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onsemi FQP4N90C與FQPF4N90C MOSFET深度解析

lhl545545 ? 2026-03-29 15:45 ? 次閱讀
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onsemi FQP4N90C與FQPF4N90C MOSFET深度解析

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率開關(guān)器件,其性能直接影響著整個(gè)電路的效率和穩(wěn)定性。今天我們就來深入探討一下安森美(onsemi)的兩款N溝道增強(qiáng)型功率MOSFET——FQP4N90C和FQPF4N90C。

文件下載:FQPF4N90C-D.PDF

一、產(chǎn)品概述

FQP4N90C和FQPF4N90C采用了安森美專有的平面條紋和DMOS技術(shù),這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。它們適用于開關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)以及電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。

二、產(chǎn)品特性

1. 電氣性能

  • 高耐壓與大電流:具備900V的漏源電壓($V{DSS}$)和4.0A的連續(xù)漏極電流($I{D}$),能夠滿足高電壓、大電流的應(yīng)用需求。
  • 低導(dǎo)通電阻:在$V{GS} = 10V$,$I{D}=2.0A$的條件下,$R_{DS(on)}$最大為4.2Ω,有效降低了功率損耗。
  • 低柵極電荷:典型值為17nC,有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
  • 低反饋電容:$C_{rss}$典型值為5.6pF,降低了米勒效應(yīng)的影響,提升了開關(guān)性能。
  • 100%雪崩測試:保證了器件在雪崩情況下的可靠性和穩(wěn)定性。

2. 熱特性

  • 熱阻參數(shù):兩款產(chǎn)品的熱阻參數(shù)有所不同。FQP4N90C的結(jié)到殼熱阻($R{θJC}$)最大為0.89°C/W,F(xiàn)QPF4N90C的$R{θJC}$最大為2.66°C/W。這意味著在相同的功率損耗下,F(xiàn)QP4N90C的結(jié)溫上升相對較慢。

三、絕對最大額定值

在使用這兩款MOSFET時(shí),必須嚴(yán)格遵守其絕對最大額定值,以避免器件損壞。以下是一些關(guān)鍵的絕對最大額定值參數(shù): 參數(shù) FQP4N90C FQPF4N90C 單位
漏源電壓($V_{DSS}$) 900 900 V
連續(xù)漏極電流($T_{C}=25°C$) 4 4* A
連續(xù)漏極電流($T_{C}=100°C$) 2.3 2.3* A
脈沖漏極電流 16 16* A
柵源電壓($V_{GSS}$) +30 +30 V
單脈沖雪崩能量($E_{AS}$) 570 570 mJ
雪崩電流($I_{AR}$) 4 4 A
重復(fù)雪崩能量($E_{AR}$) 14 14 mJ
峰值二極管恢復(fù)$dv/dt$ 4.5 4.5 V/ns
功率耗散($T_{C}=25°C$) 140 47 W
25°C以上降額 1.12 0.38 W/°C
工作和儲存溫度范圍 -55 to +150 -55 to +150 °C
焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8",5秒) 300 300 °C

需要注意的是,超過這些額定值可能會導(dǎo)致器件損壞,影響其可靠性。

四、電氣特性

1. 關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓($B_{VDS}$):在$V{GS} = 0V$,$I{D}=250μA$的條件下,$B_{VDS}$為900V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù):參考25°C,$I_{D}=250μA$時(shí),為1.05V/°C。
  • 零柵壓漏極電流($I_{DSS}$):在$V{DS} = 900V$,$V{GS} = 0V$時(shí),最大為10μA;在$V{DS} = 720V$,$T{C} = 125°C$時(shí),最大為100μA。
  • 柵體正向和反向泄漏電流($I{GSSF}$和$I{GSSR}$):分別在$V{GS} = 30V$,$V{DS} = 0V$和$V{GS} = -30V$,$V{DS} = 0V$時(shí),最大為100nA。

2. 導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓($V_{GS(th)}$):在$V{DS} = V{GS}$,$I_{D}=250μA$的條件下,范圍為3.0 - 5.0V。
  • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻($R_{DS(on)}$):在$V{GS}= 10V$,$I{D}= 2A$時(shí),典型值為3.5Ω,最大值為4.2Ω。
  • 正向跨導(dǎo)($g_{FS}$):在$V{DS} = 50V$,$I{D}= 2A$時(shí),典型值為5S。

3. 動(dòng)態(tài)特性

  • 輸入電容($C_{iss}$):在$V{DS} = 25V$,$V{GS} = 0V$,$f = 1MHz$時(shí),范圍為740 - 960pF。
  • 輸出電容($C_{oss}$):范圍為65 - 85pF。
  • 反向傳輸電容($C_{rss}$):典型值為5.6pF,最大值為7.3pF。

4. 開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時(shí)間($t_{d(on)}$):在$V{DD}= 450V$,$I{D} = 4A$,$R_{G} = 25Ω$的條件下,范圍為25 - 60ns。
  • 導(dǎo)通上升時(shí)間($t_{r}$):范圍為50 - 110ns。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間($t_{d(off)}$):范圍為40 - 90ns。
  • 關(guān)斷下降時(shí)間($t_{f}$):范圍為35 - 80ns。
  • 總柵極電荷($Q_{g}$):在$V{DS} = 720V$,$I{D} = 4A$,$V_{GS} = 10V$時(shí),范圍為17 - 22nC。
  • 柵源電荷($Q_{gs}$):典型值為4.5nC。
  • 柵漏電荷($Q_{gd}$):典型值為7.5nC。

5. 漏源二極管特性

  • 最大連續(xù)漏源二極管正向電流($I_{S}$):為4A。
  • 最大脈沖漏源二極管正向電流($I_{SM}$):為16A。
  • 漏源二極管正向電壓($V_{SD}$):在$V{GS} = 0V$,$I{SD} = 4A$時(shí),最大為1.4V。
  • 反向恢復(fù)時(shí)間($t_{rr}$):在$V{GS} = 0V$,$I{SD} = 4A$,$dI_{F}/dt = 100A/μs$時(shí),最大為450ns。
  • 反向恢復(fù)電荷($Q_{rr}$):為3.5μC。

五、典型特性曲線

文檔中提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線有助于工程師更好地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn),從而進(jìn)行合理的設(shè)計(jì)。

六、封裝信息

1. TO - 220 Fullpack和TO - 220F - 3SG

FQP4N90C采用TO - 220封裝,F(xiàn)QPF4N90C采用TO - 220F封裝,每管裝1000個(gè)。需要注意的是,F(xiàn)QP4N90C已停產(chǎn),若有需求可聯(lián)系安森美代表獲取相關(guān)信息。

2. 封裝尺寸

文檔詳細(xì)給出了TO - 220 Fullpack/TO - 220F - 3SG和TO - 220 - 3LD的封裝尺寸及公差信息,工程師在進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)時(shí)需要參考這些尺寸,確保器件的正確安裝和使用。

七、測試電路與波形

文檔還提供了柵極電荷測試電路、電阻開關(guān)測試電路、非鉗位電感開關(guān)測試電路以及峰值二極管恢復(fù)$dv/dt$測試電路和相應(yīng)的波形圖。這些測試電路和波形有助于工程師理解器件的工作原理和性能,進(jìn)行實(shí)際的測試和驗(yàn)證。

八、總結(jié)

FQP4N90C和FQPF4N90C是兩款性能優(yōu)異的N溝道增強(qiáng)型功率MOSFET,具有高耐壓、低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷等優(yōu)點(diǎn),適用于多種電源和電子設(shè)備應(yīng)用。在使用時(shí),工程師需要嚴(yán)格遵守其絕對最大額定值,參考電氣特性和典型特性曲線進(jìn)行合理設(shè)計(jì),并根據(jù)封裝尺寸進(jìn)行PCB布局。同時(shí),通過測試電路和波形可以更好地驗(yàn)證器件的性能,確保設(shè)計(jì)的可靠性。你在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過類似MOSFET的使用問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。

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