Power Tester功率循環(huán)測試設備可以用于幫助客戶加速完成封裝結構研發(fā)、可靠性測試以及可靠性篩選等工作。作為大功率半導體器件瞬態(tài)測試和功率循環(huán)測試測量行業(yè)的標桿和引領者，具有其他同類設備無法比擬的重大優(yōu)勢，下面讓我們看看它有哪些優(yōu)勢。

1.針對不同行業(yè)的解決方案

——廣泛的硬件配置選擇

無論是小功率單管器件還是Si基MOSFET, IGBT,功率二極管等半導體器件和SiC基Mosfet模塊，Power Tester都能提供各種不同電流不同電壓的版本型號，滿足對以上被測器件進行瞬態(tài)熱測試Rth和功率循環(huán)PC測試。

2.同時兼具瞬態(tài)熱測試Rth和

功率循環(huán)Power Cycling

可以同時進行功率循環(huán)和熱測試模式。

利用功率循環(huán)對待測器件施加老化應力

根據器件達到失效的循環(huán)數預估其壽命

功率循環(huán)期間定期進行熱瞬態(tài)測試，并監(jiān)控系統(tǒng)參數 (VCE 和IGate )

功率循環(huán)期間，任何與老化降級相關的熱效應都可以在不移動待測器件的情況下通過結構函數在線監(jiān)測

系統(tǒng)會根據用戶提前設定的條件增加熱瞬態(tài)測試的頻率

3.操作界面簡單

用戶可以在工業(yè)觸摸屏上通過一步一步導向式快速設置實驗參數和條件，快速完成實驗的初始準備工作。另外通過簡單的操作講解培訓，能讓專業(yè)人員和生產線操作人員更快掌握測試流程和輕松上手使用設備。

4.多種功率循環(huán)施加策略

(符合AQG-324標準)

Power Tester功率循環(huán)測試設備在功率循環(huán)測試和瞬態(tài)熱測試聯合測量模式下，可以支持多達 4 種不同的功率控制模式：恒定加熱電流模式(PCsec)、恒定結溫差模式ΔTj、恒定功率模式ΔP、恒定殼溫差模式ΔTc。

5.支持兩種功率模式短周期&長周期

(PCsec & PCmin)

Power Tester功率循環(huán)測試設備符合AQG-324(2021)標準里的對于PCsec& PCmin功率循環(huán)模式的要求，支持短周期和長周期的循環(huán)實驗。

6.高精度的監(jiān)控和精確的測試結果

功率循環(huán)期間，記錄的數據包括：

電學參數：開關切換前后Vce，柵極電流I(g,off)， ΔP、Icycle、Rdson，VDSon,VDSon cold等

熱學參數：ΔTJ ， Tjmax， Tjmin，ΔTJ / ΔP， Zth以及結構函數等。

7.遠程監(jiān)控

設備運行狀態(tài)都可以遠程使用web界面進行監(jiān)控。實驗數據可通過網線實時網絡傳輸。

8.簡易的操作

設備自帶兩個冷板，實現對封裝類型為冷卻表面的器件進行快速輕松安裝，設備內置了帶觸摸屏的工業(yè)計算機，使用操作非常簡易和方便。

9.安全功能和高可靠性設計

Power Tester功率循環(huán)測試設備具有極高的安全性能。設備具有一個標準4 色信號燈塔，用來指示設備操作的狀態(tài)。在封閉的測量區(qū)域內裝有各種安全傳感器，一旦觸發(fā)，設備可立即停止加熱電流的輸出或設備停機，保證操作人員和設備的安全。

10.了解失效機理和損害的因果關系

Power Tester 功率循環(huán)測試設備在功率循環(huán)測試過程中，監(jiān)控和記錄器件的每個循環(huán)的各種參數值，通過周期性對被測器件進行瞬態(tài)熱測試，最終得到不同周期的結構函數，可以清晰的顯示出被測器件內部的老化降級過程；利用結構函數分析循環(huán)過程中封裝結構的改變和缺陷等，同時可以實時、“原位在線”式的對器件失效原因進行確認和分析，保證測試結果的精度及準確性。