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逐光向新,以質取勝——SPEA T100L飛行掃描LED測試儀

SPEA ? 2024-05-25 08:27 ? 次閱讀
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LED正在塑造改變我們的生活方式,從健康照明到電視、手機屏幕等顯示領域,從智能家居到交通建筑,LED為我們的生活帶來諸多便利和驚喜。在過去幾年中,全球LED市場持續(xù)旺盛,細分應用領域進一步擴大,隨之而來的檢測需求也不斷增加。SPEA以領軍者的敏銳洞察力,迅速捕捉新興變化帶來的機遇,基于深厚的技術沉淀和產品創(chuàng)新驅動品牌前行。近期,SPEA推出T100L飛行掃描LED測試儀,為LED照明及顯示領域注入了新活力。


T100L飛行掃描LED測試儀適用于大批量LED生產測試。無論是測試照明產品、高密度LED面板或任何其他類型的LED燈,T100L都可以幫助您識別缺陷、快速、精準地測量多種燈光特性。

T100L內置飛行掃描儀,無需使用昂貴復雜的光纖測試夾具。測試儀可以在一次采集中獲取并處理各個LED的參數(shù),及時發(fā)現(xiàn)不良、精確定位不良,推動LED產線質效提升。

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T100L 主要應用領域

  • 汽車照明 - 大燈,尾燈,內飾燈
  • 工業(yè)照明 - 路燈、高棚燈和泛光燈
  • 醫(yī)療和科學設備LED燈
  • 航空航天應用LED燈照明
  • 消費者照明 - 寫字燈、臺燈和吸頂燈
  • 適用于電視和電腦顯示器的高密度LED面板
  • 適用于廣告和標牌的LED標志和顯示屏

多產品、無光纖測試夾具

帶來最大的靈活性并節(jié)省成本

傳統(tǒng)LED產品通常依賴復雜昂貴的光纖去測試單個LED,每個夾具可測試的產品類型有限。

T100L的無光纖多產品測試夾具,可高度適配多種LED產品,無需考慮其形狀、布局和LED數(shù)量。這不僅有助于減少測試應用成本,還可以提高效率和縮短上市時間,或將成為LED產品批量生產測試的完美解決方案。

無與倫比的精度:寬光譜范圍和微點分析

T100L的飛行測試儀技術可為多種LED燈產品提供精確的診斷和深度分析。這款測試儀在可見光和近紅外光譜中覆蓋448個波段的寬闊光譜范圍,130μm x 130μm的分辨率,可在400-1.000nm的范圍內精準執(zhí)行燈光和色彩測試。

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此外,該測試系統(tǒng)還提供微點測量和分析,通過對每個像素的光譜和光屬性進行粒度級測試和分析,實現(xiàn)無與倫比的診斷功能。

更完整的燈光特性測試

T100L可以執(zhí)行廣泛的LED燈光測試,涵蓋燈光強度、顏色特性、光譜等測量,具有卓越的精確度和深度診斷水平,能確保燈光特性匹配不同應用場景需求。

原創(chuàng)飛行掃描技術

實現(xiàn)高速采集、實時測試

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T100L先進的飛行掃描儀技術可以高效、快速地采集各種LED照明產品的光線。測試儀可配置 4 個飛行頭(2 個頂部 + 2 個底部),每個飛行頭最多配備 2 個獨立 XY軸飛行掃描儀,可獲取整個被測物體表面的光圖像。飛行掃描儀的掃描光束寬度高達240mm,這項飛行掃描技術可以測試最先進的 LED 產品參數(shù),包括 mini-LED 和多 LED器件。

200mm/s的高速掃描可實現(xiàn)多光源的并行采集,帶來更快速、更精準的測試程序。此外,飛行掃描儀技術可以進行實時測試,測試儀可處理和分析采集到的每個光源光譜。

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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