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重磅 9項(xiàng) SiC MOSFET測(cè)試與可靠性標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布

半導(dǎo)體芯科技SiSC ? 來(lái)源:半導(dǎo)體芯科技SiSC ? 作者:半導(dǎo)體芯科技SiS ? 2024-11-20 10:56 ? 次閱讀
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原創(chuàng):CASA 第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)戰(zhàn)略聯(lián)盟

2024年11月19日,在第十屆國(guó)際第三代半導(dǎo)體論壇(IFWS)開幕式上,第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟(CASA)(以下簡(jiǎn)稱“聯(lián)盟”)正式發(fā)布9項(xiàng) SiC MOSFET測(cè)試與可靠性標(biāo)準(zhǔn)。這一系列標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布,旨在為SiC MOSFET功率器件提供一套科學(xué)、合理的測(cè)試與評(píng)估方法,支撐產(chǎn)品性能提升,推動(dòng)產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

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李晉閩中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所原所長(zhǎng)、研究員,中關(guān)村半導(dǎo)體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟理事長(zhǎng),半導(dǎo)體照明聯(lián)合創(chuàng)新國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室主任

邱宇峰第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟副理事長(zhǎng)

徐現(xiàn)剛山東大學(xué)教授

張清純清純半導(dǎo)體(寧波)有限公司董事長(zhǎng)

饒進(jìn)華為海思功率器件開發(fā)部部長(zhǎng)

李鉀東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司研發(fā)總院副總工程師

陳媛工業(yè)和信息化部電子第五研究所研究員

萬(wàn)玉喜深圳平湖實(shí)驗(yàn)室主任

共同見(jiàn)證9項(xiàng)SiC MOSFET測(cè)試與可靠性標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布。

在產(chǎn)業(yè)各界的關(guān)注和支持下,2021年起,為促進(jìn)產(chǎn)業(yè)鏈協(xié)同創(chuàng)新發(fā)展,第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟持續(xù)、啟動(dòng)布局了SiC MOSFET功率器件閾值電壓測(cè)試方法、開關(guān)動(dòng)態(tài)測(cè)試方法、柵極電荷測(cè)試方法、高溫柵偏試驗(yàn)方法、高溫反偏試驗(yàn)方法、高壓高溫高濕反偏試驗(yàn)方法、動(dòng)態(tài)柵偏試驗(yàn)方法、動(dòng)態(tài)反偏試驗(yàn)方法、動(dòng)態(tài)高溫高濕反偏試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn)制定工作。希望能夠?yàn)楫a(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新尋求相對(duì)統(tǒng)一的產(chǎn)品評(píng)價(jià)方法,樹立應(yīng)用市場(chǎng)信心,支撐新興市場(chǎng)開拓。

所有聯(lián)盟正式發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)文本,訪問(wèn)聯(lián)盟官方網(wǎng)站
http://www.casa-china.cn/a/casas/upload/免費(fèi)下載。

T/CASAS 021—2024

SiC MOSFET閾值電壓測(cè)試方法

本文件主要起草單位:中國(guó)電子科技集團(tuán)第五十五研究所、南京第三代半導(dǎo)體技術(shù)創(chuàng)新中心有限公司、揚(yáng)州國(guó)揚(yáng)電子有限公司、中國(guó)電子科技集團(tuán)第十三研究所、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、東南大學(xué)、杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司、廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司、浙江大學(xué)、浙江大學(xué)紹興研究院、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、是德科技(中國(guó))有限公司、博測(cè)銳創(chuàng)半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司、北京勵(lì)芯泰思特測(cè)試技術(shù)有限公司、山東大學(xué)、泰科天潤(rùn)半導(dǎo)體科技(北京)有限公司、西安交通大學(xué)、朝陽(yáng)微電子科技股份有限公司、山東閱芯電子科技有限公司、江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司、芯合半導(dǎo)體(合肥)有限公司、廣東能芯半導(dǎo)體科技有限公司、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:劉奧、張國(guó)斌、柏松、黃潤(rùn)華、楊勇、桂明洋、遲雷、陳媛、徐申、孫欽華、李汝冠、郭清、林氦、王丹丹、孫承志、陳彥銳、何黎、崔瀠心、胡惠娜、王來(lái)利、裴云慶、韓冰冰、佘超群、劉宗亮、趙高鋒、趙海明、姜南、高偉。

T/CASAS 033—2024

SiC MOSFET功率器件開關(guān)動(dòng)態(tài)測(cè)試方法

本文件主要起草單位:重慶大學(xué)、華潤(rùn)潤(rùn)安科技有限公司、北京華峰測(cè)控技術(shù)股份有限公司、杭州飛仕得科技有限公司、杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司、是德科技(中國(guó))有限公司、忱芯科技(上海)有限公司、深圳麥科信科技有限公司、浙江大學(xué)、國(guó)網(wǎng)江蘇省電力有限公司經(jīng)濟(jì)技術(shù)研究院、合肥工業(yè)大學(xué)、中國(guó)工程物理研究院電子工程所、蘇州匯川聯(lián)合動(dòng)力系統(tǒng)股份有限公司、泰克科技(中國(guó))有限公司、山東閱芯電子科技有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、株洲中車時(shí)代半導(dǎo)體有限公司、東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司、智新半導(dǎo)體有限公司、西安交通大學(xué)、深圳平湖實(shí)驗(yàn)室、上海瞻芯電子科技股份有限公司、深圳市新凱來(lái)技術(shù)有限公司、中國(guó)第一汽車集團(tuán)有限公司、廣東省東莞市質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:曾正、潘效飛、牛富麗、孫鵬、袁琰、劉偉、孫欽華、孫承志、毛賽君、張興杰、吳新科、孫文濤、趙爽、李俊燾、張?zhí)?、孫川、佘超群、陳媛、王丹丹、楊霏、張雷、常桂欽、李鉀、王民、王來(lái)利、陳剛、王曉萍、黃海濤、杜凱、林曉晨、唐浩銘、李本亮、高偉。

T/CASAS 037—2024

SiC MOSFET柵極電荷測(cè)試方法本文件主要起草單位:東南大學(xué)、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、忱芯科技(上海)有限公司、北京華峰測(cè)控技術(shù)股份有限公司、清純半導(dǎo)體(寧波)有限公司、浙江大學(xué)、西安交通大學(xué)、智新半導(dǎo)體有限公司、蘇州匯川聯(lián)合動(dòng)力系統(tǒng)股份有限公司、是德科技(中國(guó))有限公司、芯聯(lián)集成電路制造股份有限公司、中國(guó)第一汽車集團(tuán)有限公司、杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司、中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、深圳平湖實(shí)驗(yàn)室、江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司、廣東省東莞市質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:魏家行、曹鈞厚、劉斯揚(yáng)、孫偉鋒、陳媛、毛賽君、劉惠鵬、孫博韜、王珩宇、王來(lái)利、王民、張?zhí)?、孫承志、叢茂杰、宋鑫宇、宋瑞超、孫欽華、劉海軍、張雷、李鉀、麥志洪、王曉萍、周紫薇、李夢(mèng)亞、李本亮、高偉。

T/CASAS 042—2024

SiC MOSFET 高溫柵偏試驗(yàn)方法

本文件主要起草單位:忱芯科技(上海)公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、復(fù)旦大學(xué)、杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司、浙江大學(xué)、廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司、深圳市禾望電氣股份有限公司、中國(guó)第一汽車集團(tuán)有限公司、清純半導(dǎo)體(寧波)有限公司、東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司、懷柔實(shí)驗(yàn)室、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、深圳平湖實(shí)驗(yàn)室、安徽長(zhǎng)飛先進(jìn)半導(dǎo)體股份有限公司、浙江大學(xué)紹興研究院、西安交通大學(xué)、中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司、上海維安電子股份有限公司、上海瞻芯電子科技股份有限公司、深圳市大能創(chuàng)智半導(dǎo)體有限公司、東莞南方半導(dǎo)體科技有限公司、廣東省東莞市質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:毛賽君、楊書豪、陳媛、羅濤、陸月明、王珩宇、李汝冠、謝峰、林翰東、李雙媛、孫博韜、李鉀、王民、陳中圓、王丹丹、周紫薇、劉紅超、郭清、林氦、楊奉濤、張雷、唐虎、劉鵬飛、仲雪倩、謝斌、喬良、李本亮、高偉。

T/CASAS 043—2024

SiC MOSFET 高溫反偏試驗(yàn)方法

本文件主要起草單位:忱芯科技(上海)公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、復(fù)旦大學(xué)、杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司、浙江大學(xué)、廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司、深圳市禾望電氣股份有限公司、中國(guó)第一汽車集團(tuán)有限公司、東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司、清純半導(dǎo)體(寧波)有限公司、懷柔實(shí)驗(yàn)室、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、深圳平湖實(shí)驗(yàn)室、安徽長(zhǎng)飛先進(jìn)半導(dǎo)體股份有限公司、浙江大學(xué)紹興研究院、西安交通大學(xué)、中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司、上海維安電子股份有限公司、上海瞻芯電子科技股份有限公司、深圳市大能創(chuàng)智半導(dǎo)體有限公司、廣東省東莞市質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:毛賽君、楊書豪、陳媛、項(xiàng)載滿、陸月明、王珩宇、李汝冠、謝峰、解錕、任志恒、李鉀、王民、孫博韜、陳中圓、王丹丹、周紫薇、劉紅超、郭清、林氦、張彤宇、張雷、王陽(yáng)、唐虎、劉鵬飛、仲雪倩、謝斌、李本亮、徐瑞鵬。

T/CASAS 044—2024

SiC MOSFET 高壓高溫高濕反偏試驗(yàn)方法

本文件主要起草單位:忱芯科技(上海)公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、復(fù)旦大學(xué)、杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司、浙江大學(xué)、廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司、深圳市禾望電氣股份有限公司、中國(guó)第一汽車集團(tuán)有限公司、東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司、清純半導(dǎo)體(寧波)有限公司、懷柔實(shí)驗(yàn)室、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、深圳平湖實(shí)驗(yàn)室、安徽長(zhǎng)飛先進(jìn)半導(dǎo)體股份有限公司、浙江大學(xué)紹興研究院、西安交通大學(xué)、中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司、上海維安電子股份有限公司、上海瞻芯電子科技股份有限公司、深圳市大能創(chuàng)智半導(dǎo)體有限公司、廣東省東莞市質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:毛賽君、楊書豪、陳媛、侯欣藍(lán)、羅潤(rùn)鼎、陸月明、王珩宇、李汝冠、謝峰、陳志玉、孫相超、李鉀、王民、孫博韜、陳中圓、王丹丹、周紫薇、劉紅超、郭清、林氦、王來(lái)利、張雷、王陽(yáng)、劉鵬飛、仲雪倩、謝斌、李本亮、高偉。

T/CASAS 045—2024

SiC MOSFET 動(dòng)態(tài)柵偏試驗(yàn)方法

本文件主要起草單位:清純半導(dǎo)體(寧波)有限公司、復(fù)旦大學(xué)寧波研究院、復(fù)旦大學(xué)、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司、杭州三海電子科技股份有限公司、中國(guó)科學(xué)院微電子研究所、深圳禾望電氣股份有限公司、中國(guó)第一汽車集團(tuán)有限公司、北京華峰測(cè)控技術(shù)股份有限公司、寧波達(dá)新半導(dǎo)體有限公司、智新半導(dǎo)體有限公司、常州銀河世紀(jì)微電子股份有限公司、上海維安電子股份有限公司、東莞南方半導(dǎo)體科技有限公司、中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、深圳平湖實(shí)驗(yàn)室、西安交通大學(xué)、江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司、廣東省東莞市質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:孫博韜、樊嘉杰、侯欣藍(lán)、羅潤(rùn)鼎、史文華、雷光寅、陳媛、左元慧、張俊然、李鉀、馮???、湯益丹、謝峰、崔丁元、于亮、劉惠鵬、袁琰、王民、張海濤、莊建軍、張園覽、劉鵬飛、喬良、王丹丹、萬(wàn)玉喜、陳剛、王來(lái)利、楊奉濤、劉宗亮、李本亮、徐瑞鵬。

T/CASAS 046—2024

SiC MOSFET動(dòng)態(tài)反偏(DRB)試驗(yàn)方法

本文件主要起草單位:工業(yè)和信息化部電子第五研究所、忱芯科技(上海)有限公司、中國(guó)科學(xué)院電工研究所、比亞迪半導(dǎo)體股份有限公司、清純半導(dǎo)體(寧波)有限公司、復(fù)旦大學(xué)寧波研究院、東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、深圳市禾望電氣股份有限公司、杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司、中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、中國(guó)第一汽車集團(tuán)有限公司、廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司、西安交通大學(xué)、深圳平湖實(shí)驗(yàn)室、江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司、廣東省東莞市質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:陳媛、何亮、施宜軍、毛賽君、陳興歡、趙鵬、王宏躍、蔡宗棋、張瑾、吳海平、孫博韜、丁琪超、左元慧、張俊然、李鉀、王民、王丹丹、謝峰、閔晨、楊霏、劉昌、朱占山、張?jiān)妷?mèng)、李汝冠、王來(lái)利、張彤宇、王鐵羊、劉陸川、胡浩林、李煒鴻、趙高鋒、李本亮、高偉。

T/CASAS 047—2024

SiC MOSFET動(dòng)態(tài)高溫高濕反偏(DH3TRB)試驗(yàn)方法

本文件主要起草單位:工業(yè)和信息化部電子第五研究所、忱芯科技(上海)有限公司、中國(guó)科學(xué)院電工研究所、比亞迪半導(dǎo)體股份有限公司、清純半導(dǎo)體(寧波)有限公司、復(fù)旦大學(xué)寧波研究院、東風(fēng)汽車集團(tuán)有限公司、湖北九峰山實(shí)驗(yàn)室、深圳市禾望電氣股份有限公司、杭州芯邁半導(dǎo)體技術(shù)有限公司、中國(guó)電力科學(xué)研究院有限公司、中國(guó)第一汽車集團(tuán)有限公司、廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司、西安交通大學(xué)、深圳平湖實(shí)驗(yàn)室、江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司、廣東省東莞市質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心、北京第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

本文件主要起草人:陳媛、施宜軍、何亮、毛賽君、陳興歡、王宏躍、趙鵬、蔡宗棋、張瑾、吳海平、孫博韜、丁琪超、左元慧、張俊然、李鉀、王民、王丹丹、謝峰、閔晨、楊霏、劉昌、暴杰、徐思晗、李汝冠、王來(lái)利、王鐵羊、劉陸川、胡浩林、李煒鴻、趙高鋒、李本亮、高偉。


審核編輯 黃宇

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    ,以及SiC MOSFET柵極氧化層可靠性受到工藝的影響,在功率模塊中可能出現(xiàn)單個(gè)芯片擊穿導(dǎo)致故障。 ? 比如早期在2019—2022年,特斯拉曾大規(guī)模召回過(guò)Model 3,對(duì)于召回原因的描述是:本次召回范圍內(nèi)車輛的后電機(jī)逆變器
    的頭像 發(fā)表于 06-09 08:03 ?1.3w次閱讀
    理想汽車自研<b class='flag-5'>SiC</b>團(tuán)隊(duì)成果:提高<b class='flag-5'>SiC</b> <b class='flag-5'>MOSFET</b><b class='flag-5'>可靠性</b>的方式

    可靠性測(cè)試包括哪些測(cè)試和設(shè)備?

    在當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)環(huán)境中,產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性成為了企業(yè)立足的根本。無(wú)論是電子產(chǎn)品、汽車零部件,還是智能家居設(shè)備,都需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,以確保在各種復(fù)雜環(huán)境下都能穩(wěn)定運(yùn)行,為用戶提供可靠
    的頭像 發(fā)表于 06-03 10:52 ?1456次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>包括哪些<b class='flag-5'>測(cè)試</b>和設(shè)備?

    半導(dǎo)體測(cè)試可靠性測(cè)試設(shè)備

    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測(cè)試設(shè)備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過(guò)模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境,對(duì)半導(dǎo)體器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性進(jìn)行評(píng)估,確保其在實(shí)際使用中能穩(wěn)定運(yùn)行。以下為你詳細(xì)介紹常見(jiàn)的半導(dǎo)體測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?1285次閱讀
    半導(dǎo)體<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>設(shè)備

    提供半導(dǎo)體工藝可靠性測(cè)試-WLR晶圓可靠性測(cè)試

    無(wú)需封裝:熱阻低,允許施加更高溫度和大電流密度而不引入新失效機(jī)理;實(shí)時(shí)反饋:與工藝開發(fā)流程深度融合,工藝調(diào)整后可立即通過(guò)測(cè)試反饋評(píng)估可靠性影響;行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化:主流廠商均發(fā)布WLR技術(shù)報(bào)告
    發(fā)表于 05-07 20:34

    導(dǎo)遠(yuǎn)兩項(xiàng)產(chǎn)品可靠性測(cè)試規(guī)范獲評(píng)先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)

    近日,導(dǎo)遠(yuǎn)科技提交的兩項(xiàng)關(guān)于電子、模組產(chǎn)品的可靠性測(cè)試規(guī)范經(jīng)廣東省標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)組織專家組評(píng)審后,獲評(píng)廣東省先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)。
    的頭像 發(fā)表于 04-30 10:01 ?789次閱讀

    麥科信光隔離探頭在碳化硅(SiCMOSFET動(dòng)態(tài)測(cè)試中的應(yīng)用

    的電壓信號(hào)出現(xiàn)明顯振蕩或過(guò)沖。同時(shí),探頭的寄生電容可能引入位移電流,使被測(cè)電流信號(hào)疊加額外的寄生電流,影響測(cè)量準(zhǔn)確。 采用麥科信光隔離探頭MOIP200P的SiC MOSFET動(dòng)態(tài)測(cè)試
    發(fā)表于 04-08 16:00

    從IGBT模塊大規(guī)模失效爆雷看國(guó)產(chǎn)SiC模塊可靠性實(shí)驗(yàn)的重要

    深度分析:從IGBT模塊可靠性問(wèn)題看國(guó)產(chǎn)SiC模塊可靠性實(shí)驗(yàn)的重要 某廠商IGBT模塊曾因可靠性問(wèn)題導(dǎo)致國(guó)內(nèi)光伏逆變器廠商損失數(shù)億元,這一
    的頭像 發(fā)表于 03-31 07:04 ?1756次閱讀

    如何測(cè)試SiC MOSFET柵氧可靠性

    MOSFET的柵氧可靠性問(wèn)題一直是制約其廣泛應(yīng)用的關(guān)鍵因素之一。柵氧層的可靠性直接影響到器件的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和使用壽命,因此,如何有效驗(yàn)證SiC MO
    的頭像 發(fā)表于 03-24 17:43 ?2784次閱讀
    如何<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>SiC</b> <b class='flag-5'>MOSFET</b>柵氧<b class='flag-5'>可靠性</b>