91欧美超碰AV自拍|国产成年人性爱视频免费看|亚洲 日韩 欧美一厂二区入|人人看人人爽人人操aV|丝袜美腿视频一区二区在线看|人人操人人爽人人爱|婷婷五月天超碰|97色色欧美亚州A√|另类A√无码精品一级av|欧美特级日韩特级

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力下的BGA焊點可靠性

jf_17722107 ? 來源:jf_17722107 ? 作者:jf_17722107 ? 2024-11-06 08:55 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

BGA(球柵陣列封裝)是一種常見的集成電路封裝技術(shù),它具有接觸面積大、信號傳輸效率高等優(yōu)點。然而,BGA焊點位于器件底部,不易檢測和維修,而且由于BGA功能高度集成,焊點容易受到機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力的影響,導(dǎo)致開裂或脫落,從而影響電路的正常工作。本文將分析應(yīng)力作用下BGA焊點開裂的原因,并提出相應(yīng)的控制方法。

機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力是BGA焊點開裂的主要因素

機(jī)械應(yīng)力是指物體受到外力而變形時,在其內(nèi)部各部分之間產(chǎn)生的相互作用力。BGA焊點在裝配和使用過程中,可能會受到來自不同方向的機(jī)械應(yīng)力,如振動、沖擊、彎曲等。這些應(yīng)力會導(dǎo)致焊點內(nèi)部產(chǎn)生裂紋,甚至斷裂。

熱應(yīng)力是指物體由于溫度變化而產(chǎn)生的脹縮變形,在外界或內(nèi)部約束的作用下,不能完全自由變形而產(chǎn)生的內(nèi)部應(yīng)力。在高溫作用下,焊點內(nèi)部將持續(xù)產(chǎn)生熱應(yīng)力,導(dǎo)致疲勞累積,造成焊點斷裂。

wKgaomcqvoyAc6cHAAOm0wSYoG4893.jpg

圖1. BGA焊點開裂

IMC過厚會降低焊點可靠性

IMC是焊料與焊盤之間形成的一種金屬化合物,它對焊點的強(qiáng)度和可靠性有重要影響。在無鉛工藝條件下,由于焊接溫度比有鉛工藝更高,時間更長,因而IMC的厚度相對更厚。再加上無鉛焊料本身比較硬,使得無鉛焊點比較容易因應(yīng)力而斷裂。

如果BGA原始的IMC特別厚,即超過10μm,那么,在再流焊接時,IMC很可能發(fā)展成寬的和不連續(xù)的塊狀I(lǐng)MC,如圖所示。這種IMC相對于正常IMC,其抗拉和抗剪強(qiáng)度會低 20%左右,在生產(chǎn)周轉(zhuǎn)和裝配過程中,容易因操作應(yīng)力而斷裂。

wKgZomcqvo6AOEjTAAV_jrS1KME817.jpg

圖2. 塊狀I(lǐng)MC

BGA焊點開裂的控制方法

1.嚴(yán)格管控焊接溫度和時間,避免IMC持續(xù)生長。

2.采用低Ag+Ni無鉛焊料。Ag+Ni無鉛焊料具有優(yōu)良的抗機(jī)械振動性能。 Ag是加速界面IMC生長的元素,Ni對Cu3 Sn的生產(chǎn)具有抑制作用,低Ag+Ni可以有效阻止IMC生長。

3.減輕部件重量、增加機(jī)構(gòu)件如散熱器的托架、增加產(chǎn)品工作時剛性避免劇烈振動等,或變更生產(chǎn)工藝如使用膠黏劑加固等,以此提升焊點抵抗機(jī)械應(yīng)力的能力。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 封裝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    128

    文章

    9249

    瀏覽量

    148614
  • BGA
    BGA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    584

    瀏覽量

    51525
  • 焊點
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    147

    瀏覽量

    13329
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關(guān)推薦
    熱點推薦

    什么是高可靠性

    一、什么是可靠性? 可靠性指的是“可信賴的”、“可信任的”,是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件和規(guī)定的時間內(nèi),完成規(guī)定功能的能力。對于終端產(chǎn)品而言,可靠度越高,使用保障就越高。 PCB
    發(fā)表于 01-29 14:49

    宏展科技淺談通信設(shè)備用光電子器件可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)GR-468(

    GR-468規(guī)定光電子器件需進(jìn)行光電特性、物理性能、機(jī)械應(yīng)力及加速老化測試,確保可靠性。
    的頭像 發(fā)表于 01-29 09:28 ?171次閱讀
    宏展科技淺談通信設(shè)備用光電子器件<b class='flag-5'>可靠性</b>測試標(biāo)準(zhǔn)GR-468(<b class='flag-5'>下</b>)

    ESS應(yīng)力篩選和TC溫循的區(qū)別

    ESS和TC是兩種不同應(yīng)力篩選方法,ESS通過多應(yīng)力復(fù)合提升缺陷檢出率,適用于高可靠性行業(yè),TC則用于常規(guī)產(chǎn)品,成本低且適用廣。
    的頭像 發(fā)表于 01-21 14:01 ?240次閱讀
    ESS<b class='flag-5'>應(yīng)力</b>篩選和TC溫循的區(qū)別

    芯片可靠性面臨哪些挑戰(zhàn)

    芯片可靠性是一門研究芯片如何在規(guī)定的時間和環(huán)境條件保持正常功能的科學(xué)。它關(guān)注的核心不是芯片能否工作,而是能在高溫、高電壓、持續(xù)運行等壓力穩(wěn)定工作多久。隨著晶體管尺寸進(jìn)入納米級別,芯片內(nèi)部猶如一個承受著巨大電、熱、
    的頭像 發(fā)表于 01-20 15:32 ?290次閱讀
    芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>面臨哪些挑戰(zhàn)

    國巨CS0805系列軟端電極電容:高可靠性與抗機(jī)械應(yīng)力的創(chuàng)新解決方案

    能力與機(jī)械性能,尤其適用于高彎曲應(yīng)力電路板、開關(guān)電源、電信基站等對可靠性要求嚴(yán)苛的場景,可在復(fù)雜環(huán)境中保持穩(wěn)定表現(xiàn)。在CS系列中,CS0805系列(尺寸代碼0
    的頭像 發(fā)表于 12-01 16:47 ?660次閱讀
    國巨CS0805系列軟端電極電容:高<b class='flag-5'>可靠性</b>與抗<b class='flag-5'>機(jī)械</b><b class='flag-5'>應(yīng)力</b>的創(chuàng)新解決方案

    太誘MLCC電容的機(jī)械應(yīng)力問題如何解決?

    太誘(TDK)MLCC電容的機(jī)械應(yīng)力問題需從設(shè)計優(yōu)化、工藝改進(jìn)、材料升級及外部防護(hù)等多維度協(xié)同解決,以下為具體解決方案及分析: ?一、設(shè)計優(yōu)化 安裝位置優(yōu)化 規(guī)避應(yīng)力集中區(qū) :將MLCC遠(yuǎn)離電路板
    的頭像 發(fā)表于 09-03 15:25 ?964次閱讀
    太誘MLCC電容的<b class='flag-5'>機(jī)械</b><b class='flag-5'>應(yīng)力</b>問題如何解決?

    PCBA應(yīng)力測試:從標(biāo)準(zhǔn)方法到產(chǎn)業(yè)實踐的可靠性守護(hù)

    PCBA應(yīng)力測試的本質(zhì),是通過量化技術(shù)將“不可見的應(yīng)力”轉(zhuǎn)化為“可分析的數(shù)據(jù)”,為制造與設(shè)計提供科學(xué)依據(jù)。從分板工序的微小形變,到車載環(huán)境的劇烈振動;從BGA焊點的微觀裂紋,到整機(jī)產(chǎn)品
    的頭像 發(fā)表于 07-26 08:40 ?1559次閱讀

    基于硅基異構(gòu)集成的BGA互連可靠性研究

    在異構(gòu)集成組件中,互連結(jié)構(gòu)通常是薄弱處,在經(jīng)過溫度循環(huán)、振動等載荷后,互連結(jié)構(gòu)因熱、機(jī)械疲勞而斷裂是組件失效的主要原因之一。目前的研究工作主要集中在芯片焊點可靠性上,且通常球形柵格陣列(Ball
    的頭像 發(fā)表于 07-18 11:56 ?2462次閱讀
    基于硅基異構(gòu)集成的<b class='flag-5'>BGA</b>互連<b class='flag-5'>可靠性</b>研究

    AEC-Q102 認(rèn)證體系中的機(jī)械可靠性測試

    器件焊點斷裂、結(jié)構(gòu)變形甚至功能失效。AEC-Q102認(rèn)證體系中的機(jī)械可靠性測試,正是通過模擬全生命周期機(jī)械負(fù)載,為汽車光電器件構(gòu)建起一道“物理防線”。
    的頭像 發(fā)表于 07-02 19:23 ?702次閱讀
    AEC-Q102 認(rèn)證體系中的<b class='flag-5'>機(jī)械</b><b class='flag-5'>可靠性</b>測試

    PCB應(yīng)力應(yīng)變測試的要求和原因

    PCBA(Printed Circuit Board Assembly)是指印刷電路板組裝,是電子產(chǎn)品制造過程中重要的一環(huán)。在PCBA的生產(chǎn)過程中,應(yīng)力是一個非常重要的因素,對于產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性
    的頭像 發(fā)表于 06-19 17:53 ?1003次閱讀
    PCB<b class='flag-5'>應(yīng)力</b>應(yīng)變測試的要求和原因

    PCB分板應(yīng)力測試方法和步驟

    PCB機(jī)械應(yīng)力測試的主要目的是評估PCB板在不同環(huán)境條件和負(fù)載條件的性能和穩(wěn)定性。通過應(yīng)力測試可以發(fā)現(xiàn)潛在的設(shè)計缺陷、材料缺陷和制造工藝問題,從而采取相應(yīng)的措施進(jìn)行改進(jìn),以此提高PC
    的頭像 發(fā)表于 06-17 17:22 ?1991次閱讀
    PCB分板<b class='flag-5'>應(yīng)力</b>測試方法和步驟

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測試-WLR晶圓可靠性測試

    和有源區(qū)連接孔在電流應(yīng)力的失效。 氧化層完整:測試結(jié)構(gòu)檢測氧化層因缺陷或高電場導(dǎo)致的擊穿。 熱載流子注入:評估MOS管和雙極晶體管絕緣層因載流子注入導(dǎo)致的閾值電壓漂移、漏電流增大。 連接
    發(fā)表于 05-07 20:34

    BGA封裝焊球推力測試解析:評估焊點可靠性的原理與實操指南

    在電子封裝領(lǐng)域,BGA(Ball Grid Array)封裝因其高密度、高性能的特點,廣泛應(yīng)用于集成電路和芯片模塊中。然而,BGA焊球的機(jī)械強(qiáng)度直接影響到器件的可靠性和使用壽命,因此焊
    的頭像 發(fā)表于 04-18 11:10 ?1903次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>封裝焊球推力測試解析:評估<b class='flag-5'>焊點</b><b class='flag-5'>可靠性</b>的原理與實操指南

    高密度系統(tǒng)級封裝:技術(shù)躍遷與可靠性破局之路

    本文聚焦高密度系統(tǒng)級封裝技術(shù),闡述其定義、優(yōu)勢、應(yīng)用場景及技術(shù)發(fā)展,分析該技術(shù)在熱應(yīng)力機(jī)械應(yīng)力、電磁干擾可靠性問題及失效機(jī)理,探討
    的頭像 發(fā)表于 04-14 13:49 ?1127次閱讀
    高密度系統(tǒng)級封裝:技術(shù)躍遷與<b class='flag-5'>可靠性</b>破局之路

    CMOS可靠性測試中的電荷泵和交流應(yīng)力技術(shù)解析

    對于研究半導(dǎo)體電荷捕獲和退化行為來說,交流或脈沖應(yīng)力對典型的應(yīng)力測試是一個有用的補(bǔ)充。NBTI(負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性)和TDDB(隨時間變化的介電擊穿)試驗包括應(yīng)力/測量循環(huán)。所施加的應(yīng)力
    的頭像 發(fā)表于 03-20 10:08 ?1135次閱讀
    CMOS<b class='flag-5'>可靠性</b>測試中的電荷泵和交流<b class='flag-5'>應(yīng)力</b>技術(shù)解析