隨著電路集成度的不斷提高，設(shè)計也變得越來越復(fù)雜。芯片設(shè)計在功耗、可測性、跨時鐘域等各個方面都面臨巨大挑戰(zhàn)。從另一個角度看，芯片后期的查錯和糾錯成本越來越高，出于產(chǎn)品上市時間和成本的壓力，芯片設(shè)計團(tuán)隊需要在設(shè)計早期的抽象層就著手提高設(shè)計方案的質(zhì)量。

這種趨勢下，驗(yàn)證在設(shè)計過程中的作用便得以凸顯。動態(tài)驗(yàn)證作為設(shè)計團(tuán)隊的常規(guī)手段，具有出色的錯誤檢測和定位能力，同時可以進(jìn)行軟硬件調(diào)試。然而，這種方式對計算資源和測試時間的需求較高，將會影響速度和研發(fā)成本。相比之下，以靜態(tài)代碼分析和規(guī)則檢查為基礎(chǔ)的靜態(tài)驗(yàn)證工具，可以在設(shè)計的早期階段實(shí)現(xiàn)快速且精準(zhǔn)的驗(yàn)證，從而幫助工程師提高代碼質(zhì)量，增加芯片在設(shè)計初期的可預(yù)測性，目前，動態(tài)驗(yàn)證配合全面的靜態(tài)驗(yàn)證已經(jīng)成為現(xiàn)代IC設(shè)計方法學(xué)的主流。

國內(nèi)有一家企業(yè)就深耕靜態(tài)和動態(tài)驗(yàn)證兩大領(lǐng)域，它就是英諾達(dá)（成都）電子科技有限公司。

英諾達(dá)（成都）電子科技有限公司是一家由行業(yè)頂尖資深人士創(chuàng)立的EDA企業(yè)，公司堅持以客戶需求為導(dǎo)向，幫助客戶實(shí)現(xiàn)價值最大化，為中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)提供卓越的EDA解決方案。公司的長期目標(biāo)是通過EDA工具的研發(fā)和上云實(shí)踐，參與國產(chǎn)EDA完整工具鏈布局并探索適合中國國情的工業(yè)軟件上云的路徑與模式，賦能半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

英諾達(dá)首款自主研發(fā)的EnFortius系列低功耗EDA工具，可有效幫助IC設(shè)計工程師定位并分析低功耗設(shè)計相關(guān)問題。英諾達(dá)的EnCitius SVS系統(tǒng)驗(yàn)證平臺則利用EDA上云的優(yōu)勢，為客戶打通驗(yàn)證資源的渠道，提供全面的SoC及系統(tǒng)級驗(yàn)證的一站式解決方案，提高芯片設(shè)計效率。

為了應(yīng)對集成電路設(shè)計“左移”的趨勢和產(chǎn)品上市時間的挑戰(zhàn)，英諾達(dá)深耕IC靜態(tài)和動態(tài)驗(yàn)證兩大領(lǐng)域，在動態(tài)驗(yàn)證方面，英諾達(dá)的EnCitius SVS產(chǎn)品為客戶提供端到端的全套硬件加速的云解決方案，滿足各類型和應(yīng)用領(lǐng)域的客戶對早期IC設(shè)計功能驗(yàn)證的需求。在靜態(tài)驗(yàn)證方面，英諾達(dá)以低功耗設(shè)計EDA工具為突破口，先后推出了EnFortius系列低功耗設(shè)計檢查（LPC）和網(wǎng)表級功耗分析（GPA）的EDA工具，旨在增強(qiáng)IC及系統(tǒng)在設(shè)計早期的可預(yù)測性，提升設(shè)計代碼質(zhì)量，降低客戶整體開發(fā)成本，并縮短產(chǎn)品的上市時間。此外，英諾達(dá)還可提供完整、可定制的前端和后端設(shè)計服務(wù)。

首屆IDAS設(shè)計自動化產(chǎn)業(yè)峰會將于9月18日在武漢中國光谷科技會展中心舉行。

屆時，英諾達(dá)的副總經(jīng)理熊文將帶來主題為《搭建芯片驗(yàn)證完整版圖——靜態(tài)驗(yàn)證工具及流程》的演講，與大家分享靜態(tài)驗(yàn)證的挑戰(zhàn)及趨勢，對英諾達(dá)靜態(tài)驗(yàn)證EDA工具及流程作詳細(xì)的介紹，同時他也將介紹英諾達(dá)即將推出的一款新的靜態(tài)驗(yàn)證EDA工具以及公司在整個靜態(tài)驗(yàn)證EDA工具版圖中的未來戰(zhàn)略規(guī)劃。

此外，英諾達(dá)也將攜最新產(chǎn)品參展，與產(chǎn)業(yè)上下游及同行交流分享，加強(qiáng)合作。

審核編輯：彭菁