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CSD19535KTT 100V N - Channel NexFET? Power MOSFET 深度解析

lhl545545 ? 2026-03-05 14:35 ? 次閱讀
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CSD19535KTT 100V N - Channel NexFET? Power MOSFET 深度解析

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,功率 MOSFET 是至關(guān)重要的元件,其性能直接影響著電路的效率和穩(wěn)定性。今天我們就來詳細(xì)剖析一下德州儀器TI)的 CSD19535KTT 100V N - Channel NexFET? Power MOSFET。

文件下載:csd19535ktt.pdf

產(chǎn)品特性

電氣性能卓越

  • 超低柵極電荷:具備超低的 (Q{g}) 和 (Q{gd}),這有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度,使得 MOSFET 在高頻應(yīng)用中表現(xiàn)出色。比如在一些對(duì)開關(guān)速度要求極高的電源轉(zhuǎn)換電路中,超低的柵極電荷能夠顯著降低開關(guān)時(shí)間,提升整體效率。
  • 低導(dǎo)通電阻:當(dāng) (V{GS} = 10V) 時(shí),(R{DS(on)}) 典型值為 2.8 mΩ,這意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET 的功率損耗較小,發(fā)熱也相應(yīng)減少,從而提高了系統(tǒng)的可靠性和效率。

熱性能良好

  • 低熱阻:擁有較低的熱阻,能夠快速將熱量散發(fā)出去,保證 MOSFET 在工作過程中不會(huì)因?yàn)檫^熱而損壞。例如在一些高功率應(yīng)用中,良好的熱性能可以確保 MOSFET 穩(wěn)定工作,延長(zhǎng)其使用壽命。
  • 雪崩額定:具備雪崩額定能力,能夠承受一定的雪崩能量,增強(qiáng)了 MOSFET 在惡劣環(huán)境下的可靠性。

環(huán)保設(shè)計(jì)

  • 無鉛端子電鍍:符合環(huán)保要求,減少了對(duì)環(huán)境的污染。
  • RoHS 合規(guī):滿足 RoHS 標(biāo)準(zhǔn),確保產(chǎn)品在生產(chǎn)和使用過程中符合環(huán)保法規(guī)。
  • 無鹵:不含有鹵素,進(jìn)一步提高了產(chǎn)品的環(huán)保性能。

封裝優(yōu)勢(shì)

采用 (D2PAK) 塑料封裝,這種封裝形式具有良好的散熱性能和機(jī)械穩(wěn)定性,方便安裝和焊接,適用于各種不同的應(yīng)用場(chǎng)景。

應(yīng)用領(lǐng)域

熱插拔應(yīng)用

在熱插拔電路中,CSD19535KTT 能夠快速響應(yīng),實(shí)現(xiàn)設(shè)備的安全插拔,避免因插拔過程中的電流沖擊對(duì)設(shè)備造成損壞。

電機(jī)控制

電機(jī)控制中,MOSFET 的快速開關(guān)特性和低導(dǎo)通電阻可以精確控制電機(jī)的轉(zhuǎn)速和轉(zhuǎn)矩,提高電機(jī)的效率和性能。

二次側(cè)同步整流

在電源的二次側(cè)同步整流電路中,CSD19535KTT 可以降低整流損耗,提高電源的轉(zhuǎn)換效率。

詳細(xì)規(guī)格

電氣特性

參數(shù) 測(cè)試條件 最小值 典型值 最大值 單位
(BV_{DSS})(漏源擊穿電壓) (V{GS} = 0V),(I{D} = 250μA) 100 - - V
(I_{DSS})(漏源泄漏電流) (V{GS} = 0V),(V{DS} = 80V) - - 1 μA
(I_{GSS})(柵源泄漏電流) (V{DS} = 0V),(V{GS} = 20V) - - 100 nA
(V_{GS(th)})(柵源閾值電壓 (V{DS} = V{GS}),(I_{D} = 250μA) 2.2 2.7 3.4 V
(R_{DS(on)})(漏源導(dǎo)通電阻) (V{GS} = 6V),(I{D} = 100A) - 3.2 4.1
(V{GS} = 10V),(I{D} = 100A) - 2.8 3.4
(g_{fs})(跨導(dǎo)) (V{DS} = 10 V),(I{D} = 100 A) - 301 - S
(C_{iss})(輸入電容 (V{GS} = 0V),(V{DS} = 50V),(? = 1MHz) - 6100 7930 pF
(C_{oss})(輸出電容) - - 1160 1510 pF
(C_{rss})(反向傳輸電容) - - 29 38 pF
(R_{G})(串聯(lián)柵極電阻 - - 1.4 2.8 Ω
(Q_{g})(總柵極電荷) (V{DS} = 50V),(I{D} = 100A) - 75 98 nC
(Q_{gd})(柵漏電荷) - 11 - - nC
(Q_{gs})(柵源電荷) - 25 - - nC
(Q_{g(th)})(閾值電壓下的柵極電荷) - 16 - - nC
(Q_{oss})(輸出電荷) (V{DS} = 50V),(V{GS} = 0V) - 210 - nC
(t_{d(on)})(導(dǎo)通延遲時(shí)間) (V{DS} = 50V),(V{GS} = 10V),(I{DS} = 100A),(R{G} = 0Ω) - 9 - ns
(t_{r})(上升時(shí)間) - 18 - - ns
(t_{d(off)})(關(guān)斷延遲時(shí)間) - 21 - - ns
(t_{f})(下降時(shí)間) - 15 - - ns
(V_{SD})(二極管正向電壓) (I{SD} = 100A),(V{GS} = 0V) - 0.9 1.1 V
(Q_{rr})(反向恢復(fù)電荷) (V{DS} = 50V),(I{F} = 100A),(di/dt = 300A/μs) - 435 - nC
(t_{rr})(反向恢復(fù)時(shí)間) - 85 - - ns

熱特性

熱指標(biāo) 最小值 典型值 最大值 單位
(R_{theta Jc})(結(jié)到殼熱阻) - - 0.5 °C/W
(R_{theta JA})(結(jié)到環(huán)境熱阻) - - 62 °C/W

典型 MOSFET 特性

文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,如瞬態(tài)熱阻抗曲線、飽和特性曲線、傳輸特性曲線、柵極電荷曲線等。這些曲線直觀地展示了 MOSFET 在不同條件下的性能表現(xiàn),對(duì)于工程師進(jìn)行電路設(shè)計(jì)和性能評(píng)估非常有幫助。例如,通過 (R{DS(on)}) 與 (V{GS}) 的關(guān)系曲線,工程師可以根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的柵源電壓,以獲得最佳的導(dǎo)通電阻。

產(chǎn)品支持與注意事項(xiàng)

第三方產(chǎn)品免責(zé)聲明

TI 對(duì)第三方產(chǎn)品或服務(wù)的信息發(fā)布不構(gòu)成對(duì)其適用性的認(rèn)可,也不提供相關(guān)的保證或背書。這提醒工程師在使用第三方產(chǎn)品與 TI 產(chǎn)品結(jié)合時(shí),需要自行評(píng)估其兼容性和可靠性。

文檔更新通知

工程師可以通過訪問 ti.com 上的設(shè)備產(chǎn)品文件夾,點(diǎn)擊“Notifications”進(jìn)行注冊(cè),以接收文檔更新的每周摘要。及時(shí)了解文檔更新對(duì)于掌握產(chǎn)品的最新信息非常重要。

支持資源

TI E2E? 支持論壇是工程師獲取快速、經(jīng)過驗(yàn)證的答案和設(shè)計(jì)幫助的重要渠道。在這里,工程師可以搜索現(xiàn)有答案或提出自己的問題,獲得專家的指導(dǎo)。

靜電放電注意事項(xiàng)

集成電路容易受到 ESD 損壞,因此在處理和安裝時(shí)需要采取適當(dāng)?shù)念A(yù)防措施。ESD 損壞可能導(dǎo)致性能下降甚至設(shè)備完全失效,特別是對(duì)于精密集成電路,微小的參數(shù)變化都可能導(dǎo)致設(shè)備無法滿足規(guī)格要求。

封裝與訂購信息

封裝選項(xiàng)

提供了不同的訂購型號(hào),如 CSD19535KTT、CSD19535KTT.B、CSD19535KTTT、CSD19535KTTT.B,它們的封裝均為 DDPAK/TO - 263 (KTT),引腳數(shù)為 2,不同型號(hào)的包裝數(shù)量和載體有所不同。

包裝材料信息

詳細(xì)給出了磁帶和卷軸的尺寸、引腳編號(hào)、象限分配等信息,以及磁帶和卷軸盒的尺寸,為工程師在設(shè)計(jì) PCB 和選擇包裝形式時(shí)提供了參考。

總結(jié)

CSD19535KTT 100V N - Channel NexFET? Power MOSFET 以其卓越的電氣性能、良好的熱性能、環(huán)保設(shè)計(jì)和多樣化的應(yīng)用場(chǎng)景,成為電子工程師在電源轉(zhuǎn)換、電機(jī)控制等領(lǐng)域的理想選擇。在使用過程中,工程師需要充分了解其規(guī)格參數(shù)和特性曲線,同時(shí)注意靜電放電等問題,以確保產(chǎn)品的正常使用和系統(tǒng)的穩(wěn)定性。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過類似 MOSFET 的使用問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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