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行業(yè)應用 立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量

h1654156072.2321 ? 來源:h1654156072.2321 ? 作者:h1654156072.2321 ? 2024-07-15 16:53 ? 次閱讀
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隨著工業(yè)的迅猛發(fā)展,精密測量技術(shù)的重要性日益凸顯。位移測量作為幾何量精準測定的關(guān)鍵,不僅要求極高的測量精度,還必須適應多樣化的環(huán)境條件及材料特性,同時趨向于實現(xiàn)實時、無損傷的檢測方式。相較于傳統(tǒng)的接觸式測量技術(shù),光譜共焦位移傳感器以其高速、高精度和強適應性等顯著優(yōu)勢脫穎而出。本文將深入探討光譜共焦位移傳感器在光伏板硅片測量領(lǐng)域的應用。

硅片對射厚度檢測

檢測需求:

1. 對射安裝測試硅片的厚度。

2. 精度要求0.005mm

3. 速度要求:1s測試一片料

wKgZomaU46CAYEudAAAPjJgTf9w44.webp行業(yè)應用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量

檢測方式:雙鏡頭對心安裝,利用一個標準厚度的標定塊,傳感器記錄下這個標準厚度,進行標定。然后將產(chǎn)品進行測量,動態(tài)測量多個點位,將多個點位的值保存下來,去除最大值最小值,然后余下的數(shù)據(jù)做平均。

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行業(yè)應用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量

檢測結(jié)果:測試五片料32組靜態(tài)重復性數(shù)據(jù):靜態(tài)重復精度最大值為2.013μm;

光伏板硅片柵線厚度測量

測量需求:測量太陽能光伏板硅片刪線的厚度(難點:柵線不是一個平整面,自身有一定的曲率,對測量區(qū)域的選擇隨機性影響較大)。

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行業(yè)應用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量

測試方法:單探頭在二維運動平臺上進行掃描測量——將需要掃描測量的硅片選擇三個區(qū)域進行標記,用光譜共焦單探頭單側(cè)測量(柵線厚度是柵線高度-基底的高度差),掃描過程中得到柵線的輪廓圖,柵線厚度=柵線高度與硅片基底的高度差。

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行業(yè)應用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量

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行業(yè)應用|立儀光譜共焦對光伏板硅片厚度測量

測量結(jié)果:測量結(jié)果數(shù)據(jù)對比最大誤差區(qū)間為0.001μm左右。

審核編輯 黃宇

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