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解決方案丨以光譜共焦技術(shù)破解光學(xué)膜材測量痛點(diǎn),助力 AR/VR/XR 體驗(yàn)革新

Phoskey ? 來源:光子精密PHOSKEY ? 作者:光子精密PHOSKEY ? 2025-12-04 08:10 ? 次閱讀
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偏振片(也稱為偏光膜或偏光片)在AR/VR/XR眼鏡中實(shí)現(xiàn)著提升圖像清晰度與對(duì)比度,過濾雜亂光線,優(yōu)化視覺效果,實(shí)現(xiàn)立體視覺等重要作用。

而在偏振片生產(chǎn)過程中,厚度是最基礎(chǔ)且關(guān)鍵的尺寸指標(biāo)。當(dāng)前傳統(tǒng)檢測方式面臨挑戰(zhàn):

×接觸損傷風(fēng)險(xiǎn):傳統(tǒng)接觸式測量易劃傷光學(xué)膜層

× 數(shù)據(jù)可靠性低:高反光與透明層疊結(jié)構(gòu)使傳統(tǒng)光學(xué)測量受干擾

×多層測量難:偏振片的多層復(fù)合結(jié)構(gòu)使單層厚度測量困難

× 生產(chǎn)效率低:難以適配高速產(chǎn)線實(shí)時(shí)質(zhì)量監(jiān)控需求,抽樣檢測易因漏檢導(dǎo)致批量不良

光子精密高精度厚度檢測方案 wKgZPGkw0oeAdFSiAAkFV9YAaHA303.png 檢測架構(gòu)

針對(duì)生產(chǎn)過程中對(duì)高效高精度厚度檢測的迫切需求。光子精密提出基于CD-5000系列光譜共焦位移傳感器的厚度檢測方案,并已在典型客戶現(xiàn)場完成驗(yàn)證,為客戶實(shí)現(xiàn)從抽樣到全檢的質(zhì)控升級(jí)。

01 檢測需求 wKgZPGkw0oeAHRN9ABEDd64WMVo237.png 檢測樣品

測量項(xiàng)目:偏振片厚度(含透明薄膜)

工件特性:多層復(fù)合結(jié)構(gòu),含高反光、透明膜層

精度要求:重復(fù)性≤0.02mm

速度要求:≥100kHz

02 方案優(yōu)勢

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?無損測量:非接觸式測量避免膜層劃傷,檢測合格率顯著提升。

?多層測量技術(shù):可識(shí)別5層透明/半透明介質(zhì)厚度,滿足復(fù)合結(jié)構(gòu)工藝需求。

?數(shù)據(jù)可靠穩(wěn)定:±0.35μm線性度與多重抗干擾技術(shù)可將誤差穩(wěn)定在0.2mm以下。

?效率全面躍升:260kHz采樣頻率,適配高速產(chǎn)線檢測需求。

03 方案架構(gòu)與原理

兩組CD-5000光譜共焦傳感器上下對(duì)射布置于測量區(qū),配合膜片水平運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)快速多點(diǎn)測量。

此架構(gòu)可消除傾角影響,即使膜片輕微翹曲/傾斜,也可直接獲取真實(shí)厚度,無需傾角補(bǔ)償。

wKgZPGkw0oiAQ0NUAAr7F6F0yaA569.png 實(shí)測過程圖 經(jīng)編碼器或定時(shí)觸發(fā),傳感器以100kHz頻率對(duì)膜片9個(gè)點(diǎn)位快速采集,控制器實(shí)時(shí)接收數(shù)據(jù)并計(jì)算厚度值,同步輸出最大/最小/平均值/差值。 檢測結(jié)果:9個(gè)點(diǎn)位10次測量最大極差僅0.0016mm。 wKgZPGkw0oiATqZhAAbZfQcPPS0172.png 實(shí)測數(shù)據(jù)(單位:mm)

04 應(yīng)用落地:全工序檢測覆蓋

1)原材料來料檢驗(yàn)

可對(duì)來料進(jìn)行快速、無損的精密測量,確保檢測率提至99.99%。

2)核心工藝厚度變化監(jiān)控

批量生產(chǎn)中,集成多傳感器于檢測臺(tái),一次性完成厚度、平面度、翹曲度等多參數(shù)測量,數(shù)據(jù)自動(dòng)判斷并記錄,實(shí)現(xiàn)全流程質(zhì)量追溯。

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3)模切/精密切割后(最終成品檢驗(yàn))

對(duì)切割成AR/VR/XR眼鏡所需形狀和尺寸的單片偏振片成品進(jìn)行厚度檢測與數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出。

若您的產(chǎn)線正面臨偏振片、反射片、Pancake透鏡等光學(xué)膜材的厚度與輪廓檢測挑戰(zhàn),歡迎聯(lián)系光子精密,獲取定制解決方案與實(shí)測驗(yàn)證。

實(shí)測視頻

更多產(chǎn)品詳情介紹,請點(diǎn)擊下方圖片下載

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審核編輯 黃宇

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