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FDP060AN08A0 / FDB060AN08A0 N - 溝道 PowerTrench? MOSFET 全方位解析

lhl545545 ? 2026-03-31 17:25 ? 次閱讀
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FDP060AN08A0 / FDB060AN08A0 N - 溝道 PowerTrench? MOSFET 全方位解析

在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET 是一種至關(guān)重要的器件,它廣泛應(yīng)用于各種電路中。今天我們就來深入探討 FDP060AN08A0 / FDB060AN08A0 這款 N - 溝道 PowerTrench? MOSFET,看看它有哪些特性和應(yīng)用場景。

文件下載:FDP060AN08A0-D.pdf

公司背景與產(chǎn)品編號變更

Fairchild Semiconductor 已成為 ON Semiconductor 的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分 Fairchild 可訂購的產(chǎn)品編號需要更改。因?yàn)?ON Semiconductor 的產(chǎn)品管理系統(tǒng)無法處理帶有下劃線()的部件命名,所以 Fairchild 部件編號中的下劃線()將更改為破折號( - )。大家可以訪問 ON Semiconductor 網(wǎng)站來驗(yàn)證更新后的設(shè)備編號。

產(chǎn)品基本信息

產(chǎn)品特性

  • 低導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=80A) 的典型條件下,(R_{DS(on)} = 4.8mΩ)。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET 的功率損耗更小,能有效提高電路效率。
  • 低米勒電荷:(Q{G(10)} = 73nC)(典型值,(V{GS}=10V))。低米勒電荷有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
  • 低 (Q_{rr}) 體二極管:這一特性使得 MOSFET 在反向恢復(fù)過程中能更快地恢復(fù)到阻斷狀態(tài),減少反向恢復(fù)損耗。
  • UIS 能力:具備單脈沖和重復(fù)脈沖的雪崩能量能力,這表明該 MOSFET 在承受瞬間高壓沖擊時具有較好的穩(wěn)定性。

應(yīng)用場景

  • 同步整流:適用于 ATX / 服務(wù)器 / 電信電源供應(yīng)器(PSU),能提高電源的轉(zhuǎn)換效率。
  • 電機(jī)驅(qū)動:在電機(jī)驅(qū)動電路中,該 MOSFET 可以實(shí)現(xiàn)高效的功率轉(zhuǎn)換和精確的電機(jī)控制。
  • 不間斷電源(UPS):為 UPS 系統(tǒng)提供穩(wěn)定可靠的功率開關(guān),確保在市電中斷時能及時切換到備用電源。
  • 電池保護(hù)電路:可以有效保護(hù)電池免受過充、過放等損害。

產(chǎn)品參數(shù)

最大額定值

符號 參數(shù) FDP060AN08A0 FDB060AN08A0 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 75 V
(V_{GS}) 柵源電壓 +20 V
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T{C}<127^{circ}C),(V{GS}=10V)) 80 A
連續(xù)((T{amb}=25^{circ}C),(V{GS}=10V),(R_{JA}=43^{circ}C/W)) 16 A
脈沖 見圖 4 A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量(注 1) 350 mJ
(P_{D}) 功率耗散 255 W
25°C 以上降額 1.7 W/°C
(T{J},T{STG}) 工作和存儲溫度 -55 至 175 °C

熱特性

(R_{θJC}) 結(jié)到外殼的熱阻,最大 TO - 220,D2 - PAK 0.58 °C/W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻,最大 TO - 220,D2 - PAK(注 2) 62 °C/W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻,最大 D2 - PAK,1in2 銅焊盤面積 43 °C/W

電氣特性

關(guān)斷特性

  • (B_{V(DSS)})(漏源擊穿電壓):在 (I{D}=250μA),(V{GS}=0V) 時為 75V。
  • (I_{DSS})(零柵壓漏極電流):(V{DS}=60V),(V{GS}=0V),(T_{C}=150^{circ}C) 時為 1μA。
  • (I_{GSS})(柵源泄漏電流):(V_{GS}=±20V) 時為 ±100nA。

導(dǎo)通特性

  • (V_{GS(TH)})(柵源閾值電壓:(V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250μA) 時為 2 - 4V。
  • (r_{DS(ON)})(漏源導(dǎo)通電阻):在不同的 (I{D}) 和 (V{GS}) 條件下有不同的值,例如 (I{D}=80A),(V{GS}=10V) 時為 0.0048 - 0.006Ω。

動態(tài)特性

(C_{ISS}) 輸入電容 (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1MHz) - 5150 - pF
(C_{OSS}) 輸出電容 - 800 - pF
(C_{RSS}) 反向傳輸電容 - 230 - pF
(Q_{g(TOT)}) 10V 時的總柵極電荷 (V{GS}=0V) 到 10V,(V{DD}=40V),(I_{D}=1.0mA) 73 95 nC
(Q_{g(TH)}) 閾值柵極電荷 (V{GS}=0V) 到 2V,(V{DD}) - 10 13 nC
(Q_{gs}) 柵源柵極電荷 (I_{D}=80A) - 29 - nC
(Q_{gs2}) 柵極電荷閾值到平臺 (I_{g}) - 19 - nC
(Q_{gd}) 柵漏“米勒”電荷 - 16 - nC

開關(guān)特性((V_{GS}=10V))

  • (t_{ON})(導(dǎo)通時間):147ns
  • (t_{d(ON)})(導(dǎo)通延遲時間):19ns
  • (t_{r})(上升時間):79ns
  • (t_{d(OFF)})(關(guān)斷延遲時間):37ns
  • (t_{f})(下降時間):38ns
  • (t_{OFF})(關(guān)斷時間):113ns

漏源二極管特性

(V_{SD}) 源漏二極管電壓 (I_{SD}=80A) - - 1.25 V
(I_{SD}=40A) - - 1.0 V
(t_{rr}) 反向恢復(fù)時間 (I{SD}=75A),(dI{SD}/dt = 100A/μs) - - 37 ns
(Q_{RR}) 反向恢復(fù)電荷 (I{SD}=75A),(dI{SD}/dt = 100A/μs) - - 38 nC

典型特性與測試電路

文檔中還給出了一系列典型特性曲線,如歸一化功率耗散與環(huán)境溫度的關(guān)系、最大連續(xù)漏極電流與外殼溫度的關(guān)系等。同時,也提供了多種測試電路和波形,包括非鉗位能量測試電路、柵極電荷測試電路、開關(guān)時間測試電路等,這些對于工程師進(jìn)行電路設(shè)計和性能評估非常有幫助。

熱阻與安裝焊盤面積

熱阻是影響 MOSFET 性能的重要因素之一。在使用表面貼裝器件(如 TO - 263 封裝)時,應(yīng)用環(huán)境會對器件的電流和最大功率耗散額定值產(chǎn)生顯著影響。文檔中給出了熱阻與安裝焊盤面積的關(guān)系,通過特定的公式可以計算不同銅面積對應(yīng)的熱阻。例如:

  • 面積為平方英寸時:(R_{θJA}=26.51 + frac{19.84}{0.262 + Area})
  • 面積為平方厘米時:(R_{θJA}=26.51 + frac{128}{1.69 + Area})

電氣與熱模型

文檔提供了 PSPICE、SABER 電氣模型以及 SPICE、SABER 熱模型。這些模型可以幫助工程師在電路設(shè)計階段進(jìn)行仿真,預(yù)測 MOSFET 在不同條件下的性能,從而優(yōu)化電路設(shè)計。

機(jī)械尺寸與注意事項(xiàng)

文檔給出了 TO - 220 3L 和 TO - 263 2L(D2 - PAK)的機(jī)械尺寸圖,并提醒用戶,封裝圖紙可能會隨時更改,需要聯(lián)系 Fairchild 半導(dǎo)體代表獲取最新版本。同時,封裝規(guī)格不擴(kuò)展 Fairchild 全球條款和條件中的保修范圍。

商標(biāo)與免責(zé)聲明

文檔列出了 Fairchild 半導(dǎo)體及其全球子公司擁有的眾多商標(biāo)。同時,F(xiàn)airchild 半導(dǎo)體保留對產(chǎn)品進(jìn)行更改的權(quán)利,不承擔(dān)因產(chǎn)品應(yīng)用或使用而產(chǎn)生的任何責(zé)任,其產(chǎn)品未經(jīng)授權(quán)不得用于生命支持設(shè)備或系統(tǒng)。此外,F(xiàn)airchild 采取了反假冒措施,鼓勵客戶從授權(quán)渠道購買產(chǎn)品。

在實(shí)際的電子設(shè)計中,我們需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮 FDP060AN08A0 / FDB060AN08A0 的各項(xiàng)參數(shù)和特性,合理選擇和使用這款 MOSFET。大家在使用過程中遇到過哪些問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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