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固態(tài)變壓器(SST)諧振腔設計:利用主變壓器漏感完全取代諧振電感

楊茜 ? 來源:jf_33411244 ? 作者:jf_33411244 ? 2026-04-04 07:39 ? 次閱讀
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傾佳楊茜-死磕固變-基于SiC模塊與磁集成技術的固態(tài)變壓器(SST)諧振腔設計:利用主變壓器漏感完全取代諧振電感的深度解析

固態(tài)變壓器(SST)架構演進與磁集成技術的戰(zhàn)略意義

在現(xiàn)代智能電網(wǎng)、直流微電網(wǎng)、儲能系統(tǒng)以及大功率電動汽車(EV)充電基礎設施中,固態(tài)變壓器(Solid-State Transformer, SST)作為一種能夠替代傳統(tǒng)工頻變壓器的新型電力電子設備,正發(fā)揮著核心樞紐的作用。傳統(tǒng)工頻變壓器體積龐大、重量驚人,且缺乏對電力潮流的主動調(diào)節(jié)能力。相比之下,固變SST不僅能夠實現(xiàn)高效率的電氣隔離與電壓等級變換,還具備潮流主動控制、無功補償、諧波抑制以及交直流混合組網(wǎng)等高級功能 。

隨著應用場景的不斷深化,固變SST的拓撲架構演化出了多種形態(tài),主要可以劃分為單級式、雙級式和三級式架構。單級式固變SST直接通過交-交全橋變換器將低頻交流電轉換為高頻交流電,再經(jīng)過高頻變壓器降壓,其優(yōu)勢在于經(jīng)濟性和極高的功率密度,但由于缺乏直流鏈路(DC Link),其功能受到一定限制 。雙級式固變SST通常包含一個交-直流雙有源橋(DAB)和一個PWM逆變器,這種架構提供了一個低壓直流鏈路,非常適合分布式能源(DER)的接入,但面臨著高紋波電流以及對漏感高度敏感的技術挑戰(zhàn) 。目前在兆瓦級及中高壓配電網(wǎng)中最為成熟的是三級式SST架構,它由PWM整流器、高頻隔離DC-DC變換器(如雙有源橋DAB或LLC諧振變換器)以及PWM逆變器組成。三級式架構提供了一個高壓直流(HVDC)鏈路,為大功率能量路由提供了最大的控制自由度 。

在固變SST的隔離DC-DC變換級中,全橋LLC(Inductor-Inductor-Capacitor)諧振變換器因其優(yōu)異的軟開關特性(初級開關管的零電壓開通ZVS,以及次級整流管的零電流關斷ZCS)、較低的電磁干擾(EMI)以及卓越的滿載效率,成為了工業(yè)界的首選拓撲 。然而,LLC諧振腔的物理實現(xiàn)面臨著巨大的空間與成本挑戰(zhàn)。在傳統(tǒng)的LLC諧振腔設計中,通常需要三個分立的儲能元件:一個獨立的諧振電感(Lr?)、一個諧振電容(Cr?)以及主變壓器及其激磁電感(Lm?)。在動輒幾十千瓦甚至上兆瓦的固變SST模塊中,獨立的諧振電感極大增加了系統(tǒng)的物理體積、重量、銅損以及磁芯損耗,嚴重制約了SST功率密度的進一步躍升 。

為了打破這一物理瓶頸,磁集成技術(Magnetic Integration Technology)提出了一種顛覆性的解決方案:通過特殊設計的高頻變壓器磁路,將諧振電感完全集成到主變壓器的漏感(Leakage Inductance, Lk?)中 。這一技術不僅僅是簡單地去除一個元器件,它要求對變壓器的幾何結構、磁芯氣隙、繞組排布進行重新定義,使得原本作為寄生參數(shù)的漏感成為精確可控的能量傳遞媒介。傾佳電子將深度剖析在基于碳化硅(SiC)寬禁帶半導體模塊構建的高功率固變SST中,如何通過引入分段式磁分流器(Magnetic Shunt)、優(yōu)化解析磁阻模型以及突破熱管理極限,實現(xiàn)主變壓器漏感對諧振電感的完全取代。同時,系統(tǒng)性地論述該技術在非線性輸出電容遲滯效應、ZVS邊界條件以及高頻分布參數(shù)控制等方面的底層物理機制與工程設計準則。

碳化硅(SiC)MOSFET模塊輸出電容特性對諧振腔ZVS邊界的重塑

在探討磁集成變壓器的物理設計之前,必須首先明確SiC MOSFET功率模塊的電氣特性如何重新定義LLC諧振腔的設計邊界。隨著半導體材料科學的突破,SiC器件以其更高的擊穿場強、更快的電子飽和漂移速度和更優(yōu)異的熱導率,全面取代了傳統(tǒng)的硅基IGBT,推動固變SST的開關頻率從幾千赫茲躍升至幾十甚至數(shù)百千赫茲 。然而,SiC模塊極快的開關速度和獨特的非線性寄生電容,對主變壓器集成漏感(Lk?)與激磁電感(Lm?)的取值范圍提出了極其嚴苛的約束條件。傾佳電子力推BASiC基本半導體SiC碳化硅MOSFET單管,SiC碳化硅MOSFET功率模塊,SiC模塊驅動板,PEBB電力電子積木,Power Stack功率套件等全棧電力電子解決方案。?

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基本半導體代理商傾佳電子楊茜致力于推動國產(chǎn)SiC碳化硅模塊在電力電子應用中全面取代進口IGBT模塊,助力電力電子行業(yè)自主可控和產(chǎn)業(yè)升級!

大功率SiC模塊核心參數(shù)演進分析

為了滿足不同功率等級固變SST的需求,半導體制造商開發(fā)了多種封裝和電流容量的SiC MOSFET半橋模塊。對這些模塊核心電學參數(shù)的深度數(shù)據(jù)挖掘,是進行諧振腔磁集成設計的基礎。以下表格詳細展示了應用于高頻變換器的典型1200V級別SiC MOSFET模塊的參數(shù)演進趨勢:

模塊型號 額定電壓 (VDSS?) 連續(xù)漏極電流 (ID?) 典型導通電阻 RDS(on)? (@25°C) 輸出電容 Coss? (@800V) 儲能 Eoss? (@800V) 封裝類型
BMF60R12RB3 1200 V 60 A (@80°C) 21.2 mΩ (Chip) 157 pF 65.3 μJ 34mm
BMF80R12RA3 1200 V 80 A (@80°C) 15.0 mΩ (Chip) 210 pF 80.5 μJ 34mm
BMF120R12RB3 1200 V 120 A (@75°C) 10.6 mΩ (Chip) 314 pF 131 μJ 34mm
BMF160R12RA3 1200 V 160 A (@75°C) 7.5 mΩ (Chip) 420 pF 171 μJ 34mm
BMF240R12E2G3 1200 V 240 A (@80°C) 5.0 mΩ (Chip) / 5.5 mΩ (Terminal) 0.90 nF 未公開 Pcore?2 ED3
BMF240R12KHB3 1200 V 240 A (@90°C) 5.3 mΩ (Chip) / 5.7 mΩ (Terminal) 0.63 nF 263 μJ 62mm
BMF360R12KHA3 1200 V 360 A (@75°C) 3.3 mΩ (Chip) / 3.6 mΩ (Terminal) 0.84 nF 343 μJ 62mm
BMF540R12KHA3 1200 V 540 A (@65°C) 2.2 mΩ (Chip) / 2.6 mΩ (Terminal) 1.26 nF 509 μJ 62mm
BMF540R12MZA3 1200 V 540 A (@90°C) 2.2 mΩ (Chip) 1.26 nF 509 μJ Pcore?2 ED3

數(shù)據(jù)來源深度整合:

從上述數(shù)據(jù)中可以提取出三個具有決定性影響的二階見解(Second-order insights):

第一,隨著模塊電流容量的攀升(從60A擴展至540A),以BMF540R12KHA3為例,其導通電阻顯著下降至2.2 mΩ,從而極大降低了高頻運行下的導通損耗。然而,作為代價,其輸出電容(Coss?)顯著上升至1.26 nF,在800V母線電壓下的寄生電容儲能(Eoss?)飆升至509 μJ。這一現(xiàn)象直接拔高了實現(xiàn)ZVS所需的激磁能量閾值,導致集成變壓器的激磁電感(Lm?)設計空間被嚴重壓縮 。

第二,SiC模塊封裝寄生參數(shù)的影響變得無法忽視。對于數(shù)百安培級別的模塊(如BMF240R12E2G3和BMF360R12KHA3),Chip(裸片)級別的RDS(on)?與Terminal(端子)級別的RDS(on)?存在0.3 mΩ到0.5 mΩ的差異 。在大電流LLC諧振腔中,這種微小的接觸電阻差異會在高頻交流有效值電流的放大下,產(chǎn)生顯著的額外熱耗散。

第三,極低的內(nèi)部柵極電阻(如BMF540R12KHA3內(nèi)部柵阻為1.95 Ω )配合超快的開關時間(如導通延遲時間td(on)?在25°C時僅為119 ns,上升時間tr?僅為75 ns ),使得dv/dt極高。這種極高的dv/dt環(huán)境對集成變壓器初次級之間的隔離電容(耦合電容)提出了極其嚴苛的挑戰(zhàn),如果繞組排布不當,高頻共模位移電流將輕易穿透變壓器,引發(fā)嚴重的電磁干擾(EMI)乃至固變SST系統(tǒng)的控制失效 。

ZVS邊界條件與死區(qū)時間(Dead Time)的能量匹配

在LLC諧振變換器中,ZVS的實現(xiàn)完全依賴于在死區(qū)時間(Dead Time, td?)內(nèi),諧振腔的激磁電流(Im?)能夠完全抽取即將開通的SiC MOSFET的輸出電容電荷,并對同一橋臂中剛剛關斷的MOSFET電容進行充電 。

為了實現(xiàn)完全的ZVS,必須同時滿足電荷條件和能量條件。根據(jù)諧振腔設計原理,激磁電感Lm?的設計目標可以由下式初步判定:

Lm?≤8?CSW??fSW?td??

其中,fSW?為開關頻率,CSW?為開關節(jié)點的等效寄生電容(包含了SiC模塊的Coss?以及變壓器的初級繞組雜散電容) 。

更嚴格的能量條件要求激磁電感中存儲的能量必須大于橋臂上兩個SiC MOSFET電容充電和放電所需的能量總和:

21?Lm?Im,pk2?≥2Eoss?

或者從電荷量角度表達為:

ILm,pk??tdead?≥∑i=1X?Coss,1?ΔVds,i?

在實際的高功率設計中(例如采用輸出電容能量高達509 μJ的540A模塊),上述公式揭示了一個深刻的矛盾:為了實現(xiàn)ZVS,激磁電流的峰值ILm,pk?必須足夠大;這就要求變壓器的激磁電感Lm?必須設計得足夠小。然而,較小的Lm?會導致整個諧振周期的無功環(huán)流(Circulating Current)大幅增加,這不僅會抵消ZVS帶來的效率提升,還會導致SiC MOSFET和變壓器繞組的導通損耗成倍增加 。

因此,低時間等效輸出電容(Co(tr)?)的SiC MOSFET為系統(tǒng)設計提供了巨大的自由度。較小的Co(tr)?意味著可以在保持較短死區(qū)時間的前提下,允許設計人員使用更大的激磁電感Lm?,從而有效削減無功環(huán)流損耗,這是固變SST系統(tǒng)效率能夠逼近甚至突破98%的關鍵前提 。

非線性Coss?遲滯效應與死區(qū)電壓延遲的深層機制

傳統(tǒng)LLC設計通常假設等效電容是一個常數(shù),然而SiC MOSFET的輸出電容Coss?具有極強的非線性。它在漏源電壓(VDS?)較低時呈現(xiàn)出極大的容值,而在電壓升高時急劇衰減 。在利用主變壓器漏感取代諧振電感的高頻系統(tǒng)中,這種非線性行為引發(fā)了兩個關鍵問題。

首先是死區(qū)時間內(nèi)的非線性電壓過渡。當SiC MOSFET關斷時,激磁電流對Coss?充電。由于低壓下Coss?巨大,電壓上升極其緩慢;當電壓越過某一閾值后,Coss?銳減,電壓迅速飆升。這意味著死區(qū)時間的設定不再是一個簡單的線性計算,如果死區(qū)時間設置過長,SiC器件的體二極管將提前導通。由于SiC體二極管的正向壓降極大(通常超過4V),在續(xù)流期間會產(chǎn)生巨大的導通損耗 。因此,精確的死區(qū)時間控制(通常在40ns到100ns之間)必須基于精確的非線性電容積分模型進行動態(tài)調(diào)整 。

其次是Coss?的遲滯損耗(Hysteresis Loss)。最近的實驗研究表明,當SiC MOSFET在零電壓軟開關條件下運行時,其輸出電容的充放電過程并不是完全可逆的。在充放電循環(huán)中,由于介電弛豫和半導體內(nèi)部陷阱電荷的影響,Coss?存在明顯的電荷-電壓(Q-V)遲滯回線,這一回線包圍的面積即為遲滯能量損耗(EDISS?) 。

為了準確評估并補償這種損耗,學術界和工業(yè)界發(fā)展了多種復雜的測量手段,具體對比如下表所示:

測量方法 核心工作原理 優(yōu)勢與特點 局限性與挑戰(zhàn)
Sawyer-Tower (ST) 橋路法 使用一個高精度的外部參考電容與待測器件串聯(lián),施加高頻正弦波電壓,通過測量參考電容兩端的電壓來推算待測器件的電荷量,從而繪制Q-V遲滯回線。 可以直觀地分離出充電和放電的非線性電容行為,能夠直接獲取每一周期的遲滯損耗能量 。 需要大功率的高頻電壓放大器;外部參考電容的微小誤差會極大地扭曲Q-V曲線;通常只能施加正弦波,無法完全模擬方波開關環(huán)境 。
量熱法 (Calorimetric Test) 保持MOSFET溝道關斷,通過外部高頻交流源對其Coss?進行充放電。在穩(wěn)態(tài)運行下,精確測量器件的溫升與熱阻,從而反推耗散在Coss?上的能量。 徹底消除了對外部參考電容和功率放大器的依賴;電壓波形非常接近實際的軟開關轉換過程,結果高度真實 。 測試周期長,需要系統(tǒng)達到熱平衡;對熱力學模型的精度要求極高,容易受到環(huán)境溫度波動的干擾。
非線性諧振法 (NR Test) 利用高頻諧振電感與待測器件的Coss?形成諧振回路。通過分析大信號下的諧振波形衰減或頻偏,來測量器件的大信號輸出電容行為。 不需要高壓直流電源;測試裝置相對簡單,可以克服ST測試在高壓大電流下的諸多限制 。 數(shù)據(jù)處理和參數(shù)辨識算法較為復雜;諧振回路自身的寄生損耗可能被錯誤地歸結為器件的遲滯損耗。

資料整合來源:

對于大面積晶圓的SiC器件,遲滯損耗尤為明顯。例如,在400V至800V的母線電壓、100kHz至200kHz的開關頻率下,遲滯效應可能在每一個開關周期內(nèi)引發(fā)數(shù)微焦耳的能量耗散,這直接等效于數(shù)瓦的固定功率損失 。因此,在進行磁集成設計時,不僅要求漏感Lk?的取值滿足宏觀的阻抗匹配,還要求變壓器的磁動勢能夠提供略高于理論計算值的冗余激磁能量,以徹底克服遲滯損耗帶來的換流阻力,確保ZVS在全負載范圍內(nèi)不丟失 。

磁集成變壓器中漏感的產(chǎn)生機理與傳統(tǒng)結構的局限性

在傳統(tǒng)的工頻或中頻電力變壓器設計規(guī)范中,漏感(Leakage Inductance)一直被視為一個負面的寄生參數(shù)。它會降低變壓器的電壓調(diào)整率,引起額外的無功功率消耗,并由于漏磁場在導線和結構件中產(chǎn)生嚴重的交變電磁力與渦流發(fā)熱 。因此,傳統(tǒng)的變壓器制造工藝總是試圖通過交錯繞組(Interleaving)等手段將漏感降至最低。

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然而,在固變SST的LLC諧振拓撲中,可控的漏感“變廢為寶”,成為了諧振儲能網(wǎng)絡的核心部件。通過精心設計變壓器內(nèi)部的漏磁場分布,可以省去一個笨重的高頻諧振電感,大幅提升系統(tǒng)功率密度 。

漏磁場與漏感的物理積分模型

要利用漏感,首先必須準確理解和計算漏感。變壓器的漏感本質上是由于未能同時交鏈初級和次級繞組的磁通(即漏磁通,?l?)所儲存的磁場能量的宏觀電氣表現(xiàn) 。

從能量的觀點來看,折算到初級側的總漏感(Lk?)可以通過對變壓器窗口區(qū)域以及絕緣區(qū)域內(nèi)儲存的漏磁場能量(Eleakage?)進行體積積分來獲得:

Lk?=Ip2?2Eleakage??=Ip2?2?∫V?21?B?HdV

其中,V為漏磁場分布的有效體積,B為磁通密度,H為磁場強度,Ip?為流過初級繞組的交流電流 。

在傳統(tǒng)的高頻平面變壓器(Planar Transformer)或多層箔式繞組變壓器中,為了抑制趨膚效應(Skin Effect)和鄰近效應(Proximity Effect)帶來的高頻交流阻抗(AC Resistance)劇增,工程師通常采用初、次級繞組緊密交替疊放(如P-S-P-S-P結構)的方式 。這種結構的磁動勢(MMF)在繞組截面上分布極其緊湊,正負安匝數(shù)在很短的物理距離內(nèi)相互抵消,導致內(nèi)部漏磁場能量極小。其實際漏感通常僅為激磁電感的0.5%至2%左右 。

而在固變SST的寬輸入電壓范圍內(nèi)(例如,由于微電網(wǎng)電壓波動,輸入電壓范圍可能在280V至380V或更寬的區(qū)間內(nèi)變動),LLC諧振腔需要一個相對較小的電感比(Ln?=Lm?/Lk?),通常最優(yōu)設計值在3到8之間 。這意味著,為了達到最佳的諧振增益曲線,所需的漏感必須達到激磁電感的12%至33%。顯然,傳統(tǒng)的緊密耦合變壓器結構提供的漏感遠遠達不到這一數(shù)量級 。

分體骨架(Split Bobbin)與非交錯結構的致命缺陷

為了在不增加外部元件的情況下增加漏感,早期的嘗試是采用分體骨架(Split Bobbin)結構,或者將初級和次級繞組分別放置在U型或E型磁芯的兩個不同芯柱上 。通過拉大初級和次級繞組之間的物理距離,迫使大量的磁通穿越空氣閉合,從而人為制造巨大的漏磁場。這種結構的幾何特性類似于平行的傳輸線模型,其漏感值與繞組的物理長度成正比 。

然而,在大功率固變SST應用中,這種單純依靠“拉開距離”來增加漏感的方法存在三個致命缺陷:

漏感控制的非線性與公差失控:由于大部分漏磁通通過空氣或介電常數(shù)不可控的絕緣樹脂閉合,漏感的值對線圈的位置、繞線張力以及絕緣帶的厚度極其敏感。在批量生產(chǎn)中,這種結構的漏感公差往往高達±15%到±20% 。由于LLC變換器的諧振頻率完全由Lk?決定(fr?=2πLk?Cr??1?),巨大的漏感偏差會導致增益曲線嚴重漂移,造成多個固變SST模塊并聯(lián)時的嚴重均流不平衡問題 。

劇烈的邊緣渦流損耗:大跨度的空氣漏磁場缺乏約束,不可避免地會發(fā)散并垂直切入繞組的銅導體中。高頻垂直磁通會引發(fā)極端的渦流效應,使得繞組在高頻下的等效交流電阻(Rac?)飆升至直流電阻的數(shù)倍甚至十倍以上,引發(fā)變壓器災難性的熱失控 。

窗口利用率低下:分體骨架要求預留巨大的安全間隙,導致磁芯窗口的銅填充系數(shù)(Window Utilization Factor)極低,使得變壓器體積急劇膨脹,完全背離了高頻化以縮小體積的初衷 。

因此,必須尋找一種既能大幅度提升漏感,又能將其精確約束并降低附加損耗的革命性磁結構。這便是磁分流器技術誕生的物理背景。

磁分流器(Magnetic Shunt)技術與精確漏感控制的解析模型

為了在高度集成的平面或高頻變壓器中人為、精確地創(chuàng)造所需的大漏感,最前沿的解決方案是在變壓器的初級和次級繞組之間,顯式地插入一層或多層磁性導磁材料,即磁分流器(Magnetic Shunt) 。

磁分流器的核心物理機制是為漏磁通提供一條受控的、低磁阻(Low Reluctance)的“高速公路” 。當原副邊繞組中流過高頻交變電流時,由安匝差(磁動勢 MMF)驅動的漏磁通將不再漫無目的地穿過空氣或絕緣介質,而是被強行“虹吸”并優(yōu)先穿過磁導率遠大于空氣的磁分流器 。由于磁分流器的幾何尺寸及其材料磁導率可以被精確加工,漏感的數(shù)值因此變得高度可預測和可控制,公差可被限制在±5%以內(nèi) 。

漏感的磁動勢(MMF)分布與磁阻模型(Reluctance Model)

為了準確設計包含磁分流器的集成變壓器,必須建立精確的解析計算模型。傳統(tǒng)的單維一維磁動勢法(Method 1)在處理分流器結構時誤差極大。目前工程界廣泛采用的是基于能量法與精細磁阻網(wǎng)絡相結合的模型(Method 2),該模型可以精確預測不同層之間儲能的分布 。

在這個解析模型中,總的磁場儲能被劃分為三個獨立的部分:初級繞組區(qū)域的儲能(Epri?)、次級繞組區(qū)域的儲能(Esec?)以及磁分流器內(nèi)部的儲能(Eshunt?) 。 對于一個平面的疊層結構,利用安培環(huán)路定理,初級繞組內(nèi)部區(qū)域所存儲的磁能量可以通過沿高度方向(x軸)對磁場強度H(x)進行積分求得: E_{pri} = frac{mu_0 l_w b_w}{6} left I_p^2 其中,μ0?為真空磁導率,lw?為磁芯/分流器的縱深,bw?為窗口寬度,Np?為初級繞組層數(shù),kp?為每層匝數(shù),hp?為銅層厚度,hΔp?為層間絕緣厚度,Ip?為初級電流 [8]。次級側能量Esec?的表達式與此具有完全相同的對稱結構。

然而,決定漏感絕對大小的關鍵在于磁分流器內(nèi)部的儲能Eshunt?。由于漏磁通并非百分之百通過磁分流器(部分仍經(jīng)過主磁芯),必須引入磁阻網(wǎng)絡來進行電流分配比例計算。

通過建立等效的磁阻電路,可以定義主磁芯的磁阻為 Rc1? 和 Rc2?,磁分流器的磁阻為 Rs1? 和 Rs2?。分流器磁阻的計算公式為:

Rs?=μ0?μs?lw?hbw??

其中,μs?是磁分流器材料的相對磁導率,h是分流器的物理厚度 。 由此推導出磁動勢在分流器支路中的分配系數(shù) a:

a=Rc1?+Rc2?+Rs1?+Rs2?Rs2??

分流器內(nèi)部的磁場強度 Hsw? 即可由修正后的磁動勢計算得出:

Hsw?=bw?aNp?fp??

最終,通過將三部分的儲能相加,再利用 Lk?=Ip2?2Etotal??,即可獲得精確到個位納亨(nH)級別的漏感解析解。大量基于有限元分析(FEA)的仿真與實體原型(例如使用0.4 mm和1.5 mm厚度不同絕緣層的PCB平面變壓器)測試證實,這種結合了磁阻分配系數(shù)的計算方法,其計算誤差可穩(wěn)定控制在理想范圍內(nèi),是當前指導LLC磁集成參數(shù)選取的最強有力的理論工具 。

鏡像法與高階二維解析模型

除了上述基于一維磁動勢假定的模型外,對于具有更復雜幾何形狀(如中心柱為圓柱形的罐型或殼型變壓器),學術界進一步發(fā)展了更為精密的高階解析模型,以取代耗時巨大的三維有限元仿真。

利用電磁學中的磁鏡像法(Magnetic Image Method),研究人員開發(fā)了Single-2D、Double-2D和Triple-2D解析模型。以Double-2D模型為例,它將三維的復雜漏磁場分解為兩個正交的二維平面(內(nèi)繞組平面IW和外繞組平面OW),分別計算單位長度上的漏感,然后通過幾何角度(如 θ(IW), θ(OW))和漏磁半徑的積分函數(shù)組合起來 :

dl(IW)?=l(IW)?θ(IW)

dl(OW)?=l(OW)?θ(OW)

這種數(shù)學轉化將復雜的空間漏磁積分降維求解,在針對帶有圓形中心柱的部分填充殼式變壓器的漏感預測中,不僅計算速度比3D FEM仿真快幾個數(shù)量級,而且其誤差被驚人地控制在1.25%以內(nèi)。更為精妙的是,這套模型還可以應用于設計“可變電感變壓器(Variable Inductance Transformer, VIT)”,使得通過在中心柱上機械地微調(diào)繞組高度來實時連續(xù)改變漏感成為可能,從而在原型調(diào)試階段提供了無與倫比的靈活性 。

同時,隨著人工智能技術向電力電子底層的滲透,多層感知器(Multi-Layer Perceptron, MLP)神經(jīng)網(wǎng)絡也被結合有限元法用于高頻變壓器漏感的回歸預測 。盡管基于神經(jīng)網(wǎng)絡的方法在計算速度上優(yōu)勢明顯,但在遇到超出訓練數(shù)據(jù)集邊界的新奇幾何拓撲時,其泛化能力存在局限。因此,在嚴謹?shù)墓套僑ST工程設計中,基于物理機制的精細磁阻解析模型依然是不可逾越的黃金基準。

大功率固變SST的高級磁分流器設計:分段式高磁導率結構

了解了磁分流器的工作機制后,在落實到兆瓦級(MW)、數(shù)萬伏特電壓等級的固態(tài)變壓器實體制造時,材料科學的瓶頸成為了橫亙在工程師面前的巨大障礙。

低磁導率材料的局限與工程妥協(xié)

在最理想的磁阻解析模型中,磁分流器應當使用相對磁導率(μs?)較低的材料(如鐵粉芯、某些特殊的高分子復合磁粉膠或非晶態(tài)合金),其相對磁導率通常在幾十到兩百之間 。之所以要求低磁導率,是因為當固變SST在滿載(例如傳輸540A的大電流 )運行時,漏磁通密度極大。如果分流器磁導率過高,大量的磁通將瞬間飽和該層材料,導致漏感非線性驟降,引發(fā)LLC諧振腔失諧與諧振電容的災難性過壓 。

然而,在工業(yè)現(xiàn)實中,高性能的低磁導率功率磁性材料往往價格極其高昂,且市場上極難尋覓到能夠匹配大功率固變SST磁芯(如EE或UU型,橫截面積動輒幾十平方厘米)尺寸要求的大塊成型產(chǎn)品 。

創(chuàng)新突破:分段式高磁導率磁分流器(Segmented Shunt)

為了徹底擺脫對特殊低磁導率材料的依賴,一種極具顛覆性的拓撲結構被提出并證實:分段式高磁導率磁分流器(Segmented High-Permeability Shunt) 。

該技術的核心理念是“以形補質”。設計者放棄了難以獲取的低磁導率材料,轉而采用與主變壓器完全相同的常規(guī)、廉價、易獲取的高頻高磁導率錳鋅鐵氧體(如3C90, 3F36或3F4等,其 μr? 通常在2000以上) 。為了防止這種高磁導率材料在承載漏磁通時迅速飽和,工程師將整塊分流器沿磁路切割成若干個小段(Segments),并在這些分段之間插入極薄的非磁性絕緣墊片(如聚酰亞胺薄膜或特種陶瓷片),從而人為地在分流器內(nèi)部制造出多個串聯(lián)的微小水平氣隙(lg2?) 。

利用等效磁路的串聯(lián)法則,這種帶有分布式氣隙的分流器的等效相對磁導率(μeq?)被大幅度拉低,完美模擬了一整塊低磁導率材料的宏觀電磁行為:

μeq?=μr?lferrite??+μ0?lgap??ltotal??

在此基礎上,可以推導出包含五段式磁分流器的折算到初級的總漏感解析公式:

Llk?=Rm?+2(Rs?+2Rg2?)4Np2??

其中,Np? 為初級匝數(shù),Rm? 為包含核心與垂直氣隙的綜合磁阻,Rs? 為單個鐵氧體分流器小段的磁阻,而 Rg2?=μ0?tsh?Wc?lg2?? 則是人為插入的水平微小氣隙的磁阻 。由于氣隙磁阻 Rg2? 占據(jù)了主導地位,漏感的值變得極其穩(wěn)定,幾乎不受鐵氧體材料因溫度變化導致的磁導率漂移影響。

分段拓撲的深度優(yōu)化與漏磁-激磁解耦

在這種高級結構中,設計者實現(xiàn)了漏感(Lk?)與激磁電感(Lm?)在物理空間上的完美解耦(Decoupling)

激磁電感 Lm? 完全由主磁芯(中心柱)上的垂直主氣隙長度(Lg1?)主導和控制。調(diào)整主氣隙對穿過分流器的漏磁通路徑幾乎沒有影響 。

漏感 Lk? 則完全由分段式磁分流器的物理厚度(tsh?)以及水平微小氣隙(lg2?)決定,同樣獨立于主氣隙的變化 。

這種正交解耦的特性賦予了固變SST磁元件工程師前所未有的設計自由度。他們可以先根據(jù)LLC電路所需的諧振頻率(由 Lr? 決定)精準切削分流器的厚度和段數(shù),固定漏感值;隨后,再根據(jù)SiC MOSFET模塊的死區(qū)時間和ZVS激磁能量要求,獨立打磨主磁芯氣隙以鎖定 Lm? 。

在對拓撲結構進一步的優(yōu)化對比中,有限元分析(FEA)表明,五段式結構(包含四個等距水平氣隙) 優(yōu)于簡單的兩段式結構。五段式設計使得漏磁通在空間中分布更為均勻,最大化地利用了變壓器窗口面積。更關鍵的是,它有效削弱了單一巨大氣隙帶來的集中邊緣散逸磁通(Fringing Flux),從而顯著降低了附近初次級銅繞組中的高頻渦流損耗(Eddy-current losses) 。這一創(chuàng)新使得完全基于標準商用鐵氧體材料、不依賴任何昂貴特種磁材的大功率全集成LLC變壓器成為了可能。

磁集成系統(tǒng)中的電磁-熱多物理場耦合與絕緣架構設計

當我們將數(shù)百微亨的諧振電感功能強行壓縮合并到變壓器的漏感中時,實際上是將原先分散在兩套不同物理器件(變壓器磁芯和諧振電感磁芯)上的熱負荷與高頻電磁應力,殘酷地集中到了一個高密度的單體物理實體上 。這給固變SST的底層熱管理、絕緣設計以及結構力學帶來了空前復雜的挑戰(zhàn)。

邊緣效應(Fringing Effect)與磁熱點(Hot Spots)的抑制

有限元方法(FEM)不僅在計算電磁場分布時不可或缺,在評估磁集成變壓器的熱動力學邊界時同樣發(fā)揮著核心作用 。三維磁場及溫度場耦合模擬清晰地揭示了一個致命隱患:當巨大的漏磁通被強制疏導進入磁分流器時,在磁分流器與主磁芯交接的邊角區(qū)域、以及分段氣隙的斷口處,磁力線會發(fā)生劇烈的彎曲和散逸 。

這種散逸的磁通會造成兩個惡劣后果:

磁芯局部飽和與熱點(Hot Spots)形成:磁通密度的局部集中會導致磁芯尖角處發(fā)生深度飽和,產(chǎn)生極高的局部鐵損,形成難以驅散的熱點。針對部分拉出式(Movable)磁分流器的研究表明,在未倒角的鐵芯末端會出現(xiàn)極端的溫度梯度畸變 。

災難性的高頻鄰近效應:溢出的交變邊緣磁通(Fringing flux)不可避免地會垂直穿透放置在附近的初級和次級大電流銅繞組。高頻交變磁場在導體內(nèi)部誘發(fā)強烈的感應渦流,使得繞組交流電阻(AC Resistance)飆升,導致嚴重的銅損過熱 。

為了化解這一危機,必須在微觀幾何排布上采取極其嚴密的隔離阻斷策略。物理距離是最有效的防御武器。在平面變壓器(Planar Transformer)設計中,必須人為控制原邊繞組與副邊繞組距離磁分流器的物理間距(xp? 和 xs?)。理論和實驗一致證明,將繞組撤離磁分流器的近場輻射區(qū),可以呈指數(shù)級降低穿透導體的法向磁通分量 。盡管這樣做犧牲了寶貴的磁芯窗口利用率(Window Utilization),但這換來了整機發(fā)熱量的大幅下降和連續(xù)工作穩(wěn)定性的提升。

此外,對于承載如BMF540R12MZA3模塊540A額定大電流 的變壓器繞組,傳統(tǒng)的實心銅箔(Copper Foil)已無法承受如此嚴苛的渦流環(huán)境。必須強制采用超細線徑編織的多股絞線(Litz Wire),或者在PCB繞組設計中,通過精密的敷銅雕刻避開已知的高通量密度區(qū)域,從根本上切割渦流的流通路徑 。

應對中高壓挑戰(zhàn):絕緣材料與浸油冷卻(Oil-Immersed Cooling)架構

固態(tài)變壓器的使命是連接中壓電網(wǎng)(如10kV或35kV交流)與低壓直流母線(如800V)。這意味著其核心隔離DC-DC環(huán)節(jié)中的磁集成變壓器的主絕緣,不僅需要承受極高的高頻交變應力,還要承受15kV至100kV之間的靜態(tài)直流和動態(tài)沖擊電壓(dv/dt) 。

在引入磁分流器后,初級和次級繞組在物理空間上被磁分流器人為隔開。這種物理隔離具有極佳的“一石二鳥”效應:它不僅創(chuàng)造了所需的大漏感,更為填充厚重的絕緣介質提供了絕佳的機械空間 。 在數(shù)十千瓦乃至兆瓦級別的固變SST模塊中,面對高頻大電流運作帶來的巨大熱耗散(如ICWT同軸繞組原型在自然對流下熱點溫度可高達170°C ),傳統(tǒng)的環(huán)氧樹脂干式灌封往往難以兼顧導熱與抗局部放電(局放,PD)的雙重需求。

最先進的工程實踐轉向了類似傳統(tǒng)大電網(wǎng)變壓器的浸油冷卻與絕緣架構(Oil-Immersed Cooling and Insulation) 。特種變壓器油具有遠高于空氣和固體樹脂的介電強度,同時由于其高流動性,可以深入到磁分流器氣隙和繞組的微小縫隙中,通過強制對流將最深處“熱點”的熱量源源不斷地帶走。在高達70kVA/10kHz的系統(tǒng)測試中,油冷方案是確保變壓器效率突破99%且絕緣不被高頻擊穿的唯一可行路徑 。

另一方面,在極端要求體積密度的車載或緊湊型應用中,使用聚丙烯(PP,在2mm厚度下提供約40kVp/mm的擊穿強度)或PFA(耐溫高達260°C)進行線圈絕緣包裹,結合極低熱阻的氮化硅(Si3?N4?)AMB陶瓷基板以及液冷冷板將熱量快速傳導出模塊外部,構成了當今高端SiC 固變SST最前沿的熱-電復合絕緣屏障 。

LLC諧振腔系統(tǒng)級全局優(yōu)化與穩(wěn)態(tài)增益控制

孤立地追求一個完美的磁集成變壓器毫無意義,它必須與其驅動的SiC MOSFET模塊和LLC諧振電容形成系統(tǒng)級的深度耦合與閉環(huán)優(yōu)化。利用漏感替代諧振電感不僅改變了物理外觀,更深刻地重塑了固變SST變換器的頻域響應特征和穩(wěn)態(tài)增益邊界。

電感比(Inductance Ratio)的多目標博弈

LLC諧振腔的電壓調(diào)節(jié)能力在根本上受制于電感比 Ln?(即激磁電感 Lm? 與諧振電感 Lr? 的比值,Ln?=Lm?/Lr?)。在漏感完全替代 Lr? 的系統(tǒng)中,即 Ln?=Lm?/Lk?。

從閉環(huán)控制的魯棒性出發(fā),一個較小的電感比 Ln?(例如3到5之間)是高度期望的。由于漏感(諧振電感)足夠大,LLC的增益曲線在頻域上變得極其陡峭。這意味著,當微電網(wǎng)輸入電壓發(fā)生劇烈波動時,固變SST控制系統(tǒng)只需極其微小地改變SiC模塊的開關頻率,即可維持輸出電壓的穩(wěn)如泰山 。這有效避免了變換器進入極端低頻區(qū),從而大幅縮小了磁性器件的體積。

然而,物理法則決定了收益必然伴隨代價。由于集成變壓器的 Lk? 是有限的,為了強行獲得較小的 Ln?,設計者往往不得不壓低主變壓器的激磁電感 Lm? 。這導致了一個極其嚴重的問題:在整個諧振周期的絕大部分時間內(nèi),過小的 Lm? 會在初級回路上引發(fā)巨大且無用的無功激磁環(huán)流(Circulating Current) 。這些環(huán)流不僅在原邊繞組中產(chǎn)生極其可怕的銅損,而且會讓SiC MOSFET長期處于高有效值電流的煎熬中,引發(fā)器件的結溫異常升高 。

漏感寄生效應與極限閾值防線

此外,磁集成設計的一大盲區(qū)在于過度迷信“大漏感”的好處,而忽視了高頻寄生參數(shù)在開關瞬間的反噬。在諸如電流型固變SST(Current-Source SST)或具有飛跨電容特性的某些特殊拓撲中,變壓器的漏感不僅僅作為有用的諧振儲能元件存在,它同時也是一種危險的寄生破壞力量 。

當SiC器件高速關斷時(其內(nèi)部dv/dt往往超過50kV/μs),大體積漏感中未被諧振電容及時吸收的殘余能量,會與半導體模塊及其封裝線路的極微小寄生電容(如上文提及的BMF240R12E2G3模塊幾十皮法的Crss? )發(fā)生猛烈的LC高頻振蕩。這些高頻振鈴在波形上表現(xiàn)為尖銳的電壓過沖(Voltage stress),嚴重時其峰值甚至能達到穩(wěn)態(tài)母線電壓的200% 。這對于耐壓本就緊湊的1200V SiC器件而言是絕對致命的,隨時可能引發(fā)雪崩擊穿 。

因此,系統(tǒng)級設計的黃金法則指出:漏感替代諧振電感的過程決不能毫無節(jié)制。在某些特定的三相交-交(AC-AC)大功率固變SST模塊(如覆蓋1kVA至100kVA區(qū)間)的極限工況研究中,得出了一條殘酷的經(jīng)驗底線——為了保障SiC模塊的絕對安全并抑制寄生振蕩,中頻變壓器的集成漏感值有時必須被死死壓制在激磁電感值的1%以內(nèi) 。在超出此閾值的超大功率隔離應用中,唯一的出路是放棄簡單的單臺大漏感變壓器,轉而采用輸入串聯(lián)輸出并聯(lián)(ISOP)模塊化堆疊架構,或者引入多電平(Multilevel)拓撲陣列,通過將巨大的電磁應力分散到多個較小的隔離磁性單元中,從而在系統(tǒng)架構層面徹底化解單點崩潰的風險 。

結論

在固態(tài)變壓器(SST)的高頻高壓隔離DC-DC轉換階段,基于SiC MOSFET模塊構建的LLC諧振腔是突破傳統(tǒng)電力轉換設備效率與體積極限的核心路徑。本報告的深度解析無可辯駁地表明,依托先進的磁集成技術,利用主變壓器的受控漏感(Lk?)完全取代原本獨立、笨重的高頻諧振電感,絕非單純的元器件縮減,而是一場涵蓋了半導體電荷非線性動力學、三維高頻電磁場重構以及材料熱物理極限的系統(tǒng)性工程革命。

該技術的根本立足點,在于對磁分流器(Magnetic Shunt) 的創(chuàng)新性應用。通過擯棄稀缺且昂貴的低磁導率材料,轉而采用以標準鐵氧體為基底、內(nèi)嵌微小隔離絕緣層的“分段式高磁導率分流器”結構,設計人員成功在變壓器核心內(nèi)部開辟了一條受控的、不飽和的漏磁專屬通道。借助于精確的磁阻網(wǎng)絡解析模型與磁鏡像法,這種結構徹底打破了漏感與激磁電感的天然耦合枷鎖,使得這兩大關鍵儲能參數(shù)能夠在物理空間上分別通過分流器厚度和主磁芯氣隙進行完全正交、獨立且精確的設定。

在此進程中,SiC器件極低的時間等效輸出電容(Co(tr)?)展現(xiàn)了無與倫比的協(xié)同價值。它極大地降低了死區(qū)時間內(nèi)實現(xiàn)零電壓開通(ZVS)所必需的激磁電荷閾值,賦予了磁路設計者利用更高激磁電感來強力壓制無功環(huán)流的自由度。然而,這種深度集成也帶來了局部磁通集中、邊緣效應加劇導致的銅箔渦流熱點,以及復雜非線性遲滯損耗等諸多棘手挑戰(zhàn)。唯有在空間幾何布局上實施嚴格的繞組退讓,采用抗渦流的Litz線或精密PCB繞組,并輔以能夠穿透微小縫隙進行強制熱對流的浸油復合高壓絕緣體系,才能最終確保固變SST在大功率、高電壓、高頻開關的極端電磁環(huán)境下的長效可靠運行。

總而言之,主變壓器漏感對諧振電感的完美替代,標志著高頻電力磁性器件設計哲學從“被動忍受寄生參數(shù)”向“主動定制并剝削寄生參數(shù)”的歷史性跨越。這種深度的多物理場融合設計范式,已成為驅動下一代兆瓦級高密度固態(tài)變壓器從實驗室走向智能電網(wǎng)商用落地的絕對技術基石。

審核編輯 黃宇

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