91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

芯片測(cè)試工具之ATECLOUD-IC系統(tǒng)如何測(cè)試電源芯片的穩(wěn)壓反饋?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源: 納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者: 納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-09-25 15:22 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

在一些電源芯片或穩(wěn)壓芯片中,通常內(nèi)部都會(huì)有穩(wěn)壓反饋電路,這些電路可以將輸入電壓通過內(nèi)部調(diào)整后輸出一個(gè)穩(wěn)定的輸出電壓,以滿足電路中的穩(wěn)定電源需求。也就是說芯片的穩(wěn)壓反饋就是內(nèi)部穩(wěn)壓反饋電路中的電壓。

芯片穩(wěn)壓反饋的原理

穩(wěn)壓反饋電路通過比較輸出電壓與參考電壓之間的差值,來控制輸出穩(wěn)定電壓的大小。當(dāng)輸出電壓偏高時(shí),反饋電路會(huì)通過調(diào)整內(nèi)部的電路,降低輸出電壓;當(dāng)輸出電壓偏低時(shí),反饋電路會(huì)提高輸出電,以使其穩(wěn)定在設(shè)定好的電壓范圍內(nèi)。

芯片穩(wěn)壓反饋的測(cè)試

電源芯片的穩(wěn)壓反饋測(cè)試是相對(duì)簡單的項(xiàng)目,因?yàn)橐话愕碾娫葱酒头€(wěn)壓芯片都會(huì)直接把穩(wěn)壓電路封裝好通過FB引腳與外界相連,所以測(cè)試先平的穩(wěn)壓反饋只需使用萬用表測(cè)量FB端的電壓值即可。

電源芯片穩(wěn)壓反饋的測(cè)試需要一臺(tái)多通道直流電源和一臺(tái)數(shù)字萬用表,測(cè)試之前需要使用直流電源給芯片的VIN和EN端輸入電壓和電流,保證芯片正常啟動(dòng),之后只需要在FB端口接入數(shù)字萬用表,測(cè)出FB端口的輸出電壓,此時(shí)萬用表測(cè)出的電壓值即為該芯片的穩(wěn)壓反饋電壓。

wKgaomURNOGAHMRpAAJVn0J3Fkw261.png

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試穩(wěn)壓反饋

使用系統(tǒng)測(cè)試芯片的穩(wěn)壓反饋時(shí),具體步驟基本與手動(dòng)相同,不過因?yàn)樾枰\(yùn)行軟件與儲(chǔ)存數(shù)據(jù),所以相比手動(dòng)測(cè)試來說會(huì)多出一個(gè)邊緣計(jì)算設(shè)備硬件,通過邊緣計(jì)算設(shè)備可以將電腦和測(cè)試儀器硬件連接到同一局域網(wǎng)之內(nèi)就可以進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試了。

ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)只需通過電腦打開瀏覽器登陸ATECLOUD的網(wǎng)址與賬號(hào),即可進(jìn)入方案界面,在項(xiàng)目搭建界面通過指令拓展完成穩(wěn)壓反饋的方案搭建之后,就可以通過方案運(yùn)行界面一鍵進(jìn)行測(cè)試,方案一次搭建終身使用,方案的搭建過程只需5-10分鐘,而整個(gè)測(cè)試過程則只需5-10秒即可完成,同時(shí)可以直接采集儀器上的參數(shù)與指標(biāo),免去人工讀取與記錄的過程。

軟件測(cè)試穩(wěn)壓反饋中最為核心的便是測(cè)試項(xiàng)目的搭建,ATCLOUD-IC采用的是拖拽文字指令的形式,我們會(huì)提前將儀器的操作指令封裝到系統(tǒng)中,用戶使用時(shí)直接拖拽即可,平時(shí)手動(dòng)如何測(cè)試,就選擇對(duì)于的指令,即使沒有編程經(jīng)驗(yàn)的工程師也能輕松上手,同時(shí)項(xiàng)目一次搭建,終身使用,后續(xù)不同規(guī)格、不同參數(shù)的芯片測(cè)試,只需調(diào)整參數(shù)即可,可以提升測(cè)試效率500%,可以幫助企業(yè)極大的減少學(xué)習(xí)成本與人力成本,從而為企業(yè)降本增效提供助力。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • IC
    IC
    +關(guān)注

    關(guān)注

    36

    文章

    6413

    瀏覽量

    185740
  • 芯片測(cè)試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    6

    文章

    176

    瀏覽量

    21154
  • 電源芯片
    +關(guān)注

    關(guān)注

    43

    文章

    1336

    瀏覽量

    82779
  • ATECLOUD
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    54

    瀏覽量

    1352
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評(píng)論

    相關(guān)推薦
    熱點(diǎn)推薦

    開源項(xiàng)目BomberCat安全測(cè)試工具總體介紹

    硬件安全測(cè)試缺一款多技術(shù)融合的利器嗎?今天帶來一款開源安全測(cè)試工具, 集 NFC 與磁條兩大主流卡片技術(shù)于一體,專為銀行終端、門禁系統(tǒng)等設(shè)備的漏洞檢測(cè)打造,支持卡片讀寫、模擬、磁條仿冒等核心功能。
    的頭像 發(fā)表于 02-27 09:19 ?326次閱讀
    開源項(xiàng)目BomberCat安全<b class='flag-5'>測(cè)試工具</b>總體介紹

    深度解析RK3588芯片Linux測(cè)試工具集:硬件性能的全方位核驗(yàn)方案

    在嵌入式開發(fā)領(lǐng)域,芯片的穩(wěn)定性和性能表現(xiàn)直接決定了終端產(chǎn)品的品質(zhì)。針對(duì) Rockchip 旗艦芯片 RK3588,其配套的 Linux 測(cè)試工具集rockchip-test堪稱一套“全能體檢儀
    的頭像 發(fā)表于 02-09 17:06 ?1076次閱讀
    深度解析RK3588<b class='flag-5'>芯片</b>Linux<b class='flag-5'>測(cè)試工具</b>集:硬件性能的全方位核驗(yàn)方案

    芯片CP測(cè)試與FT測(cè)試的區(qū)別,半導(dǎo)體測(cè)試工程師必須知道

    本文聚焦芯片CP 測(cè)試與FT 測(cè)試的核心區(qū)別,助力半導(dǎo)體測(cè)試工程師厘清二者差異。CP 測(cè)試是封裝前的晶圓裸晶集體初篩,借助探針卡接觸焊墊,聚
    的頭像 發(fā)表于 01-26 11:13 ?504次閱讀

    AD8452:電池測(cè)試與形成系統(tǒng)的理想

    AD8452:電池測(cè)試與形成系統(tǒng)的理想選 在電池測(cè)試與形成系統(tǒng)的設(shè)計(jì)領(lǐng)域,AD8452 脫穎而出,成為一款備受關(guān)注的
    的頭像 發(fā)表于 01-14 11:15 ?230次閱讀

    電源模塊紋波測(cè)試方法解析說明(手動(dòng)測(cè)試+自動(dòng)測(cè)試

    DCDC 電源模塊的紋波是輸出電壓中疊加的交流成分,其幅值過大會(huì)干擾下游電路(如芯片、傳感器)的正常工作,甚至導(dǎo)致系統(tǒng)穩(wěn)定性下降。因此,紋波測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 01-09 15:24 ?2960次閱讀
    <b class='flag-5'>電源</b>模塊紋波<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法解析說明(手動(dòng)<b class='flag-5'>測(cè)試</b>+自動(dòng)<b class='flag-5'>測(cè)試</b>)

    嵌入式軟件測(cè)試與專業(yè)測(cè)試工具的必要性深度解析

    嵌入式系統(tǒng)作為控制、監(jiān)視或輔助裝置運(yùn)行的專用計(jì)算機(jī)系統(tǒng),其軟件測(cè)試面臨著獨(dú)特的挑戰(zhàn)和嚴(yán)格的要求。專業(yè)測(cè)試工具在嵌入式軟件開發(fā)過程中發(fā)揮著不可替代的作用,是確保
    發(fā)表于 09-28 17:42

    射頻測(cè)試系統(tǒng)ATECLOUD-RF中都包含哪些設(shè)備?

    納米軟件射頻測(cè)試系統(tǒng)ATECLOUD-RF是基于ATECLOUD平臺(tái)搭建的自動(dòng)化測(cè)試解決方案,主要針對(duì)天線、線纜、傳感器、射頻
    的頭像 發(fā)表于 09-26 16:39 ?1024次閱讀
    射頻<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b><b class='flag-5'>ATECLOUD</b>-RF中都包含哪些設(shè)備?

    芯片硬件測(cè)試用例

    SOC回片,第一步就進(jìn)行核心功能點(diǎn)亮,接著都是在做驗(yàn)證測(cè)試工作,所以對(duì)于硬件AE,有很多測(cè)試要做,bringup階段和芯片功能驗(yàn)收都是在測(cè)試找問題,發(fā)現(xiàn)問題->解決問題循環(huán),因此
    的頭像 發(fā)表于 09-05 10:04 ?998次閱讀
    <b class='flag-5'>芯片</b>硬件<b class='flag-5'>測(cè)試</b>用例

    電源模塊的短路保護(hù)如何通過自動(dòng)化測(cè)試軟件完成測(cè)試

    搭建 自動(dòng)化測(cè)試軟件運(yùn)行于特定測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)之上。以國產(chǎn)化測(cè)試平臺(tái)ATECLOUD電源模塊進(jìn)行重復(fù)
    的頭像 發(fā)表于 09-03 19:10 ?851次閱讀
    <b class='flag-5'>電源</b>模塊的短路保護(hù)如何通過自動(dòng)化<b class='flag-5'>測(cè)試</b>軟件完成<b class='flag-5'>測(cè)試</b>

    電源芯片測(cè)試系統(tǒng)ATECLOUD-IC有哪些方面的優(yōu)勢(shì)?

    ATECLOUD-IC電源芯片測(cè)試領(lǐng)域具備以下顯著優(yōu)勢(shì),有效提升測(cè)試效率、精度與管理能力。
    的頭像 發(fā)表于 08-30 10:53 ?816次閱讀
    <b class='flag-5'>電源</b><b class='flag-5'>芯片</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>:<b class='flag-5'>ATECLOUD-IC</b>有哪些方面的優(yōu)勢(shì)?

    電子測(cè)試行業(yè)中的ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)都兼容了哪些儀器?

    ATECLOUD自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)作為一款無代碼開發(fā)的測(cè)試工具,很多用戶在使用之前都會(huì)比較關(guān)注平臺(tái)中都兼容了哪些儀器。本文整理了一下平臺(tái)中已兼容的品牌和儀器型號(hào)以供參考。
    的頭像 發(fā)表于 08-30 10:52 ?781次閱讀
    電子<b class='flag-5'>測(cè)試</b>行業(yè)中的<b class='flag-5'>ATECLOUD</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>平臺(tái)都兼容了哪些儀器?

    ATECLOUD-POWER電源模塊測(cè)試系統(tǒng)功能詳解

    ATECLOUD-POWERDC-DC電源模塊測(cè)試系統(tǒng),是專為各種高精度電源模塊的研發(fā)和生產(chǎn)開發(fā)的自動(dòng)測(cè)
    的頭像 發(fā)表于 08-18 14:48 ?889次閱讀
    <b class='flag-5'>ATECLOUD</b>-POWER<b class='flag-5'>電源</b>模塊<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>功能詳解

    電子測(cè)試平臺(tái)ATECLOUD中是如何利用AI工具的?

    ATECLOUD 智能云測(cè)試平臺(tái)作為納米軟件獨(dú)立開發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試工具,始終專注于為用戶提供更高效、更優(yōu)質(zhì)的自動(dòng)化測(cè)試解決方案。隨著 5G、AI、數(shù)字化等新興技術(shù)的迅猛發(fā)展與不斷更新,
    的頭像 發(fā)表于 08-04 18:17 ?777次閱讀
    電子<b class='flag-5'>測(cè)試</b>平臺(tái)<b class='flag-5'>ATECLOUD</b>中是如何利用AI<b class='flag-5'>工具</b>的?

    自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)中TestCenter和ATECLOUD有哪些差異?

    ATECLOUD 1. 核心定位與適用領(lǐng)域 ATECLOUD: 面向電子測(cè)量、電源模塊、半導(dǎo)體及通用工業(yè)自動(dòng)化測(cè)試,尤其適用于電源管理、
    的頭像 發(fā)表于 07-25 09:54 ?716次閱讀
    自動(dòng)化<b class='flag-5'>測(cè)試</b>平臺(tái)中TestCenter和<b class='flag-5'>ATECLOUD</b>有哪些差異?

    射頻芯片自動(dòng)化測(cè)試解決方案案例分享

    背景介紹: 北京某公司是一家專注于高性能SAW濾波器和雙工器等系列射頻前端芯片的研發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和銷售的企業(yè)。企業(yè)在測(cè)試其晶圓芯片產(chǎn)品時(shí),由于原有測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 07-23 15:55 ?720次閱讀
    射頻<b class='flag-5'>芯片</b>自動(dòng)化<b class='flag-5'>測(cè)試</b>解決方案案例分享