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Pickering發(fā)布新一代低漏電流開關(guān)模塊,賦能半導(dǎo)體精密測試

CHANBAEK ? 來源:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 作者:網(wǎng)絡(luò)整理 ? 2024-07-23 17:48 ? 次閱讀
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英國知名的電子測試與驗證解決方案提供商Pickering公司,近日宣布推出一款專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計的新型低漏電流開關(guān)保護(hù)模塊。該模塊聚焦于提升WAT(晶圓驗收測試)等關(guān)鍵測試環(huán)節(jié)中的電流驅(qū)動保護(hù)測量精度,以滿足半導(dǎo)體行業(yè)對極致低漏電流性能的迫切需求。

新款開關(guān)保護(hù)模塊采用創(chuàng)新的開關(guān)隨動保護(hù)層技術(shù),有效隔絕外部干擾,確保測試環(huán)境的純凈與穩(wěn)定。該設(shè)計不僅支持PXI、PXIe及LXI等多種主流測試平臺,還實現(xiàn)了隔離電阻的飛躍性提升,高達(dá)1013Ω,為半導(dǎo)體參數(shù)測試樹立了新的性能標(biāo)桿。

Pickering公司此次推出的低漏電流開關(guān)模塊,是其在模塊化信號切換與仿真領(lǐng)域深厚技術(shù)積累的又一力作。該產(chǎn)品的問世,將極大助力半導(dǎo)體制造商在晶圓驗收測試階段實現(xiàn)更精準(zhǔn)、更可靠的測量結(jié)果,推動半導(dǎo)體產(chǎn)品質(zhì)量的全面提升。

隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,對測試設(shè)備的要求也日益嚴(yán)苛。Pickering公司憑借其卓越的創(chuàng)新能力和對市場需求的精準(zhǔn)洞察,不斷推出符合行業(yè)發(fā)展趨勢的高性能測試解決方案,為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的持續(xù)進(jìn)步貢獻(xiàn)力量。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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