn)采樣結(jié)果有斷層的現(xiàn)象。

后來，他進(jìn)一步補(bǔ)充說，他的被測(cè)信號(hào)是帶偏移的正弦波，峰谷差為50mv,中心電壓在1v到3v之間，頻率為1Khz。通過定時(shí)器控制ADC采樣頻率為2MHz.

這邊根據(jù)他的要求調(diào)整DAC的輸出幅度以及輸出頻率，經(jīng)過反復(fù)測(cè)試仍然沒有發(fā)現(xiàn)他所反饋的斷層現(xiàn)象。

從該用戶咨詢?cè)搯栴}來看，感覺他對(duì)STM32及ADC應(yīng)用還是比較熟悉的。后來經(jīng)同事提醒，會(huì)不會(huì)是客戶在使用ADC前沒做校準(zhǔn)。說實(shí)在的，對(duì)于使用ADC模塊前做校準(zhǔn)應(yīng)該說基本的標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)作了。所以，對(duì)于該用戶我下意識(shí)地不太懷疑他使用ADC前沒做 校準(zhǔn)?，F(xiàn)在又實(shí)在沒法復(fù)現(xiàn)其問題現(xiàn)象，只好試著提醒他ADC校準(zhǔn)的問題。因?yàn)镠7系列ADC校準(zhǔn)包含兩方面，一方面是偏移校準(zhǔn)，一方面是線性校準(zhǔn)。我把這兩個(gè)校準(zhǔn)函數(shù)提供給他參考。

HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1,ADC_CALIB_OFFSET_LINEARITY,ADC_SINGLE_ENDED );

HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1,ADC_CALIB_OFFSET, ADC_SINGLE_ENDED );

后來，該用戶反饋說，他們的確在使用ADC之前做了校準(zhǔn)，不過只做了其中的一個(gè)，即沒有同時(shí)做偏移校準(zhǔn)和線性校準(zhǔn)。當(dāng)他對(duì)ADC模塊做了兩類校準(zhǔn)后一切正常，ADC結(jié)果不再出現(xiàn)詭異現(xiàn)象,恢復(fù)正常?？磥硎窃撚脩舻囊粋€(gè)小失誤，虛驚一場(chǎng)，大折騰一番。

一般來講，在啟動(dòng)STM32ADC模塊前需主動(dòng)做校準(zhǔn)，這是基本操作。在ST提供的庫(kù)函數(shù)里有現(xiàn)存的API函數(shù)可以調(diào)用，不清楚時(shí)可以參考ST公司提供的ADC應(yīng)用例程。

責(zé)任編輯：彭菁