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TDK xEVCap Lead Wire薄膜電容器B25654A*001:性能、應(yīng)用與使用指南

h1654155282.3538 ? 2025-12-25 16:30 ? 次閱讀
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TDK xEVCap Lead Wire薄膜電容器B25654A*001:性能、應(yīng)用與使用指南

電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,薄膜電容器是不可或缺的重要元件。今天,我們就來詳細(xì)探討一下TDK的xEVCap Lead Wire系列薄膜電容器B25654A*001,看看它有哪些獨(dú)特的性能和應(yīng)用場景,以及在使用過程中需要注意哪些事項(xiàng)。

文件下載:EPCOS , TDK xEVCap引線薄膜電容器.pdf

一、產(chǎn)品概述

TDK的xEVCap Lead Wire薄膜電容器B25654A*001主要應(yīng)用于主牽引逆變器的直流母線,適用于通過母線排進(jìn)行并聯(lián)連接,廣泛應(yīng)用于乘用車、巴士、卡車、商用車以及機(jī)械設(shè)備等領(lǐng)域。

二、關(guān)鍵特性

2.1 氣候適應(yīng)性

電容器的最高工作溫度可達(dá)105°C(熱點(diǎn)溫度),氣候類別符合IEC 60068 - 1標(biāo)準(zhǔn)的40/105/56要求,能夠在較為惡劣的環(huán)境條件下穩(wěn)定工作。

2.2 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

  • 電介質(zhì):采用聚丙烯(MKP)材料,具有良好的電氣性能。
  • 外殼:使用塑料外殼(UL 94 V - 0),具有阻燃性。
  • 密封:采用環(huán)氧樹脂密封(UL 94 V - 1),能有效保護(hù)內(nèi)部元件。

2.3 性能優(yōu)勢

  • 可擴(kuò)展性與模塊化:能夠根據(jù)不同的功率水平和密度需求進(jìn)行擴(kuò)展和模塊化設(shè)計(jì)。
  • 兼容性:與寬禁帶(WBG)半導(dǎo)體兼容,適應(yīng)未來電子技術(shù)的發(fā)展趨勢。
  • 自愈特性:具備良好的自愈性能,可提高電容器的可靠性和使用壽命。
  • 過壓能力:具有一定的過壓承受能力,能在電壓波動時(shí)保護(hù)自身。
  • 低ESR和低ESL:等效串聯(lián)電阻(ESR)和等效串聯(lián)電感(ESL)較低,有助于提高電路的效率和性能。
  • 環(huán)保合規(guī):符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。
  • 標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證:參考標(biāo)準(zhǔn)為IEC TS 63337:2024,并且符合AEC - Q200 rev E標(biāo)準(zhǔn),適用于汽車等對可靠性要求較高的領(lǐng)域。

2.4 端子設(shè)計(jì)

采用無鉛鍍錫的引線端子,方便焊接和安裝。

三、產(chǎn)品規(guī)格

3.1 尺寸規(guī)格

電容器有不同的版本(A、B、C),其長度、寬度、高度、引腳間距等尺寸各有不同,具體如下表所示: Version Length L Width W1 Width W2 Height H Pitch P X R1 R2 Weight (g)
A 85 47 49.5 40.5 40.5 27 30 22 260
B 97.5 35.5 38 42.5 29 33.5 36 28.3 270
C 109 47 49.5 40.5 40.5 39 42 34 340

引線直徑為?1.2 mm,引線高度為6 mm。重量公差為±15%。

3.2 電氣參數(shù)

不同的額定電壓和電容值對應(yīng)不同的電氣參數(shù),如最大電流、ESL、ESR等,具體如下表所示: CN 120Hz uf Dimensions version Ordering code Imax1) 10 kHz A ESL2) 1 MHz nH ESR3) 10kHz m (一 kA ls kA MOQ pcs
VR(105°) = 500 V DC: VMAx = 525 V4);Vs = 665V
200 A B25654A5207K001 40 17 1.13 2.1 6 64
270 C B25654A5277K001 50 17 0.89 2.8 8 48
VR =650 V DC; VMAx= 750V4):Vs=900V
115 B B25654A6117K001 60 14 0.51 2 6 60
130 A B25654A6137K001 42 17 0.89 1.6 5 64
175 C B25654A6177K001 55 17 0.66 2.2 6.5 48
VR(105°)= 850VDC;VMAx = 890 V4);Vs =1200V
80 B B25654A8806K001 56 14 0.57 1.7 5.2 60
100 A B25654A8107K001 40 17 1.04 1.4 4.2 64
135 C B25654A8137K001 50 17 0.78 1.9 5.8 48
VR (105°)=920 VDC;VMAx =950 V4);Vs =1250V
60 B B25654A9606K001 55 14 0.65 1.5 4.7 60
75 A B25654A9756K001 35 17 1.18 1.2 3.8 64
110 C B25654A9117K001 45 17 0.89 1.6 5.1 48

最小起訂量(MOQ)由4個包裝單元組成。

四、測試與標(biāo)準(zhǔn)

該電容器經(jīng)過了多項(xiàng)測試,以確保其性能符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),具體測試內(nèi)容如下表所示: Test Reference Test condition Performance requirement
Electrical characterization IEC TS 63337:2024 Capacitance at 120 Hz ESR at 10 kHz ·ESL>1MHz . External Insulation to case,VTc,60 seconds: 2830 V if VR≤500VDC otherwise 2x(2xVR+1000)VDC High Voltage between terminals VTT= 1.5*VR,60 seconds High Voltage between terminals and case,60 seconds Rlso at Rated voltage, 60 seconds Within specified limit
High Temperature Exposure (Storage) AEC Q200 Rev E ·Unpowered, 1000 hours Upper temp.: 105° . Measurement at 24+4 hours after test conclusion No visible damage AC/Col ≤5% AESR/ESRol ≤100%
Temperature Cycling AEC Q200 RevE ·Unpowered 1000 Cycles Lower Temp of the chamber: -55° Upper Temp of the Chamber: +105 °C ·Dwell time: 30 minutes Transition Time:1 minute maximum Measurement at least 24 hours after test conclusion No visible damage AC/Col ≤5% AESR/ESRol S 200%
Humidity Bias AEC Q200 Rev E Rated Voltage . 1000 hours 40°C/93%RH Measurement at 24+4 hours after test conclusion No visible damage AC/Col ≤5% AESR/ESRol ≤ 100%
High Temperature Operating Life AEC Q200 Rev E 1000 hours Temperature of the Chamber: 105 °C 100% of rated voltage (VR) Measurement at 24+4 hours after test conclusion No visible damage AC/Col ≤5% AESR/ESRol S 100%
External Visual AEC Q200 Rev E ·Inspect component construction, marking and workmanship Within specified limits
Physical Dimensions AEC Q200 Rev E Verify physical dimensions to the Within specified limits applicable component specification
Terminal Strength for radial THT components AEC Q200 Rev E ·Test Condition A 20N Within specified limit

五、安裝與使用指南

5.1 焊接

  • 可焊性測試:終端引線的可焊性測試符合IEC 60068 - 2 - 20:2008標(biāo)準(zhǔn)的Ta測試方法1。在進(jìn)行可焊性測試前,需將端子線從電容器上切斷,以防止因電容器分解產(chǎn)物影響可焊性。焊接浴溫度為235 ± 5°C,焊接時(shí)間為2.0 ± 0.5 s,浸入深度為距離電容器本體或安裝平面2.0 + 0 / - 0.5 mm。評估標(biāo)準(zhǔn)為新焊料對導(dǎo)線表面的潤濕性達(dá)到90%以上,焊料流動順暢。
  • 焊接熱抗性測試:焊接熱抗性測試符合IEC 60068 - 2 - 20:2008標(biāo)準(zhǔn)的Tb測試方法1。焊接浴溫度為260 ± 5°C,焊接時(shí)間為10 ± 1 s,浸入深度為距離電容器本體或安裝平面2.0 + 0 / - 0.5 mm,需在電容器本體和液態(tài)焊料之間放置厚度為(1.5 ± 0.5) mm的吸熱板。評估標(biāo)準(zhǔn)為目視檢查無可見損壞,電容變化率±5%,損耗角正切符合分段規(guī)范要求。
  • 焊接注意事項(xiàng):薄膜電容器的允許熱暴露負(fù)載主要由最高類別溫度Tmax決定。長時(shí)間暴露在高于該溫度極限的環(huán)境中,會導(dǎo)致塑料電介質(zhì)發(fā)生變化,從而不可逆地改變電容器的電氣特性。在實(shí)際焊接過程中,熱負(fù)載還會受到預(yù)熱溫度和時(shí)間、焊接后強(qiáng)制冷卻、端子特性、電容器高于焊浴的高度、相鄰元件的遮擋、相鄰元件的散熱以及是否使用阻焊涂層等因素的影響。為減少過熱問題,可采取相應(yīng)的對策,如增加或加強(qiáng)冷卻過程。

5.2 清洗

乙醇、正丙醇等溶劑適用于該電容器的清洗,而正丙醇 - 水混合物、含表面張力降低劑的水(中性)則不適用。即使使用合適的溶劑清洗,未涂層的電容器在清洗后可能會出現(xiàn)電氣特性的可逆變化,因此建議在進(jìn)行后續(xù)電氣測試前將元件干燥(如在70°C下干燥4小時(shí))。

5.3 嵌入

在將電容器嵌入成品組件時(shí),需考慮嵌入和固化過程中的化學(xué)和熱影響。推薦使用具有酸酐硬化劑的非柔性環(huán)氧樹脂、化學(xué)惰性的非導(dǎo)電填料,最大固化溫度為100°C。如果要嵌入未涂層的類型,需先咨詢廠家。

六、注意事項(xiàng)

6.1 溫度限制

每個電容器元件內(nèi)部的最大熱點(diǎn)溫度限制為105°C,超過該溫度會顯著縮短電容器的使用壽命。

6.2 安全問題

  • 電容器的電氣或機(jī)械誤用可能會造成危險(xiǎn),如電容器爆裂或熔化材料噴出可能導(dǎo)致人身傷害或財(cái)產(chǎn)損失。因此,要確保電容器外殼良好接地,操作時(shí)遵守適當(dāng)?shù)陌踩A(yù)防措施。
  • 電容器可能在斷開連接后仍帶電,操作時(shí)需小心處理。連接的母線排、電纜和其他設(shè)備也可能帶電。

6.3 熱負(fù)載

安裝電容器后,需驗(yàn)證在極端使用條件下是否超過最大熱點(diǎn)溫度。

6.4 機(jī)械保護(hù)

安裝電容器時(shí),要避免機(jī)械損壞、端子彎曲和外殼凹陷。

6.5 存儲和操作條件

不要在腐蝕性氣氛中使用或存儲電容器,特別是存在氯氣、硫化物氣體、酸、堿、鹽等的環(huán)境。在多塵環(huán)境中,需定期維護(hù)和清潔端子,以避免相間或相與地之間形成導(dǎo)電通路。

6.6 使用壽命和處置

電子元件的使用壽命是有限的,TDK電容器可通過標(biāo)準(zhǔn)的工業(yè)和汽車電子元件處理流程進(jìn)行處置。如果不確定所在國家的相關(guān)規(guī)定,可咨詢當(dāng)?shù)氐膹U物處理專家。

TDK的xEVCap Lead Wire薄膜電容器B25654A*001具有多種優(yōu)異的性能和特點(diǎn),但在使用過程中需要嚴(yán)格遵守相關(guān)的安裝、使用和注意事項(xiàng),以確保其性能和可靠性。希望本文能為電子工程師在設(shè)計(jì)和應(yīng)用該電容器時(shí)提供一些有價(jià)值的參考。你在使用薄膜電容器的過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)留言分享。

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