FQP6N80C / FQPF6N80C N-Channel QFET? MOSFET的技術(shù)解析與應(yīng)用指南
Fairchild Semiconductor已成為ON Semiconductor的一部分,由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購(gòu)的部件編號(hào)需進(jìn)行更改,將原編號(hào)中的下劃線(_)替換為破折號(hào)(-)。下面為大家詳細(xì)介紹FQP6N80C / FQPF6N80C N - Channel QFET? MOSFET這款產(chǎn)品。
文件下載:FQPF6N80C-D.pdf
產(chǎn)品概述
FQP6N80C / FQPF6N80C是N - 溝道增強(qiáng)型功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)經(jīng)過特別設(shè)計(jì),旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。該產(chǎn)品適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。
產(chǎn)品特性
電氣特性
- 高耐壓與大電流:具備800V的耐壓能力,連續(xù)漏極電流在Tc = 25°C時(shí)可達(dá)5.5A,脈沖漏極電流可達(dá)22A,能滿足多種高電壓、大電流的應(yīng)用需求。
- 低導(dǎo)通電阻:在VGS = 10V、ID = 2.75A的條件下,RDS(on)最大為2.5Ω,可有效降低功率損耗,提高系統(tǒng)效率。
- 低柵極電荷:典型柵極電荷為21nC,有助于實(shí)現(xiàn)快速開關(guān),減少開關(guān)損耗。
- 低Crss:典型值為8pF,可降低米勒效應(yīng)的影響,提高開關(guān)速度。
- 100%雪崩測(cè)試:保證了產(chǎn)品在雪崩情況下的可靠性,增強(qiáng)了產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
熱特性
- 熱阻參數(shù):FQP6N80C的結(jié)到外殼熱阻RθJC最大為0.79°C/W,F(xiàn)QPF6N80C / FQPF6N80C的RθJC最大為2.45°C/W。這表明在相同的功率損耗下,F(xiàn)QP6N80C的散熱性能相對(duì)更好。
絕對(duì)最大額定值
| 符號(hào) | 參數(shù) | FQP6N80C | FQPF6N80C/ FQPF6N80CT | 單位 |
|---|---|---|---|---|
| VDSS | 漏源電壓 | 800 | 800 | V |
| ID(連續(xù),Tc = 25°C) | 漏極電流 | 5.5 | 5.5* | A |
| ID(連續(xù),Tc = 100°C) | 漏極電流 | 3.2 | 3.2* | A |
| IDM(脈沖) | 漏極電流 | 22 | 22* | A |
| VGSS | 柵源電壓 | ±30 | ±30 | V |
| EAS | 單脈沖雪崩能量 | 680 | 680 | mJ |
| AR | 雪崩電流 | 5.5 | 5.5 | A |
| EAR | 重復(fù)雪崩能量 | 15.8 | 15.8 | mJ |
| dv/dt | 峰值二極管恢復(fù)dv/dt | 4.5 | 4.5 | V/ns |
| PD(Tc = 25°C) | 功率耗散 | 158 | 51 | W |
| 降額系數(shù)(25°C以上) | 1.27 | 0.41 | W/°C | |
| TJ, TSTG | 工作和儲(chǔ)存溫度范圍 | -55 到 +150 | -55 到 +150 | °C |
| TL | 焊接時(shí)引腳最大溫度(距外殼1/8",5秒) | 300 | 300 | °C |
典型特性
導(dǎo)通特性
從導(dǎo)通區(qū)域特性圖(圖1)可以看出,不同柵源電壓下,漏極電流隨漏源電壓的變化情況。在實(shí)際應(yīng)用中,我們可以根據(jù)所需的電流和電壓來選擇合適的柵源電壓,以實(shí)現(xiàn)最佳的導(dǎo)通性能。
傳輸特性
傳輸特性圖(圖2)展示了在不同溫度下,漏極電流與柵源電壓的關(guān)系。這有助于我們了解器件在不同溫度環(huán)境下的性能變化,從而進(jìn)行合理的設(shè)計(jì)和布局。
導(dǎo)通電阻變化特性
導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵源電壓的變化圖(圖3)表明,導(dǎo)通電阻會(huì)隨著漏極電流和柵源電壓的變化而改變。在設(shè)計(jì)電路時(shí),需要考慮這些因素對(duì)導(dǎo)通電阻的影響,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和效率。
測(cè)試電路與波形
文檔中還給出了多種測(cè)試電路和波形,如柵極電荷測(cè)試電路(圖12)、電阻性開關(guān)測(cè)試電路(圖13)、非鉗位電感開關(guān)測(cè)試電路(圖14)和峰值二極管恢復(fù)dv/dt測(cè)試電路(圖15)。這些測(cè)試電路和波形有助于工程師更好地理解器件的性能和工作原理,從而進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)試和驗(yàn)證。
機(jī)械尺寸
文檔提供了TO - 220和TO - 220F兩種封裝的機(jī)械尺寸圖(圖16和圖17),并給出了相關(guān)的尺寸標(biāo)注和注意事項(xiàng)。在進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)時(shí),需要根據(jù)這些尺寸信息合理布局器件,確保器件的安裝和散熱。
應(yīng)用注意事項(xiàng)
命名規(guī)則變更
由于Fairchild被ON Semiconductor收購(gòu),部分部件編號(hào)中的下劃線(_)將改為破折號(hào)(-),使用時(shí)需到ON Semiconductor網(wǎng)站核實(shí)更新后的器件編號(hào)。
產(chǎn)品使用限制
ON Semiconductor產(chǎn)品不適合用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或類似分類的醫(yī)療設(shè)備,以及人體植入設(shè)備。若買家將產(chǎn)品用于此類非預(yù)期或未授權(quán)的應(yīng)用,需承擔(dān)相應(yīng)的責(zé)任。
性能參數(shù)驗(yàn)證
數(shù)據(jù)手冊(cè)中的“典型”參數(shù)在不同應(yīng)用中可能會(huì)有所變化,實(shí)際性能也會(huì)隨時(shí)間變化。因此,所有操作參數(shù),包括“典型值”,都需要由客戶的技術(shù)專家針對(duì)每個(gè)客戶應(yīng)用進(jìn)行驗(yàn)證。
FQP6N80C / FQPF6N80C N - Channel QFET? MOSFET是一款性能優(yōu)良的功率MOSFET,在開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正和電子燈鎮(zhèn)流器等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景。但在使用過程中,工程師需要充分了解其特性和注意事項(xiàng),以確保產(chǎn)品的正確使用和系統(tǒng)的穩(wěn)定性。大家在實(shí)際應(yīng)用中遇到過哪些關(guān)于MOSFET的問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。
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MOSFET
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關(guān)注
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