10月18日下午，凝聚技術(shù)力量，共建測試生態(tài)——集成電路測試技術(shù)交流會在上海成功舉辦。來自全國各地知名專家學者、技術(shù)大咖及企業(yè)代表齊聚一堂，共同探討封裝測試技術(shù)的發(fā)展方向，共話產(chǎn)業(yè)未來，共促產(chǎn)業(yè)發(fā)展。

本次活動在中國集成電路檢測與測試創(chuàng)新聯(lián)盟（簡稱大聯(lián)盟）指導下，由上海北京大學微電子研究院、上海張江管理中心發(fā)展有限公司、杭州加速科技有限公司、上海盛英科技發(fā)展有限公司聯(lián)合主辦。

中國集成電路檢測與測試創(chuàng)新聯(lián)盟副理事長倪昊，上海交通大學微電子學院執(zhí)行院長王國興，上海交通大學微納電子學系助理教授、博士生導師、中國科協(xié)青托祁亮，上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司技術(shù)總監(jiān)余琨，日月新集團中國區(qū)業(yè)務(wù)總監(jiān)包鋒，蘇試宜特(上海)檢測技術(shù)股份有限公司可靠度工程部部長葛金發(fā)，中穎電子股份有限公司技術(shù)負責人凌楠，上海北大微電子研究院院長助理、副研究員蔣樂樂，張江浩成總經(jīng)理助理袁銓，杭州加速科技有限公司董事長鄔剛，杭州加速科技有限公司副總經(jīng)理陳永等嘉賓出席會議。

在開場致辭中，中國集成電路檢測與測試創(chuàng)新聯(lián)盟副理事長倪昊對各位參會領(lǐng)導、行業(yè)專家、企業(yè)代表的到來表示熱烈歡迎。他在致辭中強調(diào)了集成電路封裝測試技術(shù)的發(fā)展對于推動我國集成電路產(chǎn)業(yè)的升級具有重要意義，鼓勵與會嘉賓積極分享經(jīng)驗和見解，共同推動行業(yè)的發(fā)展。

上海交通大學微納電子學系助理教授、博士生導師、中國科協(xié)青托祁亮分享了題為《ADC低功耗設(shè)計及測試》的主題演講。他詳細介紹了ADC低功耗設(shè)計的原理和測試方法，以及如何通過技術(shù)創(chuàng)新降低功耗，提高集成電路的性能。

上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司技術(shù)總監(jiān)余琨發(fā)表了主題演講《Chiplet技術(shù)發(fā)展趨勢及測試挑戰(zhàn)》。她從Chiplet技術(shù)的發(fā)展趨勢出發(fā)，深入探討了在Chiplet技術(shù)應(yīng)用中面臨的測試挑戰(zhàn)，并提出了相應(yīng)的解決方案。

杭州加速科技有限公司副總經(jīng)理陳永分享了題為《ATE測試速度提升的技術(shù)創(chuàng)新》的演講。從測試技術(shù)創(chuàng)新角度切入，分享了加速科技的高性價比的測試設(shè)備和高性能測試方案，為行業(yè)實現(xiàn)測試降本增效提供了新的思考路徑。

日月新集團業(yè)務(wù)副理陳鑫豪以《車規(guī)芯片封測的零缺陷管理》為主題進行分享。他表示車載電子非常強調(diào)芯片的穩(wěn)定性和長期可靠性，車規(guī)芯片封測面臨的是可靠性零缺陷的挑戰(zhàn)，只有不斷提升產(chǎn)品質(zhì)量與可靠度才能建立消費者對車廠的信心，隨后分享了車規(guī)芯片封測過程中的零缺陷管理方法和實踐經(jīng)驗。

蘇試宜特(上海)檢測技術(shù)股份有限公司可靠度工程部部長葛金發(fā)圍繞《元器件檢測驗證與解決方案》進行主題分享，結(jié)合元器件檢測驗證一些實際案例，提出相應(yīng)解決方案。

中穎電子股份有限公司技術(shù)負責人凌楠發(fā)表了主題演講《測試機臺和測試流程的選擇原則》。通過分析決定量產(chǎn)測試ATE和測試流程的因素及其權(quán)重，根據(jù)不同的應(yīng)用場景和客戶需求，給出量產(chǎn)平臺和流程選擇策略建議。

會議期間，與會嘉賓還就集成電路測試技術(shù)的最新發(fā)展、行業(yè)趨勢和未來挑戰(zhàn)等議題展開了深入討論，分享了各自的觀點和經(jīng)驗。

本次研討會圓滿舉行，加速科技和專家學者，技術(shù)大咖深入交流，共同探索測試技術(shù)未來發(fā)展方向。一直以來，加速科技致力于半導體自主測試技術(shù)的研究與開發(fā)，從客戶的真實需求出發(fā)，持續(xù)為半導體企業(yè)的芯片測試帶來專業(yè)化解決方案，為客戶提高效率降低成本，全面提升企業(yè)競爭力。未來，加速也將與行業(yè)伙伴攜手并進，加強合作交流，共探共研，助力國產(chǎn)集成電路產(chǎn)業(yè)鏈健康發(fā)展。

審核編輯 黃宇