Onsemi NVMFS4C306N:高性能N溝道MOSFET的設(shè)計(jì)與應(yīng)用解析
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為關(guān)鍵的功率器件,其性能直接影響著整個(gè)電路的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來深入探討Onsemi公司的NVMFS4C306N這款30V、3.4mΩ、71A的單N溝道MOSFET。
文件下載:NVMFS4C306N-D.PDF
1. 產(chǎn)品概述
NVMFS4C306N采用DFN5封裝(SO - 8FL),具有低導(dǎo)通電阻、低電容和優(yōu)化的柵極電荷等特性,能夠有效降低傳導(dǎo)損耗、驅(qū)動(dòng)損耗和開關(guān)損耗。該器件符合AEC - Q101標(biāo)準(zhǔn),具備PPAP能力,并且提供NVMFS4C306NWF可焊?jìng)?cè)翼選項(xiàng),方便進(jìn)行光學(xué)檢查。同時(shí),它是無鉛、無鹵素/BFR且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)保產(chǎn)品。
2. 關(guān)鍵參數(shù)與特性
2.1 最大額定值
- 電壓參數(shù):漏源電壓(VDSS)為30V,柵源電壓(VGS)為±20V。
- 電流參數(shù):在不同溫度下,連續(xù)漏極電流有所不同。TA = 25°C時(shí),ID為20.6A;TA = 100°C時(shí),ID為14.5A。而在TC = 25°C時(shí),ID可達(dá)71A;TC = 100°C時(shí),ID為50A。脈沖漏極電流(IDM)在TA = 25°C、tp = 10μs時(shí)為166A。
- 功率參數(shù):功率耗散在不同條件下也有差異。TA = 25°C時(shí),PD為3W;TC = 25°C時(shí),PD為36.5W。
- 溫度范圍:工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍為 - 55°C至 + 175°C。
2.2 電氣特性
2.2.1 關(guān)斷特性
- 漏源擊穿電壓(V(BR)DSS)在VGS = 0V、ID = 250μA時(shí)為30V,瞬態(tài)漏源擊穿電壓(V(BR)DSSt)在特定條件下為34V,其溫度系數(shù)為14.4mV/°C。
- 零柵壓漏電流(IDSS)在TJ = 25°C、VGS = 0V、VDS = 24V時(shí)為1.0μA,TJ = 125°C時(shí)為10μA。
- 柵源泄漏電流(IGSS)在VDS = 0V、VGS = ±20V時(shí)為±100nA。
2.2.2 導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓(VGS(TH))在VGS = VDS、ID = 250μA時(shí),最小值為1.3V,典型值為2.1V。
- 漏源導(dǎo)通電阻(RDS(on))在VGS = 10V、ID = 30A時(shí),典型值為3.4mΩ;VGS = 4.5V、ID = 30A時(shí),典型值為4.8mΩ。
- 正向跨導(dǎo)(gFS)在VDS = 1.5V、ID = 15A時(shí)為58S。
- 柵極電阻(RG)在TA = 25°C時(shí),典型值為1.0Ω。
2.2.3 電荷與電容特性
- 輸入電容(CISS)在VGS = 0V、f = 1MHz、VDS = 15V時(shí)為1683pF,輸出電容(COSS)為841pF,反向傳輸電容(CRSS)為40pF,電容比(CRSS/CISS)為0.023。
- 總柵極電荷(QG(TOT))在VGS = 4.5V、VDS = 15V、ID = 30A時(shí)為11.6nC,在VGS = 10V、VDS = 15V、ID = 30A時(shí)為26nC。
2.2.4 開關(guān)特性
開關(guān)特性與工作結(jié)溫?zé)o關(guān)。在VGS = 4.5V、VDS = 15V、ID = 15A、RG = 3.0Ω的條件下,導(dǎo)通延遲時(shí)間(td(ON))為10ns,上升時(shí)間(tr)為32ns,關(guān)斷延遲時(shí)間(td(OFF))為18ns,下降時(shí)間(tf)為5.0ns;在VGS = 10V的條件下,td(ON)為8.0ns,tr為28ns,td(OFF)為24ns,tf為3.0ns。
2.3 典型特性
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻與柵源電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓關(guān)系、導(dǎo)通電阻隨溫度變化、電容變化、柵源和漏源電壓與總電荷關(guān)系、電阻性開關(guān)時(shí)間隨柵極電阻變化、二極管正向電壓與電流關(guān)系、最大額定正向偏置安全工作區(qū)、GFS與ID關(guān)系、雪崩特性以及熱響應(yīng)等。這些曲線為工程師在實(shí)際設(shè)計(jì)中提供了重要的參考依據(jù)。
3. 應(yīng)用領(lǐng)域
NVMFS4C306N適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景,如反向電池保護(hù)、DC - DC轉(zhuǎn)換器輸出驅(qū)動(dòng)等。在這些應(yīng)用中,其低導(dǎo)通電阻和低開關(guān)損耗的特性能夠有效提高電路的效率和穩(wěn)定性。
4. 封裝與訂購信息
該器件采用DFN5封裝,有NVMFS4C306NT1G、NVMFS4C306NET1G和NVMFS4C306NWFT1G等型號(hào)可供選擇,均為無鉛產(chǎn)品,采用帶盤包裝,每盤1500個(gè)。
5. 注意事項(xiàng)
- 應(yīng)力超過最大額定值可能會(huì)損壞器件,若超出這些限制,不能保證器件功能正常,可能會(huì)造成損壞并影響可靠性。
- 產(chǎn)品的參數(shù)性能在列出的測(cè)試條件下通過電氣特性體現(xiàn),若在不同條件下工作,性能可能會(huì)有所不同。
- 該器件不推薦用于新設(shè)計(jì),如需相關(guān)信息,請(qǐng)聯(lián)系Onsemi代表。
在實(shí)際設(shè)計(jì)中,電子工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮NVMFS4C306N的各項(xiàng)參數(shù)和特性,合理選擇和使用該器件,以實(shí)現(xiàn)最佳的電路性能。你在使用類似MOSFET器件時(shí),是否也遇到過一些特殊的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)。
-
電子設(shè)計(jì)
+關(guān)注
關(guān)注
42文章
2462瀏覽量
49906
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
解析 NVMFS4C306N:高性能單通道 N 溝道 MOSFET 的卓越之選
Onsemi NVMFS4C306N:高性能N溝道MOSFET的設(shè)計(jì)與應(yīng)用解析
評(píng)論