Mini-LED和Micro-LED顯示技術(shù)成為了近期的熱點技術(shù)。這兩種新技術(shù)和現(xiàn)在的LCD及OLED技術(shù)相比有什么優(yōu)勢和聯(lián)系呢？

從下圖可以看出每種顯示技術(shù)的差異，目前行業(yè)在從LCD時代進入OLED時代，未來還將邁入Micro-LED時代。而Mini-LED作為一種過渡性的產(chǎn)品，當(dāng)背光使用時將延續(xù)中大尺寸LCD的壽命，當(dāng)顯示屏使用時，將作為目前LED屏向Micro-LED屏進化的過渡品。

到底什么是Mini-LED和Micro-LED？

簡單說，Mini-LED和Micro-LED就是尺寸更小的LED。Mini-LED通常定義在100-500um，而Micro-LED就要到50-100um以下（以上兩者技術(shù)之間的尺寸的界定是有些模糊的，業(yè)界中有不同定義）。尺寸的不同，會導(dǎo)致工藝的巨大差異。Mini-LED是在現(xiàn)有的LED的工藝基礎(chǔ)上進一步縮小尺寸，所以屬于“量變”級別；而Micro-LED就要達(dá)到“質(zhì)變”的變化，這將是未來幾年替代OLED的變革性技術(shù)，這也是蘋果公司在幾年前就大力投入研發(fā)的原因。但是Micro-LED要真正進入量產(chǎn)，必須克服巨量轉(zhuǎn)移、全彩顯示、亮色度均勻性的問題，所以應(yīng)該還需要數(shù)年迭代才能完成。

應(yīng)用一：背光應(yīng)用（Mini-LED）

Mini-LED可以幫助LCD實現(xiàn)真正的Local Dimming（局部調(diào)光）。比如下面來自BOE的Mini-LED技術(shù)示意圖中，傳統(tǒng)側(cè)入式LED背光是整體常亮的，所以黑色畫面部分還是會有光線漏出來。

而Mini-LED的Local Dimming技術(shù)讓LCD在顯示暗的局部畫面時，不僅降低液晶透過率，同時降低該區(qū)域的Mini-LED的亮度，用戶較終看到的這個區(qū)域的亮度就可以非常低，低亮度的大幅降低就可以提高整個顯示畫面的對比度，而這正是LCD一直被OLED技術(shù)詬病的缺點；

上圖是TCL展示的Local Dimming技術(shù)，當(dāng)使用Local Dimming并且Mini-LED的分區(qū)數(shù)量越多時，月球上的亮區(qū)和周圍的暗區(qū)越能更精確地實現(xiàn)高對比度；

應(yīng)用二：RGB全彩屏（Mini-LED和Micro-LED）

使用Mini-LED或Micro-LED來顯示RGB像素，就能實現(xiàn)自發(fā)光的顯示屏，比如我們?nèi)粘Ｋ姷腖ED大屏；當(dāng)然，尺寸越小，工藝難度越高；比如AR/VR需要更高的ppi和高亮度，所以Micro-LED就是較理想的顯示屏；在較新的2020年的CES展上，已經(jīng)出現(xiàn)了5000PPI高分辨和300萬nit亮度的Micro-LED產(chǎn)品。

基于多年的研發(fā)和打磨，昊量光電（Aunion Tech）公司向市場推出了一系列完美貼合市場需求成像式亮度色度計和晶圓測試臺系統(tǒng)，用于解決行業(yè)痛點，大幅度提升測試效率。昊量光電（Aunion Tech）的成像亮度計和色度計可以幫助客戶檢測和校正這些新型顯示產(chǎn)品。AU與AUT系列成像亮度計和色度計，可廣泛應(yīng)用在在顯示面板的亮度、色度、均勻性、缺陷檢測、Mura等應(yīng)用領(lǐng)域測試。

AU-2000成像亮度色度計

AUT-2000成像亮度色度計

Mini-LED背光產(chǎn)品的測試

MINI-LED背光測試

Mini-LED背光的缺陷檢測和亮度校正

? 亮/色度測量 Color Measurement

? 缺陷點抓取 Pick out defect LEDs

? 測量整個燈板上每個LED的亮度/光強

? 識別抓取死燈、微亮、過亮LED

? LED亮度均勻性校正/Calibration

? 不同灰階下對每個LED的亮度值進行校正補償使背光均勻

LED燈珠定位排序及亮色度計算

NG燈珠抓取并進行修復(fù)

像素級定位

? 紅/藍(lán)色子像素（不同顏色子像素可分別定位）

? 精確到0.1個像素

? 可適用于異形屏定位

子像素定位紅點表示子像素缺失，綠點表示子像素成功定位。

亮色度及均勻性測試

? 亮度/色度/色溫/主波長

? 均勻性

? 亮度均勻性

? 最大值、最小值、平均值

? 中心點亮度、均勻性

? Hotspot螢火蟲效應(yīng)

? 81點、 135點、 165點等不同POI（關(guān)注點）規(guī)格模板

? 色度均勻性

? CIE 1931 x ，y； CIE 1976 u’, v’； 色溫CCT

? 最大值、最小值、平均值

? 中心點色度、均勻性

? 色差Δuv等

? 合格/不合格判定PASS/FAIL

? 根據(jù)客戶提供的亮度色度范圍來判定合格/不合格

缺陷檢測：昊量光電（Aunion Tech）的成像亮度色度計可以直接檢測每顆LED的亮度值，篩選出過亮或過暗的LED燈珠，也可以檢測各種塊狀的mura。這與對LCD或OLED的進行的點缺陷、線缺陷和mura檢測比較類似;

Demura：也就是消除mura，以使屏幕達(dá)到均勻一致，可以是亮度demura，也可以是色度demura。昊量光電（Aunion Tech）的成像亮度色度計不僅可以校正Mini-LED背光，也可以對LCD/OLED/Micro-LED屏進行demura。

缺陷檢測和Demura

制造過程中，顯示屏難免會產(chǎn)生各種缺陷，如常見的有點缺陷、線缺陷、塊狀類缺陷(如漏光/Mura)等。

除了可以用成像式光度計和軟件算法進行缺陷的檢測外，還可以使用成像式光度計來進行缺陷補償，如業(yè)內(nèi)常稱的“Demura”。Demura工序?qū)LED產(chǎn)品的良率提升是非常關(guān)鍵。針對您的需求，我們還提供更多種類的光學(xué)顯示測試設(shè)備與解決方案。

Demura補償技術(shù)

DEMURA拼接方案

AR/VR測試應(yīng)用

在科技日新月異的今天,增強現(xiàn)實(AR)與虛擬現(xiàn)實(VR)技術(shù)正以前所未有的速度重塑我們的視覺體驗世界。從沉浸式游戲到遠(yuǎn)程教育,從工業(yè)設(shè)計到醫(yī)療培訓(xùn),AR/VR的應(yīng)用場景日益豐富,對顯示質(zhì)量的要求也達(dá)到了前所未有的高度。在這一背景下,如何確保虛擬世界的色彩還原度、亮度均勻性及視覺舒適度成為行業(yè)亟待解決的關(guān)鍵問題。上海昊量光電設(shè)備有限公司,憑借其自主研發(fā)的“昊量光電Aunion Tech（簡稱AUT）”成像亮度色度計,攜手“機器視覺+AI”前沿技術(shù),為AR/VR虛擬顯示領(lǐng)域帶來了革命性的光學(xué)測試解決方案。

NED近眼顯示測試-Eye Box

?Eye Box指的是近眼顯示光學(xué)模組與眼球之間的一塊錐形區(qū)域， 也是顯示內(nèi)容最清晰的區(qū)域。

?如果接收眼與輸出區(qū)域的中心對齊，則將獲得完美的圖像。 當(dāng)眼睛向側(cè)面或上下移動時，在每個方向上的某個點處， 圖像將變差，直到無法接受為止。超出該區(qū)域的范圍可能會呈現(xiàn)圖像扭曲、顯色錯誤， 甚至不顯示內(nèi)容等問題。將所有這些點串在一起會形成一個稱為“Eye Box”的形狀。

VR

AR

XR光學(xué)測試

測試內(nèi)容：

投影顯示

亮度、色度均勻性

FOV、虛像距

畸變、色差

對比度

清晰度（MTF）

漏光/鬼影

雙目融合/視差

材料

缺陷檢測：臟污、刮傷、異物等

光譜透過率、反射率等

微型顯示屏

亮度、色度均勻性

點、線、 mura缺陷

Demura均勻性校正

測試項目——畸變

測試畫面：點陣圖或棋盤格畫面（白色畫面也可以）

? 整體畸變（橫向畸變與縱向畸變值）

? 圖像檢測找到圖像四個角點及邊；

? 縱向畸變值計算方法

? A=(A1+A2)/2；

? Distortion=(B-A)/B*100%；

? 橫向畸變值相同方法類推

? 局部畸變

? 根據(jù)客戶需求進行局部區(qū)域的畸變計算

測試項目——對比度

測試畫面： W255 、W0

? 靜態(tài)對比度

? 分別測量W255和W0的亮度

? 計算對比度

? 動態(tài)對比度

? 棋盤格畫面分別測試亮區(qū)和暗區(qū)對比度

? 需要進行特殊校正，以減少雜散光干擾導(dǎo)致的對比度指標(biāo)失真

? 整體對比度與局部對比度

? 整體對比度測量中心點亮度對比度

? 局部對比度觀察圖像不同區(qū)域的亮度對比度差異

測試項目——MTF銳度

? MTF銳度測試畫面（可以使用分辨率線對畫面）

? 銳度測量

? 采用SRF刀口法分析方法

? 也可以使用MTF線對分析方法

? 銳度分布

? 分別測量不同區(qū)域的MTF指標(biāo)

虛像距VID測量儀

? 虛像距測量儀

? 高精度電機控制

? 預(yù)標(biāo)定距離信息

? XR眼鏡顯示測試圖

? 電動對焦

? 精確計算VID虛像距

? 精度0.5% @ 1.5m

Micro-LED/OLED 晶圓級測試

Mini/Micro-LED尺寸從mm進入um級別，客戶痛點： 光通量不足、效率低下；昊量光電（Aunion Tech）的高精度成像亮度色度光譜測量系統(tǒng)實現(xiàn)對um級Micro-LED的亮度、色度、波長的 高精度檢測，替代傳統(tǒng)的單顆LED光譜儀+積分球測試方案。

Micro-LED I-V-L-S測試系統(tǒng)

? 可以完整評估Micro/Mini-LED起始點亮、正常點亮、電流電壓線性關(guān)系、極限電流等各個狀態(tài)下I-V-L和光譜數(shù)據(jù)；

? 采用光譜成像色度計方案， 可以解決Micro-LED單顆發(fā)光光通量不足，導(dǎo)致傳統(tǒng)光譜儀+積分球的測量方式無法 測到的問題；

? 最低至0.0001 cd/m2 到千萬cd/m2 的亮度范圍，評估Micro/Mini-LED最低0.0001uA微弱電流到最高10000uA大電流下的不同狀態(tài)；

I-V-L曲線&光譜及色度

多功能易用的軟件界面

光譜型亮度色度計

除了成像式亮度色度計外，我們還推出了精度高、體積精巧（120 x 105 x 45mm (不含鏡頭部分)）、性價比高的光譜式成像亮度計，非常適合高精度的生產(chǎn)線在線測試。

AUT SP-100經(jīng)過了嚴(yán)格的校正和測試,滿足NIST/NIM等計量體系的標(biāo)準(zhǔn)要求。同時，我們可根據(jù)客戶需求，對AUTSP-100進行一定光譜匹配校正，以匹配客戶現(xiàn)有測試體系中所使用的CS-3000/SR-5AS/PR-788等高精度光譜儀器的數(shù)據(jù)。經(jīng)實測數(shù)據(jù)驗證，無論是測試OLED/LCD還是LED顯示屏，AUTSP-100都可以實現(xiàn)與CS-3000/SR-5AS/PR-788等儀器高度一致的精度?。▽崪y樣品亮度100cd/m2時，亮度誤差l<±2%，色度誤差<±0.0015)。

AUT SP-100光譜型亮度色度計

除了上述指標(biāo)，我們還可以實現(xiàn)其他以下測試指標(biāo)

均勻性：評估不同位置亮度、色度均勻性指標(biāo);

對比度：評估顯示屏較亮和較暗的亮度比對;

白平衡：評估顯示屏的紅/綠/藍(lán)三種基本色的顯示比例，讓顏色準(zhǔn)確顯示;

伽馬Gamma測試：可以理解為不同亮度灰階下的白平衡，讓顏色在不同亮度下都能準(zhǔn)確顯示;

色域：評估顯示屏能顯示的紅/綠/藍(lán)三種基本色組成的色空間的面積;

可視角：評估顯示屏在不同角度下亮度和色度變化;

閃爍度：評估顯示畫面亮度隨時間的波動情況。

如果您對屏幕測試相關(guān)內(nèi)容感興趣，或者有相關(guān)方便的測試需求，請與我們聯(lián)系！