半導(dǎo)體測試設(shè)備系統(tǒng)大致包括以下兩部分:半導(dǎo)體測試機和探針臺。
其中,前者負責(zé)測試晶圓器件參數(shù)(如IV,CV,Vt,Ion/Ioff等),或者可靠性(如HCI,NBTI,TDDB等)測試,通常稱作半導(dǎo)體測試儀,簡稱“半測儀”。
而后者是由晶圓承載臺及其配套設(shè)備,如馬達步進驅(qū)動,針座/針卡等構(gòu)成為晶圓測試提供測試支持的設(shè)備系統(tǒng),通常稱作“探針臺”。探針臺根據(jù)測試自動化程度不同,分為這樣三種分類:手動探針臺,半自動探針臺,全自動探針臺。
下面介紹季豐電子的半測儀和探針臺設(shè)備。
半測儀設(shè)備介紹:
Keysight B1500:

B1500半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是一款一體化器件表征分析儀,能夠測量表征大多數(shù)電子器件、材料、半導(dǎo)體和有源/無源元器件的主要基本參數(shù)。其電壓電流的高精度和穩(wěn)定性經(jīng)過多年口碑沉積,是目前半導(dǎo)體業(yè)界標桿式的測試設(shè)備。
| Keysight B1500 | 配置 | 性能 |
| 數(shù)量:1套 |
4個DC SMU測試模塊: (1HPSMU, 3HRSMU) |
Max Voltage : HRSMU+/-100V; HPSMU+/-200V Voltage Resolution :0.5uV Max. Current: +/-100mA Current Resolution :1fA |
概倫FS-PRO
FS-Pro 半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析設(shè)備,在一個系統(tǒng)中實現(xiàn)了電流電壓 (IV)測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發(fā)生與測量、高速時域信號釆集以及低頻噪聲測試能力。
幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在 FS-Pro 測試系統(tǒng)中完成。幾乎所有半導(dǎo)體器件的低頻特性表征都可以在FS-Pro測試系統(tǒng)中完成。其全面而強大的參數(shù)測試分析能力極大地加速了半導(dǎo)體器件與工藝的研發(fā)和評估進程。
|
概倫FS- PRO |
配置 | 性能 |
| 數(shù)量:1套 |
4HVSMU, CV Meter, 脈沖PGU High Speed SMU |
Max Voltage: HVSMU+/-200V Voltage Resolution :0.5uV Max Current: +/-100mA Current Resolution :1fA CV Frequency: 20~2MHz Min. Sampling time: <10ns |
Keysight WAT 4082F
Keysight是德科技WAT 4082是目前業(yè)界主流WAT測試機,其一貫精確和穩(wěn)定的性能有口皆碑。季豐電子和Keysight是德科技開展戰(zhàn)略合作,已引入WAT4082測試機。同時購入Accretech AP3000e全自動探針臺,搭配成完整WAT測試系統(tǒng),如上圖所示。可為客戶提供可靠專業(yè)的WAT相關(guān)測試服務(wù)。
| Keysight 4082F | 配置 | 性能 |
| 數(shù)量:1套 |
1HPSMU, 5MPSMU, CV Meter 脈沖PGU, DVM |
Max Voltage: MPSMU+/-100V; HPSMU+/-200V Voltage Resolution :0.5uV Max Current: +/-100mA Current Resolution :10fA CV Frequency: 1K~1MHz |
另外季豐電子也可以為客戶提供標準或定制所需全自動各類WAT針卡的服務(wù)。
探針臺設(shè)備介紹:
半自動探針臺Formfactor CM300
CM300探針臺是一款優(yōu)秀的晶圓測試支持平臺,可應(yīng)對極其復(fù)雜的環(huán)境帶來的測量挑戰(zhàn),支持8寸和12寸晶圓。其可以靈活穩(wěn)定完成DC、AC 和 RF微波器件特性、WLR等測試任務(wù)。該探針臺設(shè)備可以隨意搭配B1500或概倫FS-PRO半測儀設(shè)備。
| Formfactor CM300 | 配置 | 性能 |
|
數(shù)量:1套 支持搭配B1500 或概倫FS-PRO |
6個針座,包含6根高溫DCP刀片針 |
支持8/12寸晶圓 單片晶圓全自動跳die 測試溫度范圍: 60~300C |
全自動探針臺Accrotech (TSK)
AP3000e

全自動探針臺Accrotech (TSK)AP3000e是高精度、高效率(index移動、晶圓搬送、晶圓對齊)、低震動、低噪音、新一代高性能探針臺。其能力足夠覆蓋大部分半導(dǎo)體器件驗證測試項目。
同時,由于高低溫(-50~150°C)晶圓全自動探針臺的自動対針換片功能的使用,使得多片晶圓和多測試結(jié)構(gòu)的測試效率較之半自動探針臺均有顯著提升。
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Accrotech (TSK) AP3000e |
配置 | 性能 |
|
數(shù)量:2臺 1臺搭配 WAT4082 1臺搭配B1500 或概倫FS-PRO |
支持4070/4080規(guī)格 Probe-Card 針卡或4.5英寸方卡; |
支持8/12寸晶圓測試 全自動跳die和load片 測試溫度范圍: -40~150C |
特別聲明,以上測試設(shè)備所提供的測試服務(wù)均是非量產(chǎn)測試,客戶如需ATE量產(chǎn)CP/FT測試,可以安排在季豐電子的嘉善測試基地執(zhí)行。
季豐電子
季豐電子成立于2008年,是一家聚焦半導(dǎo)體領(lǐng)域,深耕集成電路檢測相關(guān)的軟硬件研發(fā)及技術(shù)服務(wù)的賦能型平臺科技公司。公司業(yè)務(wù)分為四大板塊,分別為基礎(chǔ)實驗室、軟硬件開發(fā)、測試封裝和儀器設(shè)備,可為芯片設(shè)計、晶圓制造、封裝測試、材料裝備等半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈和新能源領(lǐng)域公司提供一站式的檢測分析解決方案。
季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術(shù)中心、研發(fā)機構(gòu)、公共服務(wù)平臺等企業(yè)資質(zhì)認定,通過了ISO9001、 ISO/IEC17025、CMA、CNAS、IATF16949、ISO/IEC27001、ISO14001、ISO45001、ANSI/ESD S20.20等認證。公司員工超1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設(shè)有子公司。
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原文標題:靈活多樣的半導(dǎo)體測試設(shè)備助力季豐電子晶圓測試
文章出處:【微信號:zzz9970814,微信公眾號:上海季豐電子】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。
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